可测试性设计(Design for Test,简称DFT)是芯片设计的重要环节,它通过在芯片原始设计中插入各种硬件逻辑,从而提高芯片可测试性.其中,异步逻辑的可测试性设计是一个重要的领域.本文介绍了异步逻辑可测试性设计的原理,包括降低设计方案...
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可测试性设计(Design for Test,简称DFT)是芯片设计的重要环节,它通过在芯片原始设计中插入各种硬件逻辑,从而提高芯片可测试性.其中,异步逻辑的可测试性设计是一个重要的领域.本文介绍了异步逻辑可测试性设计的原理,包括降低设计方案可测试性的异步逻辑的种类,针对各类情况的解决方案,以及存储块周围阴影逻辑的可测试性设计.最后介绍了异步逻辑可测试性技术在一款芯片中的应用.
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