检索结果-内蒙古大学图书馆

作者：杨继进 215000 江苏省苏州市高新区锦峰路158号16幢101室

本发明涉及一种基于二次电子信号图像的页岩孔缝类型识别方法，包括以下步骤：获得二次电子信号图像；对二次电子信号图像进行孔缝提取而获得孔缝分布图像；对二次电子信号图像进行孔缝和有机质的共同提取而获取共同分布图像；将共同分... 详细信息

标准号: CN114627083A

本发明涉及一种基于二次电子信号图像的页岩孔缝类型识别方法，包括以下步骤：获得二次电子信号图像；对二次电子信号图像进行孔缝提取而获得孔缝分布图像；对二次电子信号图像进行孔缝和有机质的共同提取而获取共同分布图像；将共同分布图像和孔缝分布图像做减法处理而提取出有机质分布图像；提取有机质分布图像中的有机质边界,并对有机质边界包围的空间进行有机质填充；对有机质分布情况进行修正得到有机质修正分布图像；将待识别孔缝与有机质修正分布图像进行交集运算，判断交集结果是否属于有机质修正分布图像中的有机质分布位置，若判断为是，则待识别孔缝为有机孔缝，否则为无机孔缝。本发明能够有效实现页岩孔缝类型的识别。

关键词：孔缝分布图像有机质二次电子信号有机质分布图像修正识别孔页岩减法处理交集运算有效实现交集填充包围

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基于二次电子信号图像的页岩孔缝类型识别方法

基于二次电子信号图像的页岩孔缝类型识别方法

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作者：杨继进 215000 江苏省苏州市高新区锦峰路158号16幢101室

标准号: CN114627083B

关键词：孔缝分布图像有机质二次电子信号有机质分布图像修正识别孔页岩减法处理交集运算有效实现交集填充包围

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扫描电子显微镜成像信号分析

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真空 2001年第6期38卷 42-44页

作者：陈长琦干蜀毅朱武王先路合肥工业大学机械与汽车工程学院安徽合肥230009

介绍了扫描电子显微镜 (SEM)的基本工作原理 ,着重分析了在 SEM初始电子束作用下 ,各种成像信号产生的方式及其特点 ,确定二次电子信号因成像分辨率高、携带成像信息丰富而成为 SEM的最终信号源。针对此信号在实际应用中暴露出的缺陷 ,... 详细信息

介绍了扫描电子显微镜 (SEM)的基本工作原理 ,着重分析了在 SEM初始电子束作用下 ,各种成像信号产生的方式及其特点 ,确定二次电子信号因成像分辨率高、携带成像信息丰富而成为 SEM的最终信号源。针对此信号在实际应用中暴露出的缺陷 ,介绍了解决办法 ,从而使 SEM的成像性能得以大幅提高。

关键词：扫描电子显微镜成像信号二次电子信号工作原理成像分辨率信号处理信号分析

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基于复合电子信号图像的页岩孔缝类型识别方法

基于复合电子信号图像的页岩孔缝类型识别方法

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作者：杨继进 215000 江苏省苏州市高新区锦峰路158号16幢101室

本发明涉及一种基于复合电子信号图像的页岩孔缝类型识别方法，包括以下步骤：利用扫描电镜扫描页岩样品，在同一视域获得二维的二次电子信号图像和背散射电子信号图像；对二次电子信号图像进行孔缝提取而获得孔缝图像；将孔缝图像和背... 详细信息

标准号: CN114624470B

本发明涉及一种基于复合电子信号图像的页岩孔缝类型识别方法，包括以下步骤：利用扫描电镜扫描页岩样品，在同一视域获得二维的二次电子信号图像和背散射电子信号图像；对二次电子信号图像进行孔缝提取而获得孔缝图像；将孔缝图像和背散射电子信号图像融合得到复合电子信号图像；对复合电子信号图像进行有机质提取而获得有机质图像；提取孔缝图像中的所有孔缝的边界以及有机质图像中所有的有机质边界；判断待识别孔缝的边界是否与有机质边界相邻，若判断为是，则待识别孔缝为有机孔缝，否则为无机孔缝。本发明能够快速有效地实现页岩孔缝类型的识别。

关键词：孔缝有机质图像复合电子信号图像电子信号图像二次电子信号背散射识别孔页岩视域有效地实现扫描电镜页岩样品提取孔二维扫描融合

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基于复合电子信号图像的页岩孔缝类型识别方法

基于复合电子信号图像的页岩孔缝类型识别方法

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作者：杨继进 215000 江苏省苏州市高新区锦峰路158号16幢101室

标准号: CN114624470A

关键词：孔缝有机质图像复合电子信号图像电子信号图像二次电子信号背散射识别孔页岩视域有效地实现扫描电镜页岩样品提取孔二维扫描融合

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电子束加工设备工件表面聚焦电流自动整定方法及系统

电子束加工设备工件表面聚焦电流自动整定方法及系统

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作者：黄小东韦寿祺费翔陆苇郭华艳唐强 541004 广西壮族自治区桂林市空明西路创业工业园5-1号

本发明公开一种电子束加工设备工件表面聚焦电流自动整定方法及系统，电子束加工设备在加速电压和电子束流稳定的工况下，先通过调节聚焦电流从最小值逐渐增大最大值，并记录渐大过程中的本次渐大离散变化过程中的最大二次电子信号值所... 详细信息

标准号: CN106340339B

本发明公开一种电子束加工设备工件表面聚焦电流自动整定方法及系统，电子束加工设备在加速电压和电子束流稳定的工况下，先通过调节聚焦电流从最小值逐渐增大最大值，并记录渐大过程中的本次渐大离散变化过程中的最大二次电子信号值所对应的聚焦电流值I_f0+，再通过调节聚焦电流从最大值逐渐增大最小值，并记录渐小离散变化过程中的最大二次电子信号值所对应的聚焦电流值I_f0‑，后根据聚焦电流值I_f0+和I_f0‑计算确定电子束聚焦于金属试件表面上的聚焦电流值I_f0，并将该聚焦电流值I_f0作为聚焦电流设定值，使得聚焦实际工作电流稳定于此值。本发明可以快速、精确地获取聚焦电流值。

关键词：聚焦电流电子束加工设备二次电子信号离散变化逐渐增大电子束聚焦工作电流稳定电子束流工件表面加速电压金属试件自动整定记录渐小

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电子束焊机焊缝示教寻迹方法及系统

电子束焊机焊缝示教寻迹方法及系统

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作者：韦寿祺黄小东费翔秦玉江陆苇郭华艳王建辉梁祖明王宗坤唐强 541004 广西壮族自治区桂林市空明西路创业工业园5-1号

本发明公开一种电子束焊机焊缝示教寻迹方法及系统，其通过移动工作台或偏扫电源，使得电子束斑点移动轨迹与焊缝轨迹交叉，当电子束斑点落在焊缝上时，二次电子信号值Ie明显突然变小。检测二次电子信号值Ie明显突然变小区域所对应的位... 详细信息

标准号: CN106425076B

本发明公开一种电子束焊机焊缝示教寻迹方法及系统，其通过移动工作台或偏扫电源，使得电子束斑点移动轨迹与焊缝轨迹交叉，当电子束斑点落在焊缝上时，二次电子信号值I_e明显突然变小。检测二次电子信号值I_e明显突然变小区域所对应的位置坐标中点，即视为焊缝截面中线位置。根据上述原理定位特征点坐标。本发明可以以便快速、精确地对焊缝进行示教寻迹，以避免人为经验定位焊缝的方法所存在的精度不高的问题。

关键词：焊缝二次电子信号电子束斑点变小示教寻迹电子束焊机移动工作台定位焊缝定位特征焊缝轨迹焊缝截面位置坐标移动轨迹中线位置点坐标电源检测

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基于冷冻电镜计算不同流体饱和度的方法

基于冷冻电镜计算不同流体饱和度的方法

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作者：原园杜忠明杨继进 100029 北京市朝阳区北土城西路19号

本发明涉及地质勘探技术领域，具体涉及一种基于冷冻电镜计算不同流体饱和度的方法，旨在解决常温或加热下实验分析导致流体散失严重，各流体饱和度被错误判断问题。本发明包括：采集冷冻状态孔隙分布图像和冷冻状态有机物质+水分布图... 详细信息

标准号: CN117054460B

本发明涉及地质勘探技术领域，具体涉及一种基于冷冻电镜计算不同流体饱和度的方法，旨在解决常温或加热下实验分析导致流体散失严重，各流体饱和度被错误判断问题。本发明包括：采集冷冻状态孔隙分布图像和冷冻状态有机物质+水分布图像；采集目标元素C的面分布图像并与冷冻状态有机物质+水分布图像叠加获得水的分布图像和有机物质的分布图像；升温样品，使烃类和水逐步散失；采集升温样品的二次电子信号图像，分别获得烃类散失新增孔隙分布图像和水散失新增孔隙分布图像；进而计算不同物质组分的孔隙度；根据各孔隙度，计算不同流体饱和度。本发明对低温条件下流体饱和度测定技术弥补，对区域资源和采收率潜力的评估有重要意义。

关键词：流体饱和度图像孔隙分布冷冻状态有机物质分布图像孔隙度水分布烃类二次电子信号采集采集目标错误判断低温条件地质勘探冷冻电镜区域资源实验分析图像叠加重要意义采收率流体加热评估

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一种双层结构遮蔽的半嵌入式阵列探头束剖面诊断方法

一种双层结构遮蔽的半嵌入式阵列探头束剖面诊断方法

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作者：许永建於子辰陈玉庆谢亚红谢远来 230031 安徽省合肥市庐阳区三十岗乡古城路181号

本发明公开了一种双层结构遮蔽的半嵌入式阵列探头束剖面诊断方法，基于具有一定能量的束流轰击功率测量靶会发生二次电子发射的原理进行束剖面诊断。在功率测量靶后方以一定的分布排列安装多枚探针组成阵列，探针在功率测量靶的遮挡下... 详细信息

标准号: CN113466546B

本发明公开了一种双层结构遮蔽的半嵌入式阵列探头束剖面诊断方法，基于具有一定能量的束流轰击功率测量靶会发生二次电子发射的原理进行束剖面诊断。在功率测量靶后方以一定的分布排列安装多枚探针组成阵列，探针在功率测量靶的遮挡下不受束流的直接轰击，而在探针上通以偏置电压形成电场，使出射的二次电子沿电场运动被探针阵列吸引，通过对探针阵列吸收二次电子获得的电流信号进行数据处理、滤波采集，进一步拟合获得二次电子信号曲线。结合束流与功率测量靶运行环境与二次电子发射的相关关系对获取的二次电子信号曲线进行反演处理获得束功率分布数据，经处理拟合获得实时的束功率密度分布曲线，进一步获得束剖面和束参数，为束流的反馈控制提供依据。

关键词：功率测量束流探针二次电子发射二次电子信号二次电子探针阵列拟合轰击密度分布曲线电场诊断半嵌入式电场运动电流信号反馈控制分布排列功率分布偏置电压双层结构运行环境阵列探头数据处理出射反演滤波遮蔽遮挡采集吸收吸引

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一种纳米步进样品扫描计量型扫描电子显微镜

一种纳米步进样品扫描计量型扫描电子显微镜

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作者：高思田李伟施玉书李琪 100029 北京市朝阳区北三环东路18号

本发明涉及一种纳米步进样品扫描计量型扫描电子显微镜，二维激光干涉仪包括两个干涉仪，干涉仪分别位于测量样品在X方向和Y方向的位置，干涉仪的光源通过光纤从激光器引入，穿过玻璃窗的真空窗口片，在电镜内分成两束，分别入射到两个... 详细信息

标准号: CN105353170B

本发明涉及一种纳米步进样品扫描计量型扫描电子显微镜，二维激光干涉仪包括两个干涉仪，干涉仪分别位于测量样品在X方向和Y方向的位置，干涉仪的光源通过光纤从激光器引入，穿过玻璃窗的真空窗口片，在电镜内分成两束，分别入射到两个干涉镜；超声电机粗调位移台做扫描运动时，一个出射干涉光经真空窗入射到光电探测器作为位移台X轴位移数据信号；另一束干涉光经平面反射镜反射后入射靠近舱门的干涉仪，出射干涉光由另一个探测器接收作为位移台Y轴位移数据信号；所述X、Y轴位移数据配合电镜采集样品表面由电子束激发的二次电子信号，得到经过激光干涉仪溯源的测量数据。提供一种能够将其测量值直接溯源到米定义国家基准的标准的电子显微镜。

关键词：干涉仪干涉光位移台入射数据信号出射溯源测量扫描电子显微镜二次电子信号电子束激发电子显微镜光电探测器激光干涉仪平面反射镜测量数据超声电机二维激光国家基准扫描运动样品表面样品扫描激光器窗口片干涉镜真空窗玻璃窗舱门探测器步进粗调反射光源光纤计量采集穿过干涉引入配合

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