纳米精度金属线胀系数测量系统

专利申请号：CN201110424315.5

公 开 号：CN102495099A

发 明 人：谭兴文 

代 理 人：康海燕

代理机构：50123 重庆华科专利事务所

专利类型：发明申请

申 请 日：20120613

公 开 日：20111216

专利主分类号：G01N25/16(20060101)

关 键 词：温度控制系统 温度采集系统 金属材料 虚拟平台 平面镜 微系统 杠杆 位置敏感传感器 数据处理模块 温度信号采集 可控硅触发 信号调理板 采集模块 测量系统 加热温度 精确控制 控制信号 纳米精度 位移信号 线胀系数 高精度 金属线 可控硅 热电偶 平行 金属 检测 形象 

摘      要：本发明涉及一种纳米精度金属线胀系数测量系统，包括光杠杆测微系统、温度控制系统和温度采集系统以及虚拟平台。光杠杆测微系统包括平行放置的第一平面镜（M1）和第二平面镜（M2）、位置敏感传感器PSD；温度采集系统包括热电偶和信号调理板；温度控制系统通过所述温度控制系统中的可控硅触发板接收该控制信号，控制控制可控硅的导通和截止进而控制待测金属的加热温度；虚拟平台包括位移信号采集模块、温度信号采集模块、PID调节模块、数据处理模块。本系统能设定和精确控制待测金属材料的温度，并对金属材料的线胀系数进行高精度地测定，检测速度快、精度非常高、可靠性强、形象直观，操作简单。