检索结果-内蒙古大学图书馆

本实用新型属于半导体测试技术领域，特别涉及一种用于晶体管参数测试的半导体参数测试系统，包括探针系统、数字源表、PC机、温度控制装置、抽真空装置和软件系统；抽真空装置将半导体器件吸附在探针系统中的样品台上；探针系统中的传输线按照测试电路与数字源表的接线口相连；数字源表通过GPIB接口与PC机相连，利用数字源表的电源功能把电压或电流通过探针加载在半导体器件的电极上，同时利用数字源表的万用表功能进行数据采集；样品台中设有加热丝和热电偶棒，通过温度控制装置对样品台的温度进行控制，温度控制装置通过RS232接口与PC机相连。整个测试系统都是由PC机进行控制，最后在PC机上显示、分析和保存测试数据。本实用新型可以使半导体测试成为自动化测试过程，使测试变得更方便、更高效的同时，大幅度地降低测试成本。

关键词：数字源表温度控制装置探针系统半导体测试半导体器件抽真空装置测试系统进行控制传输线半导体参数晶体管参数万用表功能自动化测试测试成本测试电路测试数据电源功能软件系统数据采集加热丝热电偶样品台电极加载接线探针吸附电流电压分析

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

半导体参数检测夹具

半导体参数检测夹具

引用

作者：夏富强张涛朱文广 211806 江苏省南京市浦口区大余所路5号A7栋2楼

本实用新型涉及半导体检测夹具技术领域，尤其为半导体参数检测夹具，包括夹具工件台，夹具工件台上设有用于对半导体参数检测进行夹固的夹固组件，夹具工件台四周底部均连接有用于进行支撑的支撑机构,本实用新型通过设置限定板对半导... 详细信息

标准号: CN218003485U

本实用新型涉及半导体检测夹具技术领域，尤其为半导体参数检测夹具，包括夹具工件台，夹具工件台上设有用于对半导体参数检测进行夹固的夹固组件，夹具工件台四周底部均连接有用于进行支撑的支撑机构,本实用新型通过设置限定板对半导体板一端进行限定，当半导体板一端与限定板相接时，半导体板卡合于限位螺栓螺帽底部与夹具工件台之间，此时驱动电机驱动第一滑块和第二滑块向内部运动，第一夹固杆和第二夹固杆跟随第一滑块和第二滑块向内部运动对半导体板两侧进行夹固，结构简单，使用操作方便，解决以往需要人工通过螺栓进行夹固的方式，通过两侧夹固的方式，可适用于多种尺寸半导体板的限位夹固。

关键词：夹具半导体板夹固工件台半导体参数本实用新型第二滑块第一滑块夹固杆限定板夹具技术领域螺帽半导体检测尺寸半导体螺栓夹固组件检测夹具驱动电机限位螺栓支撑机构限位夹卡合驱动检测支撑

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

半导体参数测试机构

半导体参数测试机构

引用

作者：陈伟徐勇叶建国韩宙 214400 江苏省无锡市江阴市高新区澄山路609号

本实用新型涉及的一种半导体参数测试机构，包括输送流道，沿输送流道的输料方向依次设置有第一缓冲组件、定位组件、第二缓冲组件，所述定位组件的上方设置有参数测试组件，所述第一缓冲组件用以控制待测产品有序输送，通过定位组件将... 详细信息

标准号: CN211698061U

本实用新型涉及的一种半导体参数测试机构，包括输送流道，沿输送流道的输料方向依次设置有第一缓冲组件、定位组件、第二缓冲组件，所述定位组件的上方设置有参数测试组件，所述第一缓冲组件用以控制待测产品有序输送，通过定位组件将待测产品进行定位，参数测试组件对其进行参数测试，所述第二缓冲组件用以控制已测产品有序输送。本实用新型一种半导体参数测试机构具有自动化、减小测量误差、提高生产效率的优点。

关键词：缓冲组件参数测试定位组件半导体参数本实用新型测试机构待测产品输送流道生产效率依次设置减小输料自动化测量

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

一种半导体参数测试机构及方法

一种半导体参数测试机构及方法

引用

作者：严海华任延坤张立仁 518000 广东省深圳市宝安区松岗街道红星社区蚝涌第一工业区新高开源制品厂厂房三101-201

本发明属于半导体检测技术领域，且公开了一种半导体参数测试机构，包括基座，所述基座通过弹簧伸缩杆一连接有盖板，还包括引导组件。本发明还提供了一种半导体参数测试机构的使用方法。本发明通过设置传动组件和引导组件等结构的配合... 详细信息

标准号: CN117630648A

本发明属于半导体检测技术领域，且公开了一种半导体参数测试机构，包括基座，所述基座通过弹簧伸缩杆一连接有盖板，还包括引导组件。本发明还提供了一种半导体参数测试机构的使用方法。本发明通过设置传动组件和引导组件等结构的配合，盖板通过传动组件收卷对接绳，波纹管被压缩，且其顶部带动加固块向装置的中心部分靠近，并逐渐固定芯片的位置，波纹管内部的空气通过加固块的槽口排出，并吹向芯片，弹簧伸缩杆二带动对接线路板同向移动，其底部与芯片的引脚对接，对接线路板的底部与加固块贴合，进而避免灰尘进入其底部并干预测试数值，能够使得半导体芯片的测试对接更加稳定，且不易因灰尘而出现装置以及芯片的损坏。

关键词：半导体参数弹簧伸缩杆线路板测试机构传动组件引导组件盖板芯片波纹管测试半导体检测半导体芯片固定芯片空气通过同向移动对接绳槽口排出收卷贴合引脚压缩干预配合

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

半导体测试结构及半导体参数测试方法

半导体测试结构及半导体参数测试方法

引用

作者：姜中鹏汪恒 230601 安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号

本公开是关于半导体技术领域，涉及一种半导体测试结构及半导体参数测试方法，该测试结构包括有源层、栅极结构、多各引线组以及导电连接层，其中：有源层包括有源组，有源组包括多个沿第一方向间隔分布的有源区；栅极结构在有源组上的... 详细信息

标准号: CN116230575A

本公开是关于半导体技术领域，涉及一种半导体测试结构及半导体参数测试方法，该测试结构包括有源层、栅极结构、多各引线组以及导电连接层，其中：有源层包括有源组，有源组包括多个沿第一方向间隔分布的有源区；栅极结构在有源组上的正投影贯穿多个有源区；各引线组分别位于各有源区上，并与有源区接触连接，且各引线组均位于栅极结构的同一侧；导电连接层位于引线组远离有源层的一侧，且包括多个沿第一方向间隔分布的第一导电连接部，第一导电连接部连接于相邻的两个引线组之间，以将各有源区串联。本公开的半导体测试结构可提高引线组的电学参数的测试结果的准确率。

关键词：引线组源区栅极结构源层源组半导体测试结构导电连接部导电连接层方向间隔半导体技术领域半导体参数测试结构电学参数源区接触正投影准确率串联测试贯穿

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

一种新的半导体参数测试硬件架构系统

一种新的半导体参数测试硬件架构系统

引用

作者：柯伟 314499 浙江省嘉兴市海宁市海宁经济开发区双联路128号科创中心B座339室

本申请公开了一种新的半导体参数测试硬件架构系统，其包括测试模块和开关矩阵，所述测试模块包括源测量单元(SUM)、数字万用表、电容测量单元和脉冲发生器单元(测试模块包括但不限于以上测试单元)，所述开关矩阵上连接有弹簧针(pogo p... 详细信息

标准号: CN116794470A

本申请公开了一种新的半导体参数测试硬件架构系统，其包括测试模块和开关矩阵，所述测试模块包括源测量单元(SUM)、数字万用表、电容测量单元和脉冲发生器单元(测试模块包括但不限于以上测试单元)，所述开关矩阵上连接有弹簧针(pogo pin)测试导线。

关键词：测试模块开关矩阵脉冲发生器单元电容测量单元半导体参数数字万用表测量单元测试单元测试导线测试硬件架构系统弹簧针申请

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

半导体测试结构及半导体参数测试方法

半导体测试结构及半导体参数测试方法

引用

作者：姜中鹏汪恒 230601 安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号

标准号: CN116230575B

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

基于解释型高级语言的半导体参数测试方法及系统

基于解释型高级语言的半导体参数测试方法及系统

引用

作者：许文政章英杰李淼 201311 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区临港新片区环湖西二路888号C楼

本发明公开一种基于解释型高级语言的半导体参数测试方法及系统，方法包括以下步骤：获取当前测试的相关硬件设备，进行设备管理以实现与所述相关硬件设备的通讯；获取定制化测试算法，其中所述定制化测试算法是基于beanshell脚本调用... 详细信息

标准号: CN117931623A

本发明公开一种基于解释型高级语言的半导体参数测试方法及系统，方法包括以下步骤：获取当前测试的相关硬件设备，进行设备管理以实现与所述相关硬件设备的通讯；获取定制化测试算法，其中所述定制化测试算法是基于beanshell脚本调用系统中预置的测试流程开发模块和内置编程接口模块编写实现；运行所述定制化测试算法，通过预置的beanshell解释器对所述定制化测试算法进行边解释边运行；输出所述定制化测试算法的测试结果。用户能够编写脚本程序与利用高级语言编写的接口模块、开发模块和高级语言解释模块实现定制化测试流程，无需程序编译过程，代码可读性和可维护性高，无需第三方的开发工具，实现高效实时的测试流程编辑与调试。

关键词：定制化测试算法测试流程高级语言开发模块硬件设备预置测试方法及系统编程接口模块半导体参数程序编译脚本程序脚本调用接口模块解释模块开发工具可维护性设备管理第三方解释器内置可读性调试测试输出通讯

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

脉冲I-V与脉冲C-V半导体参数自动测量装置和方法

脉冲I-V与脉冲C-V半导体参数自动测量装置和方法

引用

作者：魏小莽赵策洲周云龙 215123 江苏省苏州市工业园区独墅湖高等教育区仁爱路111号

本发明公开了一种脉冲 I-V 与脉冲 C-V 半导体参数自动测量装置，包括脉冲信号发生模块、电流转换模块、数据采集模块和计算机控制模块；还公开了脉冲 I-V 与脉冲 C-V 半导体参数自动测量方法，在计算机控制模块上设置各模块的参数，... 详细信息

标准号: CN102116827B

本发明公开了一种脉冲 I-V 与脉冲 C-V 半导体参数自动测量装置，包括脉冲信号发生模块、 电流转换模块 、数据采集模块和计算机控制模块；还公开了脉冲 I-V 与脉冲 C-V 半导体参数自动测量方法，在计算机控制模块上设置各模块的参数，并初始化，计算机控制模块向脉冲信号发生模块发送 测试指令 ，使其输出脉冲信号给待测器件，电流转换模块将待测器件的微电流放大，转换为电压信号后输出，数据采集模块将接收的信号转化成数字信号后传送给计算机控制模块；计算机控制模块保存、计算数据，在屏幕上显示波形曲线。本发明的装置造价便宜，测量方便快速，整个实验过程自动进行，数据自动处理并直接显示特性曲线，提高了测试效率。

关键词：计算机控制模块脉冲脉冲信号电流转换模块数据采集模块半导体参数数据自动处理自动测量方法自动测量装置屏幕上显示波形曲线测试效率测试指令电压信号计算数据实验过程数字信号特性曲线装置造价初始化电流放大转换转化

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

建议与咨询留下您的常用邮箱和电话号码，以便我们向您反馈解决方案和替代方法

时间限定

文献类型

馆藏选择

核心期刊

语言

文献类型

帮助

文字说明：

检索规则说明：

检索范例：

分类表

所选分类

限定检索结果

文献类型

馆藏范围

日期分布

学科分类号

主题

机构

作者

语言

请选择保存的检索档案：

请选择收藏分类：

通借通还

建议与咨询 留下您的常用邮箱和电话号码，以便我们向您反馈解决方案和替代方法

时间限定

文献类型

馆藏选择

核心期刊

语言

文献类型

帮助

文字说明：

检索规则说明：

检索范例：

分类表

所选分类

限定检索结果

文献类型

馆藏范围

日期分布

学科分类号

主题

机构

作者

语言

请选择保存的检索档案： 新增检索档案 确定 取消

请选择收藏分类： 新增自定义分类 确定 取消

通借通还

建议与咨询留下您的常用邮箱和电话号码，以便我们向您反馈解决方案和替代方法

请选择保存的检索档案：

请选择收藏分类：