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内蒙古自治区呼和浩特市赛罕区大学西街235号 邮编: 010021
基于缺陷模式的静态分析方法和工具
专利申请号：CN201510994119.X
公 开 号：CN106919501A
代 理 人：刘东升
代理机构：11011 中国兵器工业集团公司专利中心
专利类型：发明申请
申 请 日：20170704
公 开 日：20151225
专利主分类号：G06F11/36(20060101)
关 键 词：缺陷模式 应用系统 去除 迁移 程序静态分析 兼容性检查 编辑程序 静态分析 匹配成功 缺陷分析 逐行扫描 源程序 遍历 可控 调用 匹配 分析 评估 缺陷模式 去除 程序静态分析 编辑程序 匹配成功 缺陷分析 逐行扫描 源程序 遍历 调用 匹配 分析
摘 要：本发明公开了一种基于缺陷模式的程序静态分析方法和工具，包括：预编辑程序的缺陷模式；遍历文件，找到所需分析的文件；对源程序进行逐行扫描，去除无需分析的代码；进行缺陷分析，调用该缺陷模式与去除代码后的程序进行匹配，如果匹配成功，则说明该文件存在该缺陷。本发明的有益效果在于，本发明的一种基于缺陷模式的静态分析方法和工具，可以实现应用系统的兼容性检查，对迁移前的准备做出指导，对应用系统的自主可控迁移进行评估和指导。
