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一种双辊测厚装置
专利申请号：CN201220342958.5
公 开 号：CN202692967U
发 明 人：孙圣奇
代 理 人：李荣文
代理机构：13120 石家庄国为知识产权事务所
专利类型：实用新型
申 请 日：20130123
公 开 日：20120716
专利主分类号：G01B21/08(20060101)
关 键 词：基准框架 浮动辊 位移传感器 浮动框架 数据处理系统 测厚装置 片状物料 在线测量 连接 箔带 辊面 双辊 薄膜 接触
摘 要：本实用新型公开了一种双辊测厚装置，它包括设在基准框架上的基准辊和设在浮动框架上的浮动辊，浮动框架位于基准框架上方，通过上下平动机构与基准框架连接，基准辊的辊面和浮动辊的辊面相接触，它还设有基准辊和浮动辊之间的位移传感器，位移传感器与数据处理系统相连接。它结构简单、成本适中，能够对箔带、薄膜等片状物料的厚度进行在线测量。
