集成电路通用输入/输出参数自动测试装置及方法

专利申请号：CN201110370610.7

公 开 号：CN102508151A

发 明 人：潘子升 王希清 魏建中 

代 理 人：张宇娟

代理机构：杭州宇信知识产权代理事务所(普通合伙)

专利类型：发明申请

申 请 日：20120620

公 开 日：20111118

专利主分类号：G01R31/317(20060101)

关 键 词：多路选择开关 输入/输出 管脚 数字模拟转换 集成电路 测试验证 电平信号 通用输入 处理器 模拟信号输出 自动测试装置 处理器模块 测试数字 测试效率 测试装置 模拟信号 转换 

摘      要：一种集成电路通用输入输出参数自动测试装置及其方法，该测试装置包括主处理器模块、数字模拟转换模块和第一、第二多路选择开关，主处理器分别控制第一、第二多路选择开关选择被测集成电路的一个输入状态的输入/输出管脚和输出状态的输入/输出管脚，以及发送测试数字信号到数字模拟转换模块并经数字模拟转换模块转换成第一模拟信号输出到第一多路选择开关，输入状态的输入/输出管脚接收第一模拟信号，输出状态的输入/输出管脚输出电平信号，第二多路选择开关将所述电平信号输出到主处理器。采用本发明，集成电路通用输入输出参数在测试验证过程中具有测试效率高、耗时短、精度高以及测试验证成本高的优点。