用于使用分立式接触取样器确定位置以及用于差示扫描量热法系统的自动对准系统

专利申请号：CN201090000783.9

公 开 号：CN202837218U

发 明 人：K.S.费拉拉 M.卡罗扎 

代 理 人：姚李英;杨楷

代理机构：72001 中国专利代理(香港)有限公司

专利类型：实用新型

申 请 日：20130327

公 开 日：20100324

专利主分类号：G01N25/48(20060101)

关 键 词：取样器 轴向 电势 差示扫描量热 计算中心位置 自动对准系统 取样器位置 变化来 电接触 接触点 底面 接触 检测 

摘      要：用于使用分立式接触取样器确定位置以及用于差示扫描量热法系统的自动对准系统包括：将取样器保持在一个电势，且将槽保持在不同的电势，将取样器移动至所选槽上方的估计中心位置，使取样器下降到所选目标槽中，使取样器在正方向和负方向上沿所述第一轴向尺寸和所述第二轴向尺寸移动，直到在取样器处检测到电势变化来指出取样器与所选槽之间的电接触，以及计算沿第一轴向尺寸和第二轴向尺寸的所选槽的中心位置来作为相应轴向尺寸的接触点之间的中点。系统还包括使取样器降低来与所选槽的底面接触且计算沿第三轴向尺寸的中心位置来作为取样器位置上方的预定距离。系统基于槽之间的已知间距和一个或多个所选槽的计算中心位置来确定其它槽的中心位置。