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CCD自准直仪图像细分处理技术研究
CCD自准直仪图像细分处理技术研究
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中国光学学会光电技术专业委员会成立二十周年暨第十一届全国光电技术与系统学术会议
作者： 徐丽勤 林家明 何川 沙定国 北京理工大学光电工程系
自准直仪是光学测量中重要的测量仪器之一。应用CCD探测器作为成像器件,是实现自准直仪自动测量的有效途径之一。本文应用亚像素图像细分定位原理,提出了相应的处理算法,并编制了相应的图像处理软件。模拟标准图像,通过软件处理,给出相... 详细信息
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亚毫米尺度双面金属波导及其超高阶模的研究
亚毫米尺度双面金属波导及其超高阶模的研究
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中国光学学会光电技术专业委员会成立二十周年暨第十一届全国光电技术与系统学术会议
作者： 曹庄琪 陆海峰 李红根 邓晓旭 沈启舜 上海交通大学
本文提出了一种新型的亚毫米尺度的双面金属包覆波导,并利用自由空间耦合技术实现了该波导中超高阶模的激发。以超高阶模的特殊性质为基础,在实验中演示了可调谐且偏振不灵敏的超窄带滤波和梳状滤波。
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我国半导体激光器的新进展(报告内容摘要)
我国半导体激光器的新进展(报告内容摘要)
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中国光学学会光电技术专业委员会成立二十周年暨第十一届全国光电技术与系统学术会议
作者： 陈良惠 中国科学院半导体研究所纳米光电子实验室
半导体激光器面世至今已过40年,在信息时代的技术支撑和建立和谐社会方面都发挥了越来越重要的作用,可以说已进入世界的各个角落,已进入千家万户。本文简要介绍半导体激光器的发展历史、技术的进步和应用市场的发展,进而重点介绍我国半...
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太赫兹辐射对包装材料透射特性的研究
太赫兹辐射对包装材料透射特性的研究
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中国光学学会光电技术专业委员会成立二十周年暨第十一届全国光电技术与系统学术会议
作者： 王新柯 任荣东 赵国忠 耿玉珍 李福利 首都师范大学物理系
本文报道了太赫兹辐射对包装材料透射特性的实验测量,得到了它们的吸收系数和折射率曲线。实验表明,太赫兹辐射对大多数的包装材料有很高的穿透特性,可以用于对包装材料内部的物体进行安全检查。
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反常色散光子晶体光控光开关
反常色散光子晶体光控光开关
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中国光学学会光电技术专业委员会成立二十周年暨第十一届全国光电技术与系统学术会议
作者： 刘江涛 周云松 王福合 顾本源 首都师范大学物理系 中国科学院物理研究所
本文提出了用一维反常色散光子晶体实现高反射率型的光控光开关的原理.选取铯原子蒸汽作为具体的反常色散材料,利用转移矩阵方法计算发现,可以利用泵浦光有效改变一维反常色散光子晶体反射率。
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“光电信息工程”学科专业课程体系的构建
“光电信息工程”学科专业课程体系的构建
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中国光学学会光电技术专业委员会成立二十周年暨第十一届全国光电技术与系统学术会议
作者： 刘文耀 王晋疆 天津大学精密仪器与光电子工程学院
“光电信息工程”学科专业的课程体系的合理构建与优化是办好该学科专业的关键条件之一,是学科专业教学质量和毕业学生质量的保障。天津大学由原来的“光学仪器”专业在社会需求和教学改革潮流的推动下,逐步沿革至今的“光电信息工程”... 详细信息
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前言
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中国光学学会光电技术专业委员会成立二十周年暨第十一届全国光电技术与系统学术会议
作者： 张以谟 丁伯瑜 中国光学学会光电技术专业委员会
二十一世纪是光的世纪,光科技已渗透到科技、生产和生活的许多领域。光科学与其他科学领域的交叉和渗透已是当今科技发展的一大特点。1964年第一个激光器的诞生,光的发展开始逐步改变着人们对光的认识。一个以光科学为基础的理论和科技...
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红外动态图像投影随动系统设计
红外动态图像投影随动系统设计
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中国光学学会光电技术专业委员会成立二十周年暨第十一届全国光电技术与系统学术会议
作者： 曹阳 李林 李卓 北京理工大学光电工程系
本文提出一种基于PMAC数控系统的4轴红外动态图像投影随动系统,用于红外成像制导半实物仿真系统,介绍了该系统的工作原理及硬件和软件的工程实现,硬件由X-Z平移台、二维转台和电控闭环反馈系统构成,控制系统的输入信号由仿真计算机给出... 详细信息
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彩色夜视理论与技术综述
彩色夜视理论与技术综述
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中国光学学会光电技术专业委员会成立二十周年暨第十一届全国光电技术与系统学术会议
作者： 王岭雪 金伟其 王生祥 王霞 石俊生 北京理工大学光电工程系
综述和介绍国内外以及我们对彩色融合算法、系统集成的研究进展,彩色融合算法从伪彩色编码、彩色空间映射、追求图像色彩与观察者的心理记忆色类似,发展到将自然光彩色图像的彩色特征传递给夜视图像.彩色夜视系统也从双波段发展为多波... 详细信息
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关于光电显微仪分辨率的研究
关于光电显微仪分辨率的研究
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中国光学学会光电技术专业委员会成立二十周年暨第十一届全国光电技术与系统学术会议
作者： 李剑白 李小芸 郭荣 罗艳强 侯静芳 赵安庆 江西省科学院 泰豪科技股份有限公司
光电显微仪成像质量评价各项指标中系统成像分辨率仍然是重要指标之一.作者在文中将传统的光学分辨率的像质指标概念推广到光电系统。着重讨论光电显微系统中的空间分辨,密度分辨等,指出,这类系统的空间分辨率受光学系统相对孔径和光电... 详细信息
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