2016年9月19日‐21日，第六届国际测试自动化与仪器仪表学术会议（IS T A I’2016）在北京湖北大厦成功举办。本届会议由中国仪器仪表学会主办，北京信息科技大学承办，并由中国仪器仪表学会电子测量与仪器分会组织，由毫米波遥感技术...
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2016年9月19日‐21日，第六届国际测试自动化与仪器仪表学术会议（IS T A I’2016）在北京湖北大厦成功举办。本届会议由中国仪器仪表学会主办，北京信息科技大学承办，并由中国仪器仪表学会电子测量与仪器分会组织，由毫米波遥感技术重点实验室、现代测控技术教育部重点实验室、网络文化与数字传播北京市重点实验室、机电系统测控北京市重点实验室、美国计算机测量组织、美国硅谷科技协会共同协办，同时获得了《仪器仪表学报》、《电子测量与仪器学报》、INSTRUMENTATION 、《电子测量技术》、《国外电子测量技术》以及中国仪器与测量网等媒体的大力支持。大会荣誉主席、中国计量科学研究院首席研究员、中国工程院李天初院士，法国南茜大学 O m ar Elmazria教授，日本福井大学 Kouki Nagmune教授，韩国釜山大学Tae‐Wan Ku教授，大会主席、北京信息科技大学副校长许宝杰，中国仪器仪表学会学术产业战略研究院副院长汪晓东，北京信息科技大学计算机学院院长李宁，西安理工大学柯熙政教授，美国 A10 Networks公司及其代表等出席了本次自动化测试与仪器的行业盛会。
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