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  • 53 篇 中文
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53 条 记 录,以下是41-50 订阅
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16位ADC高速通用测试适配器的研究和实现
16位ADC高速通用测试适配器的研究和实现
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第一届中国微电子计量与测试技术研讨会
作者: 胡爱民 汪小庆 李呈旺 北京自动测试研究所
本文介绍了关于ADC高速通用测试适配器的研究和实现,主要介绍了测试ADC芯片静态参数和动态参数两种方法,针对静态参数,提出了用伺服环的方法,采用高精度电压源,高精度电压表和数字比较器的测试原理;针对动态参数,提出了用DDS芯片AD9851... 详细信息
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基于漏电流故障模型的集成电路测试方法研究
基于漏电流故障模型的集成电路测试方法研究
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第一届中国微电子计量与测试技术研讨会
作者: 王香芬 高成 付桂翠 北京航空航天大学工程系统工程系
在现代集成电路测试中,漏电流是项很重要的指标,基于漏电流故障的模型可以快速发现CMOS制造工艺的缺陷。本文首先介绍了漏电流故障模型的特点,阐述了基于漏电流故障模型对集成电路进行漏电流测试测试原理、测试集生成及测试方法。... 详细信息
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16位A/D转换器的测试实现
16位A/D转换器的测试实现
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第一届中国微电子计量与测试技术研讨会
作者: 马宝锋 七七一所可靠性事业部
A/D转换器现在广泛使用于雷达、电视、通信、高速的采集系统中,A/D转换器的速度大部分达1M以上,频率高,又因为所有的ADC的动态性能都随着信号频率的增加而变差,即使输入信号频率未超过采样频率的半,也可能出现误码和漏码现象.其原因... 详细信息
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基于Verigy93000测试系统的向量生成工具研究和实现
基于Verigy93000测试系统的向量生成工具研究和实现
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第一届中国微电子计量与测试技术研讨会
作者: 胡勇 吴丹 李轩冕 武汉数字工程研究所
Verigy93000测试系统(简称V93000测试系统)是当前应用广泛的测试机台,不论在实速器件特性分析还是大批量制造,V93000都能满足业界在性能和成本方面的需求和挑战。然而对于芯片的入厂检测来说,测试向量需要自行开发,手动编写费时费力,因... 详细信息
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基于V93000的高速模数转换芯片静态性能测试与分析
基于V93000的高速模数转换芯片静态性能测试与分析
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第一届中国微电子计量与测试技术研讨会
作者: 高雅 刘亚洲 苏州中科集成电路设计中心
本文针对混合信号电路的静态测试问题基于V93000自动测试系统介绍了两种测试方法,分别针对于量产测试和验证性测试。分析并给出了如何利用这两种方法来测试高速模数转换芯片的静态参数。在针对验证性测试中分别利用了三角波信号和正弦... 详细信息
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CMOS电路瞬态电流测试及其解析模型研究
CMOS电路瞬态电流测试及其解析模型研究
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第一届中国微电子计量与测试技术研讨会
作者: 焦慧芳 陈新军 张晓松 信息产业部电子第五研究所
CMOS电路瞬态电流(IDDT)测试技术,在超高速高可靠芯片故障诊断领域有着良好的应用前景。由于芯片上集成度和工作速度越来越高,IDDT迅速增长,降低了其性能和可靠性,研究IDDT快速准确计算方法具有较强的应用需求。本文介绍了CMOS电路IDDT... 详细信息
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交变微弱磁场标准研究
交变微弱磁场标准研究
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第一届中国微电子计量与测试技术研讨会
作者: 程华富 中国船舶重工集团公司第七一〇研究所
本文介绍了利用带屏蔽装置的无矩磁场线圈复现1×10-11T~3×10-6T交变微弱磁场的方法,包括系统组成、工作原理、测量不确定度评定与验证。该方法成功解决了环境磁场干扰、磁场线圈与屏蔽装置的相互影响等技术难题,使我国的交... 详细信息
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DSP芯片测试向量生成方法
DSP芯片测试向量生成方法
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第一届中国微电子计量与测试技术研讨会
作者: 徐泽群 北京科力测试技术有限责任公司
数字信号处理(Digital Signal Processing,简称DSP)是门涉及许多学科而又广泛应用于许多领域的新兴学科。随着计算机和信息技术的飞速发展,数字信号处理技术应运而生并得到迅速的发展。DSP芯片,也称数字信号处理器,是种特别适合于... 详细信息
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组织机构
大会组织机构
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第一届中国微电子计量与测试技术研讨会
<正>~~
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DSP器件测试解决方案介绍
DSP器件测试解决方案介绍
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第一届中国微电子计量与测试技术研讨会
作者: 马宝锋 七七一所可靠性事业部
数字信号处理器简称DSP(Digital Signal Processor),是专门为快速实现各种数字信号处理算法而设计的,具有特殊的结构,进行高速实时处理的专用微处理器。DSP发展迅速,从最初的TI的2000系列主要面向数字控制功能,到现在6000系列主要面向... 详细信息
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