检索结果-内蒙古大学图书馆

电子学报 2006年第2期34卷 282-286页

作者：王伟韩银和李晓维张佑生合肥工业大学计算机与信息学院安徽合肥230009 中国科学院计算技术研究所先进测试技术实验室北京100080

众所周知,CMO S电路测试时由漏电流引起的漏电流功耗在测试功耗中处于重要地位.降低测试时的漏电流对于延长需要周期性自测试的便携式系统电池寿命、提高测试的可靠性和降低测试成本都至关重要.文章首先分析了漏电流的组成,和与之相关... 详细信息

众所周知,CMO S电路测试时由漏电流引起的漏电流功耗在测试功耗中处于重要地位.降低测试时的漏电流对于延长需要周期性自测试的便携式系统电池寿命、提高测试的可靠性和降低测试成本都至关重要.文章首先分析了漏电流的组成,和与之相关的晶体管的堆栈效应.然后,我们提出了一种基于测试向量中不确定位(X位)、使用遗传算法优化集成电路测试时漏电流的方法.实验结果证明在组合电路和时序电路测试中该方法能够在不影响故障覆盖率的条件下,有效优化测试时电路的漏电流.

关键词：漏电流不确定位遗传算法

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

一种可用于不确定位姿的神经辐射场重建与重定位方法

一种可用于不确定位姿的神经辐射场重建与重定位方法

引用

作者：傅晟颜成钢丁贵广李宗鹏殷海兵 310018 浙江省杭州市下沙高教园区2号大街

本发明公开了一种可用于不确定位姿的神经辐射场重建与重定位方法。本发明解决了由于位姿输入有噪声甚至没有位姿输入时神经辐射场新视角合成精度问题：由于神经辐射场需要准确的位姿输入，本发明使用无检测器的sfm框架优化相机位姿并... 详细信息

标准号: CN117808897A

本发明公开了一种可用于不确定位姿的神经辐射场重建与重定位方法。本发明解决了由于位姿输入有噪声甚至没有位姿输入时神经辐射场新视角合成精度问题：由于神经辐射场需要准确的位姿输入，本发明使用无检测器的sfm框架优化相机位姿并进行神经辐射场和位姿回归器的训练。本发明增强了强大的定位性能，减少了与基于结构的方法的差距，同时保持了姿态回归的优势：具有低内存占用的快速推理和扩展到大型环境的能力。

关键词：位姿辐射场神经检测器不确定位大型环境定位性能精度问题低内存回归器重定位可用推理噪声相机合成占用视角重建回归优化

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

一种机器人不确定位姿的自主识别系统与方法

一种机器人不确定位姿的自主识别系统与方法

引用

作者：王迷迷杨星星张立珍 210088 江苏省南京市江北新区东大路6号

本发明公开了一种机器人不确定位姿的自主识别系统与方法，包括机器人和环境标志物，其中，机器人内含有控制与计算单元、运动单元，及视觉传感器与激光测距传感器；环境标志物包括初级位置标志物和精确位置标志物，通过机器人自身设备... 详细信息

标准号: CN114581520A

本发明公开了一种机器人不确定位姿的自主识别系统与方法，包括机器人和环境标志物，其中，机器人内含有控制与计算单元、运动单元，及视觉传感器与激光测距传感器；环境标志物包括初级位置标志物和精确位置标志物，通过机器人自身设备，实现自主对环境的感知，进而识别出自身当前的位姿，不依赖外部智能设备系统的支持，减少了系统复杂度和成本；并通过位姿偏差补偿，可以避免机器人多次调整位姿达到标准作业位姿，能容许合理的位姿偏差，确保机器人在非标准作业位姿下达成与标准作业位姿一致的工作结果，从而使得机器人一次进入作业点即可开展工作，避免对多次位置调整，提升机器人工作效率。

关键词：机器人位姿标准作业激光测距传感器外部智能设备视觉传感器位置标志物系统复杂度不确定位初级位置工作结果工作效率计算单元偏差补偿识别系统位置调整运动单元自身设备标志物非标准作业点感知

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

SoC测试中低成本、低功耗的芯核包装方法

引用

计算机辅助设计与图形学学报 2006年第9期18卷 1397-1402页

作者：王伟韩银和胡瑜李晓维张佑生合肥工业大学计算机与信息学院合肥230009 中国科学院计算技术研究所先进测试技术实验室北京100080

提出一种SoC测试中新颖的并行芯核包装方法(parallel core wrapper design,pCWD),该包装方法利用扫描切片重叠这一特点,通过缩短包装扫描链长度来减少测试功耗和测试时间.为了进一步减少测试时间,还提出了一种测试向量扫描切片划分和赋... 详细信息

提出一种SoC测试中新颖的并行芯核包装方法(parallel core wrapper design,pCWD),该包装方法利用扫描切片重叠这一特点,通过缩短包装扫描链长度来减少测试功耗和测试时间.为了进一步减少测试时间,还提出了一种测试向量扫描切片划分和赋值算法.实验结果表明,针对ITC 2002基准SoC集中d695芯片,应用并行包装方法和测试向量切片划分及赋值算法,能够减少50%的测试时间及95%的测试功耗.

关键词： SoC测试芯核包装电路不确定位扫描切片

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

基于位运算的固件代码变量区间分析法

引用

计算机科学 2013年第1期40卷 107-111页

作者：谢晓东李清宝王炜牛小鹏赵远信息工程大学信息工程学院计算机系郑州450002

变量区间分析是程序代码数据流分析的重要部分。固件反汇编代码存在字节运算和位运算两类运算,当变量取值范围较大时,依次迭代法不能高效地分析经位运算后的结果的取值区间。提出一种快速位运算方法,即根据变量取值区间范围,先将变量转... 详细信息

变量区间分析是程序代码数据流分析的重要部分。固件反汇编代码存在字节运算和位运算两类运算,当变量取值范围较大时,依次迭代法不能高效地分析经位运算后的结果的取值区间。提出一种快速位运算方法,即根据变量取值区间范围,先将变量转化为不确定位形式再进行位运算;提出一种区间生成算法,即把不确定位形式转化为区间来实现字节运算。实验结果表明,该基于位运算的固件代码变量区间分析方法在程序变量取值范围较大时效率远远高于依次迭代法,而且在各种变量取值区间范围内所需时间稳定,并随着区间范围的增大,其有略微下降趋势。

关键词：固件代码区间分析不确定位位运算

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

基于模型检验的固件恶意代码检测技术研究

基于模型检验的固件恶意代码检测技术研究

引用

作者：谢晓东解放军信息工程大学

学位级别：硕士

微控制器是电子设备中的核心器件。对微控制器中的固件恶意代码进行检测，是电子设备安全性分析研究的热点和重要内容。开展固件代码恶意性检测不仅有利于发现设备中存在的安全隐患，同时有助于电子设备故障排除和设备维护。本文以国家... 详细信息

微控制器是电子设备中的核心器件。对微控制器中的固件恶意代码进行检测，是电子设备安全性分析研究的热点和重要内容。开展固件代码恶意性检测不仅有利于发现设备中存在的安全隐患，同时有助于电子设备故障排除和设备维护。本文以国家“863”目标导向类课题（编号2009AA01Z434）的研发为背景，结合固件代码的特点，分析了固件恶意功能实现机制，重点对固件恶意代码的检测方法进行研究，采用模型检验技术，实现对固件恶意代码的检测。论文的主要工作和贡献包括： 1、提出了一种将控制流分析和数据流分析相结合的Kripke结构生成算法。针对由固件代码生成Kripke结构时遇到的间接跳转、间接存储、调用返回、中断和时序等问题，综合运用了变量定值分析、区间分析以及快速位运算算法等多项技术，成功解决了Kripke结构生成中的关键问题，实现了Kripke结构的自动构建。 2、提出了一种面向位运算的变量区间分析方法——快速位运算算法。该算法包括了变量的不确定位形式（Uncertainty Bit Form, UBF）计算算法、面向UBF的位运算算法和UBF的区间生成算法，用于解决因固件代码中同时存在字节级（标量）和位级（向量）两种运算而造成的计算效率问题。实验结果表明，快速位运算算法在程序变量取值范围较大时效率远高于依次迭代法，并且算法耗时整体稳定，随着区间范围的增大呈下降趋势。 3、设计并实现了基于模型检验的固件恶意代码检测原型系统FPAnalyzer。测试结果表明该系统能够成功检测固件恶意代码，验证了本文研究方法的正确性和有效性。

关键词：固件恶意代码模型检验 Kripke结构变量区间分析不确定位

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

DMM测量数据的有效位和不确定性

引用

电子测试 2002年第1期15卷 117-118页

作者：王绍文

电子工程计算用的基本电学参数,几乎可用数字多用表测出.无论被测量是电压或电流,都是无限可分的量或称模拟量.而数字表显示出的结果都是数字,需要经过模/数变换和量化后显示出来.无论显示位数多少,仪表本身都有不确定性存在,它与测量... 详细信息

电子工程计算用的基本电学参数,几乎可用数字多用表测出.无论被测量是电压或电流,都是无限可分的量或称模拟量.而数字表显示出的结果都是数字,需要经过模/数变换和量化后显示出来.无论显示位数多少,仪表本身都有不确定性存在,它与测量结果的准确性有重要关系.

关键词：数字多用表有效位不确定位电气测量仪表

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

低测试成本、低测试功耗的SOC芯核包装方法

低测试成本、低测试功耗的SOC芯核包装方法

引用

中国科学院计算技术研究所第八届计算机科学与技术研究生学术讨论会

作者：韩银和 Anshuman Chandra 李华伟李晓维中国科学院计算技术研究所信息网络室北京100080 中国科学院研究生院北京100039 Synopsis Inc. Mountain ViewCA 94043 中国科学院计算技术研究所信息网络室北京100080

SOC测试中,需要对芯核设计包装电路,传统的串行包装方法增加了芯核的测试时间和测试功耗.研究表明,由于测试向量中存在着大量不确定位,所以测试向量中,有很多相邻扫描切片是可以重叠的.文章将提出一种并行包装方法,该包装方法利用扫描... 详细信息

SOC测试中,需要对芯核设计包装电路,传统的串行包装方法增加了芯核的测试时间和测试功耗.研究表明,由于测试向量中存在着大量不确定位,所以测试向量中,有很多相邻扫描切片是可以重叠的.文章将提出一种并行包装方法,该包装方法利用扫描切片重叠这一特点,通过缩短包装扫描链长度来减少测试时间和测试功耗.为了进一步减少测试时间,文章还提出了一种测试向量扫描切片划分和赋值算法.实验结果表明,应用并行包装方法和测试向量切片划分及赋值算法,针对ITC 2002 基准SOC集中d695,能够取得2X 的测试时间减少和20X 的测试功耗减少.

关键词： SOC测试芯核包装电路不确定位扫描切片

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

静态测试功耗优化技术

静态测试功耗优化技术

引用

全国第17届计算机科学与技术应用（CACIS）学术会议

作者：王伟李晓维张佑生方芳合肥工业大学计算机与信息学院中国科学院计算技术研究所信先进测试技术实验室合肥工业大学计算机与信息学院合肥工业大学计算机与信息学院

本文设计了一种基于堆栈效应的漏电流模拟器,并提出了通过该模拟器,利用测试向量中特有的不确定位以优化测试中静态功耗的方法。实验表明,在不影响故障覆盖率的前提下,该方法能够有效优化测试中的静态功耗,并且测试向量中的不确定位所... 详细信息

本文设计了一种基于堆栈效应的漏电流模拟器,并提出了通过该模拟器,利用测试向量中特有的不确定位以优化测试中静态功耗的方法。实验表明,在不影响故障覆盖率的前提下,该方法能够有效优化测试中的静态功耗,并且测试向量中的不确定位所占比例越多,优化的效果越明显。

关键词：静态功耗测试功耗漏电流不确定位

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

数据解析方法、装置、设备及存储介质

数据解析方法、装置、设备及存储介质

引用

作者：吴彬 518000 广东省深圳市南山区南山街道南山社区南新路阳光科创中心一期B座1508

本发明属于物联网技术领域，公开了一种数据解析方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：在接收到多帧待解析数据时，判断多帧待解析数据是否均存在不确定位；在多帧待解析数据均存在不确定位时，根据多帧待解析数据确定待解析正确数... 详细信息

标准号: CN117097439A

本发明属于物联网技术领域，公开了一种数据解析方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：在接收到多帧待解析数据时，判断多帧待解析数据是否均存在不确定位；在多帧待解析数据均存在不确定位时，根据多帧待解析数据确定待解析正确数据；解析所述待解析正确数据，得到目标数据。通过上述方式，在接收到多帧待解析数据后，若每一待解析数据数据中均有不确定位时，则表明所有的待解析数据数据均为不正确的数据，此时则在其他待解析数据数据中查找与不确定位相同位数的确定位，得到待解析数据正确数据，从而提升因传输距离长导致数据传输的低准确性。

关键词：解析数据多帧不确定位正确数据解析物联网技术传输距离存储介质目标数据数据传输数据解析查找

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

建议与咨询留下您的常用邮箱和电话号码，以便我们向您反馈解决方案和替代方法

时间限定

文献类型

馆藏选择

核心期刊

语言

文献类型

帮助

文字说明：

检索规则说明：

检索范例：

分类表

所选分类

限定检索结果

文献类型

馆藏范围

日期分布

学科分类号

主题

机构

作者

语言

请选择保存的检索档案：

请选择收藏分类：

通借通还

建议与咨询 留下您的常用邮箱和电话号码，以便我们向您反馈解决方案和替代方法

时间限定

文献类型

馆藏选择

核心期刊

语言

文献类型

帮助

文字说明：

检索规则说明：

检索范例：

分类表

所选分类

限定检索结果

文献类型

馆藏范围

日期分布

学科分类号

主题

机构

作者

语言

请选择保存的检索档案： 新增检索档案 确定 取消

请选择收藏分类： 新增自定义分类 确定 取消

通借通还

建议与咨询留下您的常用邮箱和电话号码，以便我们向您反馈解决方案和替代方法

请选择保存的检索档案：

请选择收藏分类：