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几个典型薄膜材料的x射线分析
几个典型薄膜材料的X射线分析
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第十届全国x射线衍射学术大会暨国际衍射数据中心（icdd）研讨会
作者： 郑伟涛 吉林大学材料科学与工程学院
x射线散射和衍射对于从几个原子层到几十微米厚的薄膜材料的结构信息确定是十分有效的;而对于薄膜表面与界面状态的揭示,x射线能谱则独具特色和优势。本文通过近年来国内外
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喷丸强化对SiC/Al复合材料残余应力场及织构的影响
喷丸强化对SiC/Al复合材料残余应力场及织构的影响
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第十届全国x射线衍射学术大会暨国际衍射数据中心（icdd）研讨会
作者： 卞凯 姜传海 黄俊杰 上海交通大学材料科学与工程学院
通过对SiC/Al复合材料作喷丸强化处理,研究了喷丸工艺对残余压应力以及材料织构的影响。
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Powderx软件在LuAG的粉末x射线衍射中的应用
PowderX软件在LuAG的粉末X射线衍射中的应用
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第十届全国x射线衍射学术大会暨国际衍射数据中心（icdd）研讨会
作者： 王剑 谢建军 施鹰 上海大学材料学院
用Powderx软件可以对粉末x射线衍射图谱进行数据平滑、扣除背景、扣除α、寻峰、指标化、精修晶胞参数和零点误差校正等。将1100℃下锻烧2小时得到的LuAlO多晶粉末样品x射线衍射图谱经Powderx软件处理后,与其粉末x射线衍射的标准图片卡... 详细信息
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(La0.7Sr0.3Mn03)m(BiFe03)n超晶格电学性质的表征
(La0.7Sr0.3Mn03)m(BiFe03)n超晶格电学性质的表征
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第十届全国x射线衍射学术大会暨国际衍射数据中心(icdd)研讨会
作者： 姜平 唐为华 王君伟 浙江理工大学物理系 光电材料与器件中心杭州310018
采用高纯La0.7Sr0.3MnO3(LSMO)靶和BiFeO3(BFO)靶通过射频磁控溅射方法在SrTiO3(001)单晶衬底上制备(LSMO/BFO)12超晶格,并对其结构及厚度进行了表征,测量了不同电流下的电阻。温度(R-T)特性以及不同温度下的电流-电压(I-V)特性。
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掺稀土铝酸锶基质的制备及xRD表征
掺稀土铝酸锶基质的制备及XRD表征
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第十届全国x射线衍射学术大会暨国际衍射数据中心（icdd）研讨会
作者： 童义平 陈壮强 曾丽萱 韩山师范学院无机化学研究所
以硝酸锶和氧化铝为主要原料,利用硝酸溶解药品,高温固相法合成SrAlO基质,用x射线衍射仪进行表征,得到合成SrAlO的最佳温度为1250℃,比传统方法的合成温度下降了540℃。在1250℃时,掺入少量稀土元素铕,结果表明,以摩尔比Sr:Al:Eu=1:2:0.... 详细信息
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多晶x射线衍射测量结果的一些影响因素
多晶X射线衍射测量结果的一些影响因素
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第十届全国x射线衍射学术大会暨国际衍射数据中心（icdd）研讨会
作者： 张杰 兰州大学物理科学与技术学院
讨论了多晶x射线衍射测量中实验结果的一些影响因素。分别对粉末样品自身颗粒的大小、粉末装填到样品架中所处的表面平整度以及少量样品采用横式填充还是竖式填充等问题进行了分析和探讨。结果表明,在x射线衍射分析测量中,要想得到理想... 详细信息
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多晶药物伏格列波糖的粉末衍射结构表征
多晶药物伏格列波糖的粉末衍射结构表征
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第十届全国x射线衍射学术大会暨国际衍射数据中心（icdd）研讨会
作者： 张国庆 吕光烈 浙江工业大学化学工程与材料学院 先进纺织材料与制备技术教育部重点实验室(浙江理工大学)
针对多晶有机药物结构解析,本文选取伏格列波糖为研究对象,对其多晶结构用Dash软件就普通x射线衍射仪测得的数据进行了成功解析,最后得到了相关结构信息。
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浅谈x射线衍射分析中的“失效”
浅谈X射线衍射分析中的“失效”
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第十届全国x射线衍射学术大会暨国际衍射数据中心（icdd）研讨会
作者： 石磊 中国科学技术大学 合肥微尺度物质科学国家实验室
自从1895年x射线发现之后,经过多年的研究和发展,x射线衍射分析方法和技术日益成熟,已经成为材料分析和晶体结构研究的基本工具之一。其应用范围已渗透到物理、化学、材料、生物等众多领域,在晶粒尺度、材料微观应力、织构、单晶体和多... 详细信息
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块体非晶Zr55Al10Ni5Cu30喷丸组织微观结构表征
块体非晶Zr55Al10Ni5Cu30喷丸组织微观结构表征
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第十届全国x射线衍射学术大会暨国际衍射数据中心（icdd）研讨会
作者： 詹科 姜传海 上海交通大学材料科学与工程学院
采用喷丸技术对块体非晶材料进行表面处理。利用x-Ray衍射技术,结合径向分布函数对比研究了喷丸前后微观结构的变化。结果表明:喷丸处理后,非晶材料表面喷丸层未发生晶化。但是表层第一壳层原子配位数减少,原子平均密度降低。
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利用掠入射x射线衍射表征高分子薄膜的结晶性
利用掠入射X射线衍射表征高分子薄膜的结晶性
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第十届全国x射线衍射学术大会暨国际衍射数据中心（icdd）研讨会
作者： 张吉东 莫志深 高分子物理与化学国家重点实验室中国科学院长春应用化学研究所
掠入射x射线衍射(Grazing incident x-ray Diffraction,GIxRD)技术是一种新颖的测试技术,它是指以测试时x射线以很小角度入射到样品表面,几乎与样品平行。测试时入射角不变,探测器在大角区扫描测量衍射信号,常被用来表征薄膜的结晶性信... 详细信息
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