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文献类型

  • 1 篇 期刊文献

馆藏范围

  • 1 篇 电子文献
  • 0 种 纸本馆藏

日期分布

学科分类号

  • 1 篇 工学
    • 1 篇 电子科学与技术(可...

主题

  • 1 篇 逻辑测试系统
  • 1 篇 集成电路
  • 1 篇 模拟信号

机构

  • 1 篇 爱德万测试有限公...

作者

  • 1 篇 爱德万测试有限公...

语言

  • 1 篇 中文
检索条件"作者=爱德万测试有限公司上海分公司"
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用逻辑测试系统产生模拟信号的技术
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集成电路应用 2001年 第2期18卷 19-22页
作者: 测试(苏州)有限公司上海分公司 爱德万测试(苏州)有限公司上海分公司
SOC的测试需要几十~几百MHz的模拟信号,过去要产生这样的信号,需要使用可以产生任意波形的信号发生器,本文将介绍种不使用任意波形发生器就可以产生高速模拟信号的技术。即通过在测试板上对SOC测试系统输出的逻辑信号进行加法运算来产... 详细信息
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