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可容软错误的扫描链触发器

可容软错误的扫描链触发器

专利申请号:CN201210139023.1

公 开 号:CN103391102A

发 明 人:王秋实 冯建华 

专利类型:发明申请

申 请 日:20131113

公 开 日:20120507

专利主分类号:H03M11/20(20060101)

关 键 词:触发器 扫描链 扫描测试 错误处理单元 集成电路技术 扫描测试模式 触发器模块 时序 工作模式 容错模式 低功耗 选择器 多路 功耗 延迟 电路 

摘      要:本发明涉及集成电路技术的可靠性领域。公开了一种可容软错误的扫描链触发器,包括多路选择器(MUX)、并行触发器模块(Multi-FF)、软错误处理单元(C-element)以及保持电路(Keeper)。本发明提供的可容软错误的扫描链触发器有三种工作模式,分别为容错模式、扫描测试模式和低功耗模式。与已有的可容软错误的扫描链触发器(EC design)相比较,本发明在性能(面积、功耗、延迟)得到改善的前提下,功能完全相同,并简化了扫描测试时的控制时序,从原来的4个控制时钟简化为1个控制时钟,使之更容易应用于正常的ATE扫描测试。

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