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大会主席致词
大会主席致词
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第一届中国微电子计量与测试技术研讨会
作者： 王小非 国防科技工业微电子一级计量站 中国船舶重工集团公司第七○九研究所
"第一届中国微电子计量与测试技术研讨会"于2008年10月15-16日在武汉隆重召开。在金风习习、秋高气爽的十月,作为本次会议主席,我谨代表会议组委会向出席会议的各位领导和来自全国各地从事微电子计量与测试技术研究
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程序主席致词
程序主席致词
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第一届中国微电子计量与测试技术研讨会
作者： 闵应骅 黎华 沈理 中科院计算所 中国船舶重工集团公司第七〇九研究所 苏州中科集成电路设计中心中科院计算所
欢迎各位领导、专家学者和科研工作者来到武汉参加第一届中国微电子计量与测试技术研讨会。本届会议的主题是"加强学术界和工业界的交流,促进国防微电子计量与测试技术发展",为我国微电子计量与测试领域的学术界和工业界
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微电子计量测试技术初步
微电子计量测试技术初步
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第一届中国微电子计量与测试技术研讨会
作者： 沈森祖 方明 武汉数字工程研究所
本文主要介绍了微电子计量的目的和任务、技术领域和地位、工作和研究范围、单位制、部分专业技术名词和概念以及现行的量值传递方案。供热心研究的人员参考。
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微电子器件检测校准技术研究
微电子器件检测校准技术研究
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第一届中国微电子计量与测试技术研讨会
作者： 肖莹 沈森祖 孙海 武汉数字工程研究所
本文重点讨论了如何对微电子器件进行计量的技术方向,可供有关人员参考。
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国防微电子计量的现状与发展趋势
国防微电子计量的现状与发展趋势
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第一届中国微电子计量与测试技术研讨会
作者： 沈森祖 方明 武汉数字工程研究所
本文从具体的需求分析出发,讨论了国防微电子计量的重要性与特殊性、发展需求、现状与发展趋势,可供有关人员专参考。
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国防微电子计量的量值传递与量值溯源体系研究
国防微电子计量的量值传递与量值溯源体系研究
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第一届中国微电子计量与测试技术研讨会
作者： 沈森祖 张明虎 武汉数字工程研究所
本文主要介绍了国防微电子计量的量值传递和溯源体系设计、体系建设以及与体系建设相关的科研及开发技术。
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舰船微电子器件老化筛选技术研究
舰船微电子器件老化筛选技术研究
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第一届中国微电子计量与测试技术研讨会
作者： 周红 沈森祖 王鲁宁 武汉数字工程研究所
本文主要描述了舰船通用微电子器件的老化筛选技术。具体包括常温初测、低温测试、高温测试、高低温冲击、动态老化、高温存储、检漏和常温终测等。
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纳米时代半导体测试技术的挑战及对策
纳米时代半导体测试技术的挑战及对策
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第一届中国微电子计量与测试技术研讨会
作者： 夏克金 惠瑞捷半导体科技(上海)有限公司(Verigy)
本报告表述了IC产业发展的技术趋势及主要推动因素,探讨纳米时代集成电路测试系统的挑战,并介绍了ATE的体系结构和可扩展测试解决方案。
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从ITRS2007看微电子计量的发展
从ITRS2007看微电子计量的发展
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第一届中国微电子计量与测试技术研讨会
作者： 王酣 中国电子技术标准化研究所
本文介绍了国际半导体技术发展路线图2007年版微电子计量技术的需求、困难和挑战,在分析国内外微电子计量研究现状的基础上,阐述了我国开展微电子计量技术研究的重要性和紧迫性。
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基于微电子标准样片量值传递方法研究
基于微电子标准样片量值传递方法研究
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第一届中国微电子计量与测试技术研讨会
作者： 李强 章晴 石坚 武汉数字工程研究所
本文论述了应用微电子标准样片建立集成电路测试系统计量检定装置,实现集成电路测试系统微电子量值的溯源、健全微电子量值传递体系,解决国防军工集成电路测试系统计量检定问题。
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