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T=题名（书名、题名），A=作者（责任者），K=主题词，P=出版物名称，PU=出版社名称，O=机构（作者单位、学位授予单位、专利申请人），L=中图分类号，C=学科分类号，U=全部字段，Y=年（出版发行年、学位年度、标准发布年）

检索规则说明：

AND代表“并且”；OR代表“或者”；NOT代表“不包含”；(注意必须大写,运算符两边需空一格)

检索范例：

范例一：(K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 AND Y=1982-2016
范例二：P=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT K=Visual AND Y=2011-2016

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文献类型

11 篇 专利

馆藏范围

11 篇 电子文献
0 种 纸本馆藏

日期分布

机构

4 篇 芯成半导体有限公...
3 篇 北京昆腾微电子有...
1 篇 海力士半导体有限...
1 篇 富士通微电子株式...
1 篇 富士通株式会社
1 篇 恩益禧电子股份有...

作者

4 篇 童明照
3 篇 刘忠志
3 篇 谭洪贺
2 篇 江渡聪
2 篇 三代俊哉
2 篇 铃木孝章
2 篇 佐藤绫子
2 篇 米田隆之
2 篇 中村俊和
2 篇 山崎雅文
2 篇 川村典子
1 篇 具岐峰
1 篇 峰一雅

语言

11 篇 中文

检索条件"主题词=内部测试模式"

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详细简洁

排序：

进入ASRAM芯片内部测试模式的电路

进入ASRAM芯片内部测试模式的电路

引用

作者：童明照 201203 上海市浦东新区张江高科技园区松涛路647弄12号-13号

本发明的进入ASRAM芯片内部测试模式的电路，包括地址代码比较器，用于检测ASRAM芯片中地址线上的代码与预定义的验证代码是否匹配；测试模式检测器，用于判断是否进入内部测试模式；测试模式时钟生成器，用于产生用于所述测试模式译码... 详细信息

标准号: CN102831927A

本发明的进入ASRAM芯片内部测试模式的电路，包括地址代码比较器，用于检测ASRAM芯片中地址线上的代码与预定义的验证代码是否匹配；测试模式检测器，用于判断是否进入内部测试模式；测试模式时钟生成器，用于产生用于所述测试模式译码器的时钟信号；以及测试模式译码器，用于产生测试控制信号。本发明的电路，利用ASRAM芯片中已有的pin脚，并通过一段特殊代码来触发进入其内部测试模式，降低产品测试的难度。

关键词：内部测试模式测试模式译码器测试模式芯片电路检测器测试控制信号时钟生成器产品测试地址代码时钟信号特殊代码验证代码比较器地址线触发匹配检测

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进入ASRAM芯片内部测试模式的方法

进入ASRAM芯片内部测试模式的方法

引用

作者：童明照 201203 上海市浦东新区张江高科技园区松涛路647弄12号-13号

本发明公开了一种进入ASRAM芯片内部测试模式的方法，包括：步骤一，当ASRAM芯片的写周期使能脚输入一个低电平时，在ASRAM芯片的读周期输出使能脚输入2个以上连续的下降沿，且下降沿的同时在地址线上对应有连续的代码，同时所述代码和... 详细信息

标准号: CN102831934A

本发明公开了一种进入ASRAM芯片内部测试模式的方法，包括：步骤一，当ASRAM芯片的写周期使能脚输入一个低电平时，在ASRAM芯片的读周期输出使能脚输入2个以上连续的下降沿，且下降沿的同时在地址线上对应有连续的代码，同时所述代码和预定义在所述ASRAM芯片上的验证代码一致时，启动内部测试模式的使能信号，内部测试模式窗口打开；步骤二，在随后读周期输出使能脚输入上升沿时，锁存同时在所述地址线上输入的测试模式代码，并根据所述测试模式代码触发进入具体测试模式。本发明的方法，利用ASRAM芯片本身现有的pin脚，通过代码触发进入内部测试模式，降低了产品测试的难度。

关键词：内部测试模式芯片测试模式地址线触发产品测试验证代码锁存

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进入ASRAM芯片内部测试模式的电路

进入ASRAM芯片内部测试模式的电路

引用

作者：童明照 201203 上海市浦东新区张江高科技园区松涛路647弄12号-13号

标准号: CN102831927B

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进入ASRAM芯片内部测试模式的方法

进入ASRAM芯片内部测试模式的方法

引用

作者：童明照 201203 上海市浦东新区张江高科技园区松涛路647弄12号-13号

标准号: CN102831934B

关键词：内部测试模式芯片测试模式地址线触发产品测试验证代码锁存

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芯片及其测试模式保护电路

芯片及其测试模式保护电路

引用

作者：谭洪贺刘忠志 100195 北京市海淀区玉泉山路23号4号楼

本实用新型涉及一种芯片及其测试模式保护电路。其中，保护电路包括：动态信号产生器，设置在芯片中，用于生成随机的第一动态信号，根据第一动态信号，生成第二动态信号；有效金属线，设置在芯片的划片槽中，用于将第一动态信号从芯片... 详细信息

标准号: CN203179877U

本实用新型涉及一种芯片及其测试模式保护电路。其中，保护电路包括：动态信号产生器，设置在芯片中，用于生成随机的第一动态信号，根据第一动态信号，生成第二动态信号；有效金属线，设置在芯片的划片槽中，用于将第一动态信号从芯片中延伸至划片槽，将由第一动态信号驱动的第三动态信号从划片槽反馈回芯片中；动态信号比较器，设置在芯片中，用于接收第二动态信号和第三动态信号，将第二动态信号与第三动态信号进行比较，生成测试模式控制信号；控制电路，设置在芯片中，用于根据测试模式控制信号和外部测试模式使能信号，生成内部测试模式使能信号。本实用新型可以大大提高进入芯片的测试模式的难度，从而提升芯片的安全性。

关键词：动态信号芯片测试模式划片控制信号电路内部测试模式外部测试模式控制电路有效金属比较器反馈延伸

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芯片及其测试模式保护电路和方法

芯片及其测试模式保护电路和方法

引用

作者：谭洪贺刘忠志 100195 北京市海淀区玉泉山路23号4号楼

本发明涉及一种芯片及其测试模式保护电路和方法。其中，保护电路包括：动态信号产生器，设置在芯片中，用于生成随机的第一动态信号，根据第一动态信号，生成第二动态信号；有效金属线，设置在芯片的划片槽中，用于将第一动态信号从芯... 详细信息

标准号: CN103227167B

本发明涉及一种芯片及其测试模式保护电路和方法。其中，保护电路包括：动态信号产生器，设置在芯片中，用于生成随机的第一动态信号，根据第一动态信号，生成第二动态信号；有效金属线，设置在芯片的划片槽中，用于将第一动态信号从芯片中延伸至划片槽，将由第一动态信号驱动的第三动态信号从划片槽反馈回芯片中；动态信号比较器，设置在芯片中，用于接收第二动态信号和第三动态信号，将第二动态信号与第三动态信号进行比较，生成测试模式控制信号；控制电路，设置在芯片中，用于根据测试模式控制信号和外部测试模式使能信号，生成内部测试模式使能信号。本发明可以大大提高进入芯片的测试模式的难度，从而提升芯片的安全性。

关键词：动态信号芯片测试模式划片控制信号电路内部测试模式外部测试模式控制电路有效金属比较器反馈延伸

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半导体集成电路

半导体集成电路

引用

作者：峰一雅日本神奈川

一种包含附加用户逻辑电路的微型计算机，在微型计算机内部测试模式中可独立地对附加用户逻辑电路和微型计算机进行测试。在附加用户逻辑电路和微型计算机之间提供有一个专用连接逻辑电路，其与微型计算机的一条内部总线耦合。为测试附... 详细信息

标准号: CN1147790C

一种包含附加用户逻辑电路的微型计算机，在微型计算机内部测试模式中可独立地对附加用户逻辑电路和微型计算机进行测试。在附加用户逻辑电路和微型计算机之间提供有一个专用连接逻辑电路，其与微型计算机的一条内部总线耦合。为测试附加用户逻辑电路，使用一个读出/写入信号和微型计算机的一个总线/端口转换接头实现读出/写入操作。同时，在专用连接逻辑电路中提供有一个总线检测寄存器。为测试微型计算机，检测寄存器的一个输出被读出至专用连接逻辑电路的一条总线从而进行总线检测。

关键词：微型计算机电路附加用户总线连接总线检测寄存器内部测试模式内部总线写入操作转换接头耦合寄存器检测

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半导体器件

半导体器件

引用

作者：具岐峰韩国京畿道利川市

本发明提供一种半导体器件，其包括：多个引脚，其用于接收多个外部安装测试信号；信号产生单元，其用于响应于所述外部安装测试信号而产生多个内部安装测试模式信号；以及解码单元，其用于解码该多个内部安装测试模式信号以输出多个内... 详细信息

标准号: CN101210953B

本发明提供一种半导体器件，其包括：多个引脚，其用于接收多个外部安装测试信号；信号产生单元，其用于响应于所述外部安装测试信号而产生多个内部安装测试模式信号；以及解码单元，其用于解码该多个内部安装测试模式信号以输出多个内部测试模式信号，其中该半导体器件响应于所述内部测试模式信号而进入安装测试模式，用以评估安装于实际应用装置上的该半导体器件的操作。

关键词：半导体器件测试模式信号内部测试模式测试信号信号产生单元解码测试模式解码单元应用装置响应外部引脚内部评估

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半导体器件

半导体器件

引用

作者：山崎雅文铃木孝章中村俊和江渡聪三代俊哉佐藤绫子米田隆之川村典子日本神奈川

逻辑芯片和被此逻辑芯片存取的存储芯片安装在同一封装中。在第一测试方式下逻辑芯片的模式发生器运行以便为存储芯片产生内部测试模式。模式选择器在第一测试方式下选择从模式发生器输出的内部测试模式，在第二测试方式下选择通过测试... 详细信息

标准号: CN1279614C

逻辑芯片和被此逻辑芯片存取的存储芯片安装在同一封装中。在第一测试方式下逻辑芯片的模式发生器运行以便为存储芯片产生内部测试模式。模式选择器在第一测试方式下选择从模式发生器输出的内部测试模式，在第二测试方式下选择通过测试终端提供的外部测试模式，并把所选择的测试模式输出到存储芯片。根据方式选择信号，使用在逻辑芯片中产生的内部测试模式(第一测试模式)或者从外部提供的外部测试模式(第二测试模式)，安装在封装中的存储芯片得到测试。

关键词：存储芯片逻辑芯片内部测试模式测试方式测试模式外部测试模式模式发生器封装方式选择信号模式选择器测试终端存取外部

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芯片及其测试模式保护电路和方法

芯片及其测试模式保护电路和方法

引用

作者：谭洪贺刘忠志 100195 北京市海淀区玉泉山路23号4号楼

标准号: CN103227167A

关键词：动态信号芯片测试模式划片控制信号电路内部测试模式外部测试模式控制电路有效金属比较器反馈延伸

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