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国防微电子计量的量值传递与量值溯源体系研究
国防微电子计量的量值传递与量值溯源体系研究
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第一届中国微电子计量与测试技术研讨会
作者： 沈森祖 张明虎 武汉数字工程研究所
本文主要介绍了国防微电子计量的量值传递和溯源体系设计、体系建设以及与体系建设相关的科研及开发技术。
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舰船微电子器件老化筛选技术研究
舰船微电子器件老化筛选技术研究
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第一届中国微电子计量与测试技术研讨会
作者： 周红 沈森祖 王鲁宁 武汉数字工程研究所
本文主要描述了舰船通用微电子器件的老化筛选技术。具体包括常温初测、低温测试、高温测试、高低温冲击、动态老化、高温存储、检漏和常温终测等。
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纳米时代半导体测试技术的挑战及对策
纳米时代半导体测试技术的挑战及对策
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第一届中国微电子计量与测试技术研讨会
作者： 夏克金 惠瑞捷半导体科技(上海)有限公司(Verigy)
本报告表述了IC产业发展的技术趋势及主要推动因素,探讨纳米时代集成电路测试系统的挑战,并介绍了ATE的体系结构和可扩展测试解决方案。
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微电子测试:产业和研发
微电子测试:产业和研发
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第一届中国微电子计量与测试技术研讨会
作者： 闵应骅 中国科学院计算技术研究所
微电子计量测试是为保证产品质量,军品微电子计量测试是为了国家安全和人民幸福。微电子计量测试要有制度保证,也要有技术支撑。本报告介绍微电子测试的需求、研究的进展及产业的发展情况,国内外情况的对比及目前正着手解决的问题。特... 详细信息
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基于微电子标准样片量值传递方法研究
基于微电子标准样片量值传递方法研究
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第一届中国微电子计量与测试技术研讨会
作者： 李强 章晴 石坚 武汉数字工程研究所
本文论述了应用微电子标准样片建立集成电路测试系统计量检定装置,实现集成电路测试系统微电子量值的溯源、健全微电子量值传递体系,解决国防军工集成电路测试系统计量检定问题。
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从ITRS2007看微电子计量的发展
从ITRS2007看微电子计量的发展
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第一届中国微电子计量与测试技术研讨会
作者： 王酣 中国电子技术标准化研究所
本文介绍了国际半导体技术发展路线图2007年版微电子计量技术的需求、困难和挑战,在分析国内外微电子计量研究现状的基础上,阐述了我国开展微电子计量技术研究的重要性和紧迫性。
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微电子计量测试的质量保证方法研究
微电子计量测试的质量保证方法研究
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第一届中国微电子计量与测试技术研讨会
作者： 周红 肖莹 沈森祖 武汉数字工程研究所
在测试硬件一定前提下,微电子参数计量测试程序本身的质量高低,直接影响到测试结果的质量水平。本文主要讨论了在微电子参数的计量测试程序开发、使用过程中的质量保证方法。可供有关人员参考。
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93000测试程序库设计
93000测试程序库设计
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第一届中国微电子计量与测试技术研讨会
作者： 李轩冕 胡勇 贺志容 武汉数字工程研究所
本文介绍了93000测试程序库的设计背景、特性、实现方法,提出了以八类器件为代表的模板化设计技术,可供有关人员,特别是研制测试程序或测试程序库的人员参考。
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集成电路自动测试设备系统自检的设计
集成电路自动测试设备系统自检的设计
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第一届中国微电子计量与测试技术研讨会
作者： 李呈旺 北京集诚泰思特测试技术有限公司
介绍了自动测试设备系统自检的功能及工作原理,着重讨论了系统自检硬件模块和软件设计的实现方法。在系统自检的同时加入计量的考虑,使其在设备的出厂测试、入厂验收和定期计量时具有很高的应用价值。
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基于ASL3000测试系统的测试程序设计技术规范研究
基于ASL3000测试系统的测试程序设计技术规范研究
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第一届中国微电子计量与测试技术研讨会
作者： 章婷 李轩冕 武汉数字工程研究所
本文是对中国船舶重工集团公司第七〇九研究所微电子测试校准实验室,现行的测试程序设计技术规范研究。适用于在ASL3000测试系统上开发、使用。可供有关人员参考。
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