边缘传感器的诊断方法及诊断装置

专利申请号：CN200310122080.X

公 开 号：CN1276236C

发 明 人：岡山喜彦 

代 理 人：上海专利商标事务所有限公司包于俊

代理机构：31100 上海专利商标事务所有限公司

专利类型：发明专利

申 请 日：20060920

公 开 日：20031230

专利主分类号：G01B11/02(20060101)

关 键 词：边缘位置 受光 传感器 检测 边缘传感器 受光元件 诊断 边缘检测 间隔排列 排列方向 诊断方法 菲涅耳 衍射 解析 

摘      要：本发明提供一种在边缘传感器检测边缘位置的动作中能方便地诊断其检测可靠性的边缘传感器的诊断方法。采用具有将多个受光元件按照规定的间隔排列成受光面的线状传感器，在检测遮住射入其受光面的入射光的遮挡体在前述受光元件的排列方向上的边缘位置时，解析因遮挡体的边缘产生的菲涅耳衍射而引起的所述线状传感器受光面上的受光图形，以检测前述遮挡物的边缘位置，同时根据前述线状传感器的总受光量，检测出前述遮挡体的边缘位置，将这些检测出的边缘位置互相比较，从而诊断前述线状传感器的边缘检测的可靠性。