微波光子矢量网络分析装置及微波器件散射参数的测量方法

专利申请号：CN201810407639.X

公 开 号：CN108614162A

发 明 人：吴龟灵 丁玟 金钲韬 陈建平 

代 理 人：张宁展

代理机构：31317 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙)

专利类型：发明申请

申 请 日：20181002

公 开 日：20180502

专利主分类号：G01R27/28(20060101)

关 键 词：微波源 信号处理模块 信号加载模块 采样模块 矢量网络分析 直接变频结构 超外差结构 测量频率 测试端口 传统网络 待测器件 镜像干扰 散射参数 微波光子 微波器件 微波信号 信号输出 直接采样 分析仪 复杂度 控制端 输出端 变频 功耗 测量 抛弃 

摘      要：一种微波光子矢量网络分析装置及微波器件散射参数的测量方法，装置包括微波源，沿该微波源的信号输出方向依次是信号加载模块、光采样模块和信号处理模块，所述的信号处理模块的输出端分别与所述的微波源和光采样模块的控制端相连；所述的信号加载模块的两个测试端口与待测器件的两端相连。本发明能对微波信号直接采样与变频，抛弃了传统网络分析仪中的超外差结构和/或直接变频结构，在提高测量频率范围、避免镜像干扰等问题的同时，简化了系统的结构，降低了系统的复杂度、成本和功耗等。