检索结果-内蒙古大学图书馆

作者：黄晶冯春阳彭琅王俊杰张兴革刘刚 215163 江苏省苏州市高新区科技城学森路9号3号楼

本发明提供了一种定浮点转换电路的功能覆盖率模型测试点提取方法及系统，该方法包括：根据定浮点转换电路的输入信号类型确定定浮点转换电路的各基本测试点；根据定浮点转换电路的转换功能确定定浮点转换电路的各功能测试点；根据各基... 详细信息

标准号: CN109901054A

本发明提供了一种定浮点转换电路的功能覆盖率模型测试点提取方法及系统，该方法包括：根据定浮点转换电路的输入信号类型确定定浮点转换电路的各基本测试点；根据定浮点转换电路的转换功能确定定浮点转换电路的各功能测试点；根据各基本测试点及各功能测试点，构成操作数覆盖仓。通过实施本发明，通过分别提取基本测试点和功能测试点的方式，对复杂定浮点转换电路的测试点进行了细化，所提取操作数覆盖仓中的各个测试点能够对定浮点转换电路进行精细，全面的验证，提高了对功能测试的准确性。

关键词：转换电路浮点测试点功能测试操作数功能覆盖率模型输入信号类型转换功能覆盖细化精细验证

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对芯片进行功能覆盖率模型验证的方法和装置

对芯片进行功能覆盖率模型验证的方法和装置

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作者：耿介 266100 山东省青岛市崂山区株洲路151号

本发明实施例提供一种对芯片进行功能覆盖率模型验证的方法和装置。本发明对芯片进行功能覆盖率模型验证的方法，包括：从芯片的统一电源管理格式UPF文件中提取用于描述电源策略的UPF指令；根据所述UPF指令确定电源状态表，所述电源状... 详细信息

标准号: CN107862155A

本发明实施例提供一种对芯片进行功能覆盖率模型验证的方法和装置。本发明对芯片进行功能覆盖率模型验证的方法，包括：从芯片的统一电源管理格式UPF文件中提取用于描述电源策略的UPF指令；根据所述UPF指令确定电源状态表，所述电源状态表包括多个电源状态，每个电源状态由各个电源域的目标开关状态组成；根据所述电源状态表生成功能覆盖率模型对应的文件；使用逻辑设计的层次结构中各个电源域的实际开关状态实例化所述功能覆盖率模型对应的文件，对所述芯片进行功能覆盖率模型验证，并生成所述芯片的功能覆盖率报告。本发明实施例可以实现无需人工参与，自动化生成功能覆盖率模型，有效提高验证效率。

关键词：功能覆盖率模型电源状态芯片验证电源域逻辑设计方法和装置功能覆盖率层次结构电源策略电源管理目标开关人工参与实际开关指令确定表生成实例化自动化指令统一

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使用支持向量机的微处理器验证向量优化方法

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高技术通讯 2010年第1期20卷 68-74页

作者：王朋宇郭崎沈海华陈云霁张珩中国科学院计算技术研究所计算机系统结构重点实验室北京100190 中国科学院研究生院北京100039

为了解决微处理器仿真验证中随机验证向量质量不高的问题,提出了一种基于支持向量机(SVM)的验证向量优化方法。该方法将已仿真运行的验证向量及其覆盖率信息作为支持向量机的样本进行有监督学习,得到验证向量关于功能覆盖点的分类器。... 详细信息

为了解决微处理器仿真验证中随机验证向量质量不高的问题,提出了一种基于支持向量机(SVM)的验证向量优化方法。该方法将已仿真运行的验证向量及其覆盖率信息作为支持向量机的样本进行有监督学习,得到验证向量关于功能覆盖点的分类器。利用训练后的分类器对于新产生的验证向量进行预测,并丢弃预测中不能提高覆盖率的冗余验证向量。实验数据表明该方法能准确地过滤冗余验证向量,提高仿真运行的验证向量的质量。和完全随机的验证向量生成方法相比,该方法达到相同的功能覆盖率仅需要前者1/3的验证向量。

关键词：支持向量机(SVM) 功能覆盖率模型微处理器验证仿真验证验证向量优化

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芯片功能测试方法、装置和存储介质

芯片功能测试方法、装置和存储介质

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作者：请求不公布姓名 100080 北京市海淀区翠微中里14号楼四层B655

本公开涉及一种芯片功能测试方法、装置和存储介质。该方法包括：确定激励的数据结构以及针对激励的约束，激励表示用于触发芯片的输入信号；基于激励的数据结构，确定测试对象，测试对象包括单一测试对象和组合测试对象，测试对象具有... 详细信息

标准号: CN117873900A

本公开涉及一种芯片功能测试方法、装置和存储介质。该方法包括：确定激励的数据结构以及针对激励的约束，激励表示用于触发芯片的输入信号；基于激励的数据结构，确定测试对象，测试对象包括单一测试对象和组合测试对象，测试对象具有对应的仓；根据针对激励的约束，确定目标测试对象的忽略仓，以创建功能覆盖率模型，其中，忽略仓为不计入功能覆盖率统计的仓，功能覆盖率模型用于对芯片进行功能覆盖率验证，得到测试结果。根据本申请实施例，可以实现根据芯片配置约束来自动、精确地创建忽略仓，减少了误添加或少添加忽略仓的可能。可以在提升准确率的同时，减少功能覆盖率模型的建模时间，提高效率，使针对芯片功能的测试更加全面、准确。

关键词：功能覆盖率模型测试对象数据结构芯片功能功能覆盖率统计目标测试对象组合测试对象功能覆盖率测试触发芯片存储介质单一测试芯片配置准确率建模创建芯片验证申请

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芯片验证方法、装置及服务器

芯片验证方法、装置及服务器

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作者：朱佳齐黄运新 518000 广东省深圳市龙岗区腾飞路9号创投大厦3501室

本申请实施例涉及芯片技术领域，公开了一种芯片验证方法、装置及服务器，该芯片验证方法，包括：获取功能覆盖率模型；根据功能覆盖率模型，确定所有需要覆盖的功能点；根据所有需要覆盖的功能点，生成回归文件，其中，回归文件包括：... 详细信息

标准号: CN113868061B

本申请实施例涉及芯片技术领域，公开了一种芯片验证方法、装置及服务器，该芯片验证方法，包括：获取功能覆盖率模型；根据功能覆盖率模型，确定所有需要覆盖的功能点；根据所有需要覆盖的功能点，生成回归文件，其中，回归文件包括：所有功能点的测试用例；基于回归文件，进行回归测试；统计功能覆盖率，以确认功能覆盖率满足预设要求。通过利用功能覆盖率模型，确定所有需要覆盖的功能点，并生成回归文件，该回归文件包括所有功能点的测试用例，以进行回归测试，本申请实施例能够减少迭代次数，并且，能够满足预设要求的功能覆盖率，提高芯片验证的效率。

关键词：功能点功能覆盖率模型功能覆盖率芯片验证回归回归测试预设要求覆盖芯片技术领域测试迭代申请服务器统计

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芯片验证方法、装置及服务器

芯片验证方法、装置及服务器

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作者：朱佳齐黄运新 518000 广东省深圳市龙岗区腾飞路9号创投大厦3501室

标准号: CN113868061A

关键词：功能点功能覆盖率模型功能覆盖率芯片验证回归回归测试预设要求覆盖芯片技术领域测试迭代申请服务器统计

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一种PCIE验证方法

一种PCIE验证方法

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作者：陈崇传 266000 山东省青岛市城阳区重庆北路119号

本发明涉及一种基于UVM验证方法学的PCIE验证方法，其特征在于采用验证方法学UVM和系统级硬件描述语言，利用高级可扩展接口总线行为模型构建验证环境平台，对PCIE模块实施功能验证，所述验证环境平台包括：测试用例、序列产生器、AXI... 详细信息

标准号: CN106709120A

本发明涉及一种基于UVM验证方法学的PCIE验证方法，其特征在于采用验证方法学UVM和系统级硬件描述语言，利用高级可扩展接口总线行为模型构建验证环境平台，对PCIE模块实施功能验证，所述验证环境平台包括：测试用例、序列产生器、AXI驱动模块、PIPE驱动模块、AXI监测模块、PIPE监测模块、PCIE参考模型、记分板和功能覆盖率模块。本发明运行UVM验证方法学，能够实现一个层次化的验证结构，可以较简单的移植并验证不同配置的PCIE，并且通过约束产生随机数据包激励，可以实现遍历所有指令以及地址，另外功能覆盖率模型能够收集并监测覆盖率。

关键词：验证方法学环境平台监测模块驱动模块功能覆盖率模型硬件描述语言功能覆盖率可扩展接口序列产生器参考模型功能验证行为模型层次化记分板配置的数据包系统级总线遍历构建移植指令覆盖率测试监测

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覆盖率驱动的FPGA及类似ASIC验证方法

覆盖率驱动的FPGA及类似ASIC验证方法

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作者：李国段清华王鑫杨平杨尚罡 610000 四川省成都市高新区益州大道中段1800号1栋22层

覆盖率驱动的FPGA及类似ASIC验证方法，涉及FPGA技术，本发明包括以下步骤：(1)将电路图转化为Verilog模型，以脚本方式自动根据输入端口生成功能覆盖率模型；(2)构造验证环境，将电路图和Verilog模型同时做为待测设计，在验证环境中例... 详细信息

标准号: CN107958097A

覆盖率驱动的FPGA及类似ASIC验证方法，涉及FPGA技术，本发明包括以下步骤：(1)将电路图转化为Verilog模型，以脚本方式自动根据输入端口生成功能覆盖率模型；(2)构造验证环境，将电路图和Verilog模型同时做为待测设计，在验证环境中例化；(3)在验证环境中产生激励，然后收集待测设计的输出数据，在验证环境的计分板和后处理脚本中进行对比；(4)在步骤(3)执行的同时，收集Verilog模型的功能覆盖率和结构覆盖率。(5)当功能覆盖率和结构覆盖率达到既定要求时，即认为定制电路已满足设计要求，停止仿真。本发明具有高效充分的特点。

关键词：验证功能覆盖率电路图脚本覆盖率功能覆盖率模型后处理定制电路输出数据输入端口计分板例化驱动转化

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一种PCIE验证方法

一种PCIE验证方法

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作者：李东 266100 山东省青岛市城阳区春阳路280-6号

标准号: CN105528285A

关键词：验证方法监测模块驱动模块验证环境高级可扩展接口功能覆盖率模型硬件描述语言功能覆盖率序列产生器不同配置参考模型测试用例功能验证行为模型验证结构总线层次化记分板数据包系统级遍历构建一种验证指令覆盖率移植监测收集约束激励运行涉及产生

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一种PCIE验证方法

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作者：高璐 266000 山东省青岛市城阳区铁骑山路165号5号楼1单元101

标准号: CN108614901A

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