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文献类型

  • 1 篇 期刊文献

馆藏范围

  • 1 篇 电子文献
  • 0 种 纸本馆藏

日期分布

学科分类号

  • 1 篇 工学
    • 1 篇 材料科学与工程(可...
    • 1 篇 电子科学与技术(可...

主题

  • 1 篇 三次样线方法
  • 1 篇 器件模拟
  • 1 篇 高阶紧致差分

机构

  • 1 篇 东莞理工学院
  • 1 篇 五邑大学
  • 1 篇 江南大学

作者

  • 1 篇 zang jiafeng
  • 1 篇 于宗光
  • 1 篇 liu zhan
  • 1 篇 胡西多
  • 1 篇 yu zongguang
  • 1 篇 刘战
  • 1 篇 臧佳锋
  • 1 篇 顾晓峰
  • 1 篇 shen jingjing
  • 1 篇 沈静静
  • 1 篇 hu xiduo
  • 1 篇 gu xiaofeng

语言

  • 1 篇 中文
检索条件"主题词=三次样线方法"
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排序:
用于半导体器件模拟的高精度三次线
收藏 引用
固体电子学研究与进展 2008年 第4期28卷 483-487,544页
作者: 刘战 沈静静 顾晓峰 于宗光 胡西多 臧佳锋 五邑大学信息学院 广东江门529020 江南大学信息工程学院 江苏无锡214036 东莞理工学院电子工程系 广东东莞523808
采用三次样线方法(SADI)与高阶紧致差分相结合的方法计算用于半导体器件模拟的漂移扩散模型(DD)模型,并实现了该算法在半导体器件模拟中的应用。数值计算表明,这种方法可以降低方程的迭代数约35%,并明显减少方程的求解时间。
来源: 评论