计数X射线量子的电路装置以及特定用途集成电路和系统

专利申请号：CN201010566390.0

公 开 号：CN102135626A

发 明 人：斯蒂芬·卡普勒 卡尔·斯蒂尔斯托弗 

代 理 人：谢强

代理机构：11105 北京市柳沈律师事务所

专利类型：发明专利

申 请 日：20110727

公 开 日：20101126

专利主分类号：G01T1/17(20060101)

关 键 词：比较器 检测器元件 量子 连接 电路装置 能量范围 能量阈值 电路 计数器 相互逻辑 采集 历程 

摘      要：本发明涉及一种带有多个检测器元件的电路装置，其中每个检测器元件(d(m，n))采集的X射线量子生成信号历程(16)，并且每个检测器元件(d(m，n))具有如下电路装置：检测器元件(d(m，n))与至少一个带有在测量的X射线量子的能量范围内的第一能量阈值(E1、E2)的第一比较器(K1、K2)以及带有在测量的X射线量子的能量范围以上的第二能量阈值(E3、E4)的第二比较器(K3、K4)连接，至少两个比较器(K1、K2；K3、K4)相互逻辑联系，其中至少一个第一比较器(K1、K2)和第二比较器(K3、K4)与XOR电路的输入连接，并且每个与第一比较器(K1、K2)连接的XOR电路与严格地一个边沿敏感的计数器(Z1、Z2)连接。