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文献类型

  • 25 篇 专利

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  • 25 篇 电子文献
  • 0 种 纸本馆藏

日期分布

机构

  • 16 篇 株式会社三丰
  • 4 篇 高通股份有限公司
  • 3 篇 苹果公司
  • 2 篇 希捷科技有限公司

作者

  • 16 篇 d.w.塞斯科
  • 4 篇 r·e·凯斯勒
  • 4 篇 j·p·戴维斯
  • 4 篇 s·m·查维斯
  • 4 篇 j·a·多尔蒂
  • 4 篇 p·d·马丁
  • 4 篇 d·w·梅林格三世
  • 4 篇 a·库什勒耶夫
  • 4 篇 k·w·切拉塞
  • 4 篇 m·b·库利巴利
  • 4 篇 t·范斯科克
  • 4 篇 m·j·绍敏
  • 3 篇 c·j·斯特林格
  • 3 篇 b·k·安德烈
  • 3 篇 s·麦克卢尔
  • 3 篇 m·e·汉基
  • 3 篇 a·c·l·杨
  • 3 篇 p·拉塞尔克拉克
  • 3 篇 d·r·克尔
  • 3 篇 西堀晋

语言

  • 25 篇 中文
检索条件"作者=D.W.塞斯科"
25 条 记 录,以下是1-10 订阅
排序:
具有增强光谱光源结构的色共焦范围感测系统
具有增强光谱光源结构的色共焦范围感测系统
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作者: d.w.塞斯科 日本神奈川县
提供了一种共焦范围感测(CRS)系统,其包括波长检测器、源光结构以及一个或多个测量通道。每个测量通道被配置为感测距工件表面的相应距离,并且包括共焦检测孔和共焦光源孔。源光结构包括第一和第二磷光体组合物、波长组合结构以及共... 详细信息
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具有增强光谱光源结构的色共焦范围感测系统
具有增强光谱光源结构的色共焦范围感测系统
收藏 引用
作者: d.w.塞斯科 日本神奈川县
提供了一种共焦范围感测(CRS)系统,其包括波长检测器、源光结构以及一个或多个测量通道。每个测量通道被配置为感测距工件表面的相应距离,并且包括共焦检测孔和共焦光源孔。源光结构包括第一和第二磷光体组合物、波长组合结构以及共... 详细信息
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用于联接色度范围传感器光学探针与坐标测量机的配置
用于联接色度范围传感器光学探针与坐标测量机的配置
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作者: d.w.塞斯科 I.弗里尔科森 日本神奈川县
一种用于将色度范围传感器光学探针联接到坐标测量机(CMM)的配置,包括电自动连接部和具有第一和第二联接元件的自由空间光纤联接部。第一联接元件具有第一光纤连接器,其被配置为通过第一光纤联接到CMM的波长检测器和光源元件,并且被... 详细信息
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使用位置敏感检测器的线性位移传感器
使用位置敏感检测器的线性位移传感器
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作者: d.w.塞斯科 日本神奈川县
一种位置感测装置,其包括框架、引导支承件、运动元件、位置敏感检测器、光源和位置指示发射器。运动元件被引导支承件沿测量轴线方向在测量范围内引导。光源被配置为发出源光。位置指示发射器与运动元件一起移动。位置指示发射器包括... 详细信息
来源: 评论
使用位置敏感检测器的线性位移传感器
使用位置敏感检测器的线性位移传感器
收藏 引用
作者: d.w.塞斯科 日本神奈川县
一种位置感测装置,其包括框架、引导支承件、运动元件、位置敏感检测器、光源和位置指示发射器。运动元件被引导支承件沿测量轴线方向在测量范围内引导。光源被配置为发出源光。位置指示发射器与运动元件一起移动。位置指示发射器包括... 详细信息
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用于使用发射体材料配置的测量设备的光学配置
用于使用发射体材料配置的测量设备的光学配置
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作者: d.w.塞斯科 日本神奈川县
提供了一种用于在坐标测量机中使用的在3个轴线中响应的扫描探针。扫描探针包括框架、触针悬挂部分和触针位置检测部分。触针位置检测部分包括光源和位置指示元件,该位置指示元件相对于触针联接部分固定并且包括具有发射体材料(例如,... 详细信息
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用于使用发射体材料配置的测量设备的光学配置
用于使用发射体材料配置的测量设备的光学配置
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作者: d.w.塞斯科 日本神奈川县
提供了一种用于在坐标测量机中使用的在3个轴线中响应的扫描探针。扫描探针包括框架、触针悬挂部分和触针位置检测部分。触针位置检测部分包括光源和位置指示元件,该位置指示元件相对于触针联接部分固定并且包括具有发射体材料(例如,... 详细信息
来源: 评论
用于使用发射体材料配置的测量设备的光学配置
用于使用发射体材料配置的测量设备的光学配置
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作者: d.w.塞斯科 日本神奈川县
提供了一种在三个轴线中响应的扫描探针,以在坐标测量机中使用。扫描探针包括框架、触针悬挂部分和触针位置测量部分。触针位置检测部分包括光源,所述光源被操作为朝向相对于所述触针联接部分固定的位置指示元件辐照源光。所述位置指... 详细信息
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用于测量装置的光学配置
用于测量装置的光学配置
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作者: d.w.塞斯科 日本神奈川县
提供一种扫描探针,以用于坐标测量机。扫描探针包括旋转位置检测配置和轴向位置检测配置,旋转位置检测配置输出表示触针联接部分围绕旋转中心的旋转的X和Y位置信号,轴向位置检测配置输出表示触针联接部分沿着轴向方向的位置的Z位置... 详细信息
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用于使用发射体材料配置的测量设备的光学配置
用于使用发射体材料配置的测量设备的光学配置
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作者: d.w.塞斯科 日本神奈川县
提供了一种在三个轴线中响应的扫描探针,以在坐标测量机中使用。扫描探针包括框架、触针悬挂部分和触针位置测量部分。触针位置检测部分包括光源,所述光源被操作为朝向相对于所述触针联接部分固定的位置指示元件辐照源光。所述位置指... 详细信息
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