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Ga(As)Sb/GaAs量子阱量子点光学特性的研究
Ga(As)Sb/GaAs量子阱量子点光学特性的研究
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第十二届全国化合物半导体材料、微波器件和光电器件学术会议
作者: 罗向东 徐仲英 王文新 王玉琦 葛惟琨 中科院半导体研究所超晶格重点实验室(北京) 香港科技大学物理系
本文用稳态和瞬态光谱研究了Ga(As)Sb/GaAs量子阱的能带结构及其相应的发光性质,并报道GaSb/GaAs量子点的自组织生长过程和退火特性.
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IC生产成本管理和成品率
IC生产成本管理和成品率
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第十二届全国化合物半导体材料、微波器件和光电器件学术会议
作者: 李绍武 王静辉 香港兴华半导体工业有限公司 信息产业部电子十三研究所
本文利用成本管理理论研究和分析了IC生产的成本因素.成本函数.固定成本管理.成品率管理.及以成本为量化的盈亏平衡点分析等.并给出了IC制造企业成本管理的必要性和应采取的有效措施和方法.
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InP基PHEMT器件研制
InP基PHEMT器件研制
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第十二届全国化合物半导体材料、微波器件和光电器件学术会议
作者: 李岚 丁奎章 王同祥 刘玉贵 信息产业部电子第十三研究所(河北石家庄)
采用InP基的PHEMT材料,对现有的GaAs工艺进行调整,进行毫米波器件的研制.通过采用台面隔离、快速合金欧姆接触、介质填充及电子束直写制作亚微米栅等先进工艺技术,研制出f达270GHz,f约120GHz的毫米波器件.器件的栅长0.15μm,栅宽为70μm... 详细信息
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GaN MOCVD生长中低温缓冲层生长速率对外延层质量的影响
GaN MOCVD生长中低温缓冲层生长速率对外延层质量的影响
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第十二届全国化合物半导体材料、微波器件和光电器件学术会议
作者: 于广辉 千叶大学电子光情报基础技术研究中心(日本) 中国科学院上海微系统与信息技术研究所信息功能材料国家重点实验室(上海)
本文通过对于生长过程的在位监测,以及生长后的外延片的结晶和表面测量,研究了在MOCVD生长中,研究了低温缓冲层生长速率对于外延层质量的影响.
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宽范围脉冲测量条件下半导体激光器的特性及热阻测量
宽范围脉冲测量条件下半导体激光器的特性及热阻测量
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第十二届全国化合物半导体材料、微波器件和光电器件学术会议
作者: 张永刚 南矿军 何友军 李爱珍 中国科学院上海微系统与信息技术研究所信息功能材料国家重点实验室(上海)
本文介绍了基于宽范围脉冲测量条件下的半导体激光器热阻测量方案以及具有宽范围和大电流驱动能力、能覆盖从可见光至中红外波段的半导体激光器测量表征系统,并给出了具体测量实例.
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<'29>Si<'+>注入n-GaAs欧姆接触研究
<'29>Si<'+>注入n-GaAs欧姆接触研究
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第十二届全国化合物半导体材料、微波器件和光电器件学术会议
作者: 李冰寒 夏冠群 周健 刘文超 中国科学院上海微系统与信息技术研究所(上海)
本文系统研究了离子注入n-GaAs材料的欧姆接触性质.采用非相干光快速合金化方法实现了AuGeNi/Au与Si注入掺杂n-GaAs之间性能良好的欧姆接触.在快速合金化条件下,比接触电阻与Si注入的剂量和能量无关,比接触电阻均在3×10Ω·cm... 详细信息
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提高光刻分辨率的光刻技术
提高光刻分辨率的光刻技术
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第十二届全国化合物半导体材料、微波器件和光电器件学术会议
作者: 冯伯儒 张锦 四川大学理系(中国成都) 宗德蓉 蒋世磊 苏平 中国科学院光电技术研究所微细加工光学技术国家重点实验室(中国成都) 四川大学物理系(中国成都)
本文简要论述提高光刻分辨率的几种所谓增强光刻技术,如相移掩模技术,离轴照明和光学邻近效应校正的基本原理和相关技术.
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GaAs(110)衬底GaN薄膜的制备与特性研究
GaAs(110)衬底GaN薄膜的制备与特性研究
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第十二届全国化合物半导体材料、微波器件和光电器件学术会议
作者: 杨莺歌 马洪磊 薛成山 庄惠照 郝晓涛 马瑾 山东大学物理与微电子学院(济南) 山东师范大学半导体研究所(济南)
本文报道了用溅射后退火反应法在GaAs(110)衬底上制备的高质量GaN薄膜.XRD,XPS,TEM测量结果表明该方法制备的GaN是沿c轴方向生长的六角纤锌矿结构的多晶薄膜.在室温下,PL测量发现位于368nm处的强光致发光峰.
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支撑光网络发展的光电器件研发现状与趋势
支撑光网络发展的光电子器件研发现状与趋势
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第十二届全国化合物半导体材料、微波器件和光电器件学术会议
作者: 王启明 中国科学院半导体研究所(北京) 集成光电子国家重点联合实验室
本文从密集波分复用(DWDM)光网络的发展需求出发,评述了目前支撑光网络关键性光电器件的发展现状,指出光器件集成芯片,光电子系统集成芯片,尤其是以Si为平台的系统集成芯片和规模化产品技术的研发是未来光电子的发展趋向.
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GaAs FET失效机理及快速评价实验技术的研究
GaAs FET失效机理及快速评价实验技术的研究
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第十二届全国化合物半导体材料、微波器件和光电器件学术会议
作者: 李志国 宋增超 孙大鹏 程尧海 张万荣 周仲蓉 北京工业大学电控学院(北京)
本文提出了快速评价GaAs FET可靠性寿命的一种新方法.利用GaAs FET失效敏感参数的温度特性和在一定电应力下的退化特性,在线快速提取出器件失效敏感参数的退化量与温度的关系,从而可进一步求出器件的失效激活能、寿命等相关的可靠性参数.
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