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作者

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检索条件"任意字段=第十五届全国化合物半导体材料、微波器件和光电器件学术会议"
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高阻ZnO单晶的热激发光、热激电流及热电效应谱测量
高阻ZnO单晶的热激发光、热激电流及热电效应谱测量
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第十五全国化合物半导体材料微波器件光电器件学术会议
作者: 李成基 李弋洋 曾一平 中国科学院半导体研究所
对水热法生长的高阻ZnO单晶在进行热激电流(TSC)和热电效应谱(TEES)测量的同时,也进行了的热激发光(TL)的测量。在80~400K的温度范围内,测出多达13个深能级,热激电流所测的深能级大部分为空穴陷阱。热激电流与热激发光的温度谱有很大差... 详细信息
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MOCVD低温外延ZnO/Si薄膜及其性质的研究
MOCVD低温外延ZnO/Si薄膜及其性质的研究
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第十五全国化合物半导体材料微波器件光电器件学术会议
作者: 钟泽 苏剑锋 舒姮 陈小庆 傅竹西 中国科学技术大学物理系
以水汽作为氧源,二乙基锌为锌源,采用LP-MOCVD方法在Si(111)衬底低温下成功生长出高质量的ZnO薄膜,使用X射线衍射、原子力显微镜、光致发光谱等手段表征了薄膜的性质。通过改变衬底温度、载气流量及反应源的流量等参数研究了生长条件对... 详细信息
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用于半导体器件参数检测的比例差值谱仪
用于半导体器件参数检测的比例差值谱仪
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第十五全国化合物半导体材料微波器件光电器件学术会议
作者: 许铭真 马金源 谭长华 谭映 王洁 靳磊 北京大学微电子研究院 北信通微电子系统公司
比例差值谱仪运用了独创的在线综合检测分析的专利技术——比例差值谱技术,实现了半导体器件的关键电学特征参数如饱和电流、饱和电压、阈值电压、载流子迁移率等直接、准确、便捷地提取和薄膜材料的缺陷分析。该产品是基于Windows操作... 详细信息
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磁控溅射掺Er SiN薄膜的光致荧光谱
磁控溅射掺Er SiN薄膜的光致荧光谱
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第十五全国化合物半导体材料微波器件光电器件学术会议
作者: 丁武昌 郑军 左玉华 成步文 余金中 王启明 郭亨群 吕蓬 申继伟 中科院半导体研究所光电集成实验室 华侨大学信息科学与工程学院
采用磁控溅射法生长了掺Er SiN薄膜,在高温退火后测试了薄膜的光致荧光谱。薄膜在可见光区域以及红外光区域都表现出了很强的光致发光,观察到了Er离子各高能级到基态的跃迁。对样品进行了RBS等性分析,给出了薄膜的元素组成,并对Er离... 详细信息
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稀磁半导体TiMnO2分子束外延生长和磁学性质
稀磁半导体TiMnO2分子束外延生长和磁学性质
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第十五全国化合物半导体材料微波器件光电器件学术会议
作者: 李树玮 李新宇 吴曙翔 许灵敏 刘雅晶 邢祥军 中山大学光电材料与技术国家重点实验室
用分子束外延生长的Mn掺杂的宽带半导体TiO薄膜研究了结晶质量与磁性质的关系。以慢速率生长的外延薄膜具有好的晶体结构,而以快速率生长的外延薄膜具有很多空位。X射线光电子能谱显示Mn与缺陷之间存在相互作用。与具有缺陷的Mn:TiO薄... 详细信息
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紫外光激发的GaAs表面氧化反应研究
紫外光激发的GaAs表面氧化反应研究
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第十五全国化合物半导体材料微波器件光电器件学术会议
作者: 任殿胜 吴怡 荆学建 北京通美晶体技术有限公司
用X射线光电子能谱仪(XPS)系统研究了紫外光(UV/Ozone)激发下GaAs表面的氧化反应。分析了表面氧化层的组成、厚度及其随时间的变化情况。利用大量的实验数据,探讨紫外光激发下GaAs的表面氧化反应机理以及动力学历程。结果表明,紫外... 详细信息
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蓝光LED芯片透明导电薄膜ITO退火工艺的研究
蓝光LED芯片透明导电薄膜ITO退火工艺的研究
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第十五全国化合物半导体材料微波器件光电器件学术会议
作者: 沈燕 彭璐 杨鑫沼 刘存志 山东华光光电子有限公司
蓝宝石衬底GaN基LED的电流拥挤效应一直是影响二极管寿命主要问题,常见问题有电流扩展层薄Ni/Au层或ITO导电薄膜。通过实验主要研究了ITO导电膜的退火对蓝光LED光电参数的影响,发现经过ITO退火工艺的芯片比没有ITO退火的芯片正向压降低0... 详细信息
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改进了渡越时间方程的InP DHBT模型
改进了渡越时间方程的InP DHBT模型
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第十五全国化合物半导体材料微波器件光电器件学术会议
作者: 葛霁 金智 程伟 苏永波 刘新宇 中国科学院微电子研究所
建立了一个改进了渡越时间方程的InP DHB大信号模型。从HB电荷方程出发,首先给出了InP DHB的耗尽电荷方程,接着分析了InP DHB集电极复合结构对载流子速度的影响,测试了集电极复合结构的InP DHB的渡越时间,提出了一个简单准确的渡越时间... 详细信息
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4H-SiC MESFET工艺中的金属掩膜研究
4H-SiC MESFET工艺中的金属掩膜研究
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第十五全国化合物半导体材料微波器件光电器件学术会议
作者: 陈刚 李哲洋 陈征 冯忠 陈雪兰 柏松 南京电子器件研究所单片集成电路与模块国家级重点实验室
在4H-SiC MESFE微波功率器件制造技术中干法刻蚀是一个很重要的工艺,而对SiC外延片的RIE、ICP等干法刻蚀来说,有光刻胶、Ni、Al和NiSi化合物等多种掩膜方法,其中用光刻胶做掩膜时刻蚀形成的台阶角度缓,不垂直,而Ni、Al等金属掩膜在干法... 详细信息
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离子注入工艺在4H-SiC器件中的应用
离子注入工艺在4H-SiC器件中的应用
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第十五全国化合物半导体材料微波器件光电器件学术会议
作者: 李春 陈刚 南京电子器件研究所五中心 南京电子器件研究所单片集成电路与模块国家级重点实验室
介绍了离子注入工艺可在SiC器件中形成欧姆接触,其电阻值经退火后可达到10Ω·cm;同时也可利用离子注入在平面工艺中形成良好的电学隔离,避免工艺复杂化,提高了成品率。最后通过B注入形成边缘终端制作4H-SiC肖特基势垒二极管的例子... 详细信息
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