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一种毫米波黑体后向电压反射系数的测量方法
专利申请号：CN201110189586.7
公 开 号：CN102353849A
代 理 人：岳洁菱
代理机构：11024 中国航天科工集团公司专利中心
专利类型：发明申请
申 请 日：20120215
公 开 日：20110707
专利主分类号：G01R29/08(20060101)
关 键 词：黑体 电压反射系数 毫米波 矢量网络分析仪 测量及计算 天线的增益 测量方法 测量系统 相位中心 增益修正 搭建
摘 要：本发明公开了一种毫米波黑体后向电压反射系数的测量方法，通过搭建毫米波黑体后向电压反射系数测量系统，矢量网络分析仪（1）测量毫米波黑体后向电压反射系数，确定毫米波黑体后向电压反射系数，完成毫米波黑体后向电压反射系数的测量及计算。本方法可以不需要测量出天线的增益、近场增益修正因子和相位中心等参数，就可以完成毫米波黑体的后向电压反射系数的测量。
