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  • 2 篇 新华三技术有限公...
  • 1 篇 国际商业机器公司
  • 1 篇 深圳市飞思卓科技...

作者

  • 2 篇 周木子
  • 2 篇 张久仙
  • 2 篇 徐真真
  • 1 篇 r·c·弗尔考
  • 1 篇 b·h·莱腾
  • 1 篇 杨德瑞
  • 1 篇 鲁光辉
  • 1 篇 t·n·桑托斯

语言

  • 4 篇 中文
检索条件"主题词=介质访问控制芯片"
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用于操作双芯片组网络接口控制器的方法和系统
用于操作双芯片组网络接口控制器的方法和系统
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作者： R·C·弗尔考 B·H·莱腾 T·N·桑托斯 美国纽约
本发明涉及一种用于操作双芯片组网络接口控制器的方法和系统。操作包括高性能介质访问控制芯片组和低性能介质访问控制芯片组的双芯片组网络接口控制器(“NIC”)，包括：NIC控制模块确定由所述NIC处理的网络业务量；所述NIC控制模块确... 详细信息
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电口模块测试电路及测试装置
电口模块测试电路及测试装置
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作者： 杨德瑞 鲁光辉 518000 广东省深圳市宝安区新安67区留仙一路甲岸科技园3号厂房3楼A区
本实用新型涉及电子电路，公开了一种电口模块测试电路及测试装置。电口模块测试电路包括介质访问控制芯片、信号处理模块、磁珠模块、开关模块和金手指模块，介质访问控制芯片与信号处理模块、磁珠模块、开关模块和金手指模块连接，信... 详细信息
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预加重系数测试方法、装置及通信设备
预加重系数测试方法、装置及通信设备
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作者： 张久仙 徐真真 周木子 310052 浙江省杭州市滨江区长河路466号
本申请提供一种预加重系数测试方法、装置及通信设备，该通信设备包括介质访问控制芯片及物理层芯片。所述方法包括：将介质访问控制芯片和物理层芯片中的一方作为发送端，另一方作为接收端，控制发送端向接收端发送眼图测试信号；控制... 详细信息
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预加重系数测试方法、装置及通信设备
预加重系数测试方法、装置及通信设备
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作者： 张久仙 徐真真 周木子 310052 浙江省杭州市滨江区长河路466号
本申请提供一种预加重系数测试方法、装置及通信设备，该通信设备包括介质访问控制芯片及物理层芯片。所述方法包括：将介质访问控制芯片和物理层芯片中的一方作为发送端，另一方作为接收端，控制发送端向接收端发送眼图测试信号；控制... 详细信息
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