检索结果-内蒙古大学图书馆

作者：李炳勋陈柏玮叶明昇施翔文林士超 215000 江苏省苏州市高新区竹园路9-1号狮山工业园六号厂房

本发明公开了一种半导体集成电路测试装置包括一测试机与一数据传输模块。测试机设置有包括一处理模块与一测试接口的一测试单板，其中该处理模块电性连接该测试接口，该测试接口用以电性连接一待测物，且该处理模块用以通过该测试接口... 详细信息

标准号: CN110824330A

本发明公开了一种半导体集成电路测试装置包括一测试机与一数据传输模块。测试机设置有包括一处理模块与一测试接口的一测试单板，其中该处理模块电性连接该测试接口，该测试接口用以电性连接一待测物，且该处理模块用以通过该测试接口自该待测物取得一测试数据。该数据传输模块包括一第一通讯接口与一第二通讯接口，该第一通讯接口电性连接该测试接口，且该第二通讯接口用于电性连接一外部电子装置，以供该处理模块通过该数据传输模块将该测试数据提供给该外部电子装置。本发明还公开了一种半导体集成电路测试系统包含上述集成电路测试装置及一通讯装置。

关键词：测试接口处理模块电性连接通讯接口数据传输模块半导体集成电路测试外部电子装置测试数据待测物集成电路测试装置测试机设置测试单板通讯装置测试机

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一种半导体集成电路测试系统

一种半导体集成电路测试系统

作者：曲虹亮 518000 广东省深圳市宝安区石岩街道塘头社区宏发科技工业园G栋四楼、H2栋三楼

本发明涉及半导体技术领域，具体涉及一种半导体集成电路测试系统，包括EMI和RFI滤波补偿模块：使用主动噪声控制ANC或适应性噪声消除ANE的适应性滤波技术，对实际接收包含EMI和RFI信号的测试数据进行滤波处理以减少干扰后，输出滤波后... 详细信息

标准号: CN118330447A

本发明涉及半导体技术领域，具体涉及一种半导体集成电路测试系统，包括EMI和RFI滤波补偿模块：使用主动噪声控制ANC或适应性噪声消除ANE的适应性滤波技术，对实际接收包含EMI和RFI信号的测试数据进行滤波处理以减少干扰后，输出滤波后的测试数据并传输至神经网络预测校准模块中；本发明通过设置EMI和RFI滤波补偿模块、环境参数调控模块和待测位置检测误差补正模块，综合的避免测试过程中的电磁干扰或射频干扰的影响、测试环境的不稳定影响和测试位置误差影响的问题，实现了有效滤波能够降低干扰的测量结果，提高测量数据的准确性，实现了实时调控温度、湿度的环境参数的功能，确保了测试环境的稳定性。

关键词：滤波补偿模块测试环境测试数据环境参数半导体集成电路测试半导体技术领域神经网络预测主动噪声控制补正模块测量数据测试过程测试位置待测位置电磁干扰调控模块检测误差减少干扰降低干扰滤波处理滤波技术射频干扰实时调控输出滤波误差影响校准模块噪声消除滤波传输

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作者：孙瑞 362100 福建省泉州市惠安县城北高新工业园区工业路1号

本发明公开了一种半导体集成电路测试装置，其结构包括处理箱、放置板、控制按钮、底座、导线板，底座上设有放置板，放置板与底座间隙配合，导线板安装在底座上，底座与导线板活动连接，底座的表面设有控制按钮，控制按钮与底座活动卡... 详细信息

标准号: CN113640647A

本发明公开了一种半导体集成电路测试装置，其结构包括处理箱、放置板、控制按钮、底座、导线板，底座上设有放置板，放置板与底座间隙配合，导线板安装在底座上，底座与导线板活动连接，底座的表面设有控制按钮，控制按钮与底座活动卡合，处理箱安装在底座上，底座与处理箱相连接，本发明的操作板的移动结构的滑动帮助下，可调整探针与探针之间的间距，使其与管脚之间的间距相匹配，而如果管脚的间距比较紧密时，组装板在移动块的配合下，进一步滑动，再次缩小探针与探针之间的间距，防止设备因探针之间的间距与组装管脚之间的间距不匹配，而无法全部与管脚相接触，影响测试结构。

关键词：底座探针管脚控制按钮处理箱导线板放置板滑动匹配半导体集成电路测试底座活动底座间隙防止设备活动连接移动结构影响测试操作板可调整移动块组装板卡合配合组装帮助

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作者：李美华 266000 山东省青岛市崂山区同安路866号9号楼1单元2101户

本实用新型涉及半导体集成电路的技术领域，特别是涉及一种半导体集成电路测试装置，其通过集尘装置提供密封的检测环境，并能够对电路板表面掉落的灰尘及杂质进行清理，提高了数据检测的准确性；通过显示装置便于操作人员在检测过程中... 详细信息

标准号: CN220691000U

本实用新型涉及半导体集成电路的技术领域，特别是涉及一种半导体集成电路测试装置，其通过集尘装置提供密封的检测环境，并能够对电路板表面掉落的灰尘及杂质进行清理，提高了数据检测的准确性；通过显示装置便于操作人员在检测过程中对检测数值的实时观察；通过防护装置减少外界环境对电路板检测过程的影响；通过辅助装置使检测人员更好的观察电路板表面物理状态，通过旋转装置改变电路板的空间摆放位置，便于操作人员对电路板外形整体进行观察；通过固定装置对电路板的位置进行固定，便于后续进行电路检测，提高了装置的实用性；包括集尘装置、显示装置、防护装置、辅助装置、旋转装置和固定装置。

关键词：电路板检测电路板表面防护装置辅助装置固定装置集尘装置显示装置旋转装置半导体集成电路测试半导体集成电路空间摆放位置本实用新型电路板检测电路板外形电路检测实时观察数据检测外界环境物理状态掉落观察密封

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一种半导体集成电路测试器

一种半导体集成电路测试器

作者：翟腾高宏玲申武鑫艾文思郭青帅马子扬张国杰 100089 北京市海淀区紫竹院路66号

本实用新型涉及一种半导体集成电路测试器，包括测试台以及放置在测试台上的半导体芯片，测试台上安装有用于对半导体芯片进行卡紧的夹持架，半导体芯片放置在夹持架内部，夹持架内壁设置有可沿其内部移动的防滑卡紧板，防滑卡紧板一侧... 详细信息

标准号: CN219302602U

本实用新型涉及一种半导体集成电路测试器，包括测试台以及放置在测试台上的半导体芯片，测试台上安装有用于对半导体芯片进行卡紧的夹持架，半导体芯片放置在夹持架内部，夹持架内壁设置有可沿其内部移动的防滑卡紧板，防滑卡紧板一侧面连接有用于推动其移动的活动推杆，活动推杆与用于带动其移动的推动件相连。本实用新型涉及集成电路测试设备技术领域。本实用新型的目的是提供一种半导体集成电路测试器，在半导体芯片进行测试时进行稳定夹持，能够自动的对半导体芯片四个侧面进行卡紧松动，操作简单，夹持稳定。

关键词：半导体芯片本实用新型夹持架半导体集成电路测试活动推杆防滑卡测试紧板卡紧移动集成电路测试设备侧面连接夹持稳定测试台推动件夹持内壁松动侧面

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作者：周静 266071 山东省青岛市市南区山东路39号

本实用新型涉及电子的技术领域，特别是涉及一种半导体集成电路测试装置，其实现了测试自动化，提高了工作效率，降低了人工成本；包括输送流水线、支撑板、连接板、第一支柱、第二滑块、第一活塞、第一气缸、测试组件、第一齿轮、第二... 详细信息

标准号: CN216051804U

本实用新型涉及电子的技术领域，特别是涉及一种半导体集成电路测试装置，其实现了测试自动化，提高了工作效率，降低了人工成本；包括输送流水线、支撑板、连接板、第一支柱、第二滑块、第一活塞、第一气缸、测试组件、第一齿轮、第二齿轮、电机、电机支板、第二气缸、第二活塞和盖子，两组支撑板均位于输送流水线右部下方，两组支撑板通过多组连接板前后连接，多组第一支柱顶端分别与两组支撑板底端连接，两组支撑板顶端均设置有第一滑槽，两组第二滑块底端分别与两组第一滑槽滑动连接，两组第一活塞右端分别与两组第二滑块左端连接，两组第一活塞左部输入端分别与两组第一气缸右部输出端连接。

关键词：两组活塞第二滑块支撑板气缸输送流水线齿轮滑槽右部半导体集成电路测试本实用新型测试自动化输出端连接支撑板底端支撑板顶端测试组件电机支板多组连接工作效率滑动连接前后连接人工成本支柱顶端连接板输入端盖子底端左部左端电机

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一种半导体集成电路测试用插座

一种半导体集成电路测试用插座

作者：柯武生王桂桂黄崇城张进国 518026 广东省深圳市福田区福田街道福山社区滨河大道5022号联合广场A座4003-4005

本实用新型公开一种半导体集成电路测试用插座，其包括固定基座，所述固定基座包括上固定座、中固定座和下固定座，所述中固定座上并列设有第一安装座和第二安装座，所述第一安装座内设有若干第一安装孔，所述第二安装座内设有若干第二... 详细信息

标准号: CN211320428U

本实用新型公开一种半导体集成电路测试用插座，其包括固定基座，所述固定基座包括上固定座、中固定座和下固定座，所述中固定座上并列设有第一安装座和第二安装座，所述第一安装座内设有若干第一安装孔，所述第二安装座内设有若干第二安装孔，所述上固定座上设有与若干第一安装孔相对应的若干第三安装孔，所述第三安装孔上设有半导体集成电路，所述上固定座上还设有与第二安装座相对应的通孔，所述下固定座上设有测试基板；弹簧探针，所述弹簧探针设于所述第一安装孔和第二安装孔内。本实用新型的第一安装座和第二安装座内的弹簧探针可以交替工作，不会因为要进行清洁而影响测试效率，测试效率较高，并且可以保证测试结果的准确度和测试良率。

关键词：安装孔第二安装座第一安装座弹簧探针上固定座本实用新型固定基座下固定座中固定座半导体集成电路测试半导体集成电路测试基板测试效率影响测试准确度插座良率通孔并列测试清洁保证

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一种全金属结构的半导体集成电路测试插座

一种全金属结构的半导体集成电路测试插座

作者：贺涛王传刚侯燕兵 215000 江苏省苏州市苏州工业园区东长路18号3幢103室

本实用新型公开了一种全金属结构的半导体集成电路测试插座，包括金属测试基座和弹簧探针，所述金属测试基座包括上固定座和下固定座，所述弹簧探针设置在所述上固定座和下固定座之间，所述下固定座上设有若干第一安装孔，用于安装所述... 详细信息

标准号: CN207923938U

本实用新型公开了一种全金属结构的半导体集成电路测试插座，包括金属测试基座和弹簧探针，所述金属测试基座包括上固定座和下固定座，所述弹簧探针设置在所述上固定座和下固定座之间，所述下固定座上设有若干第一安装孔，用于安装所述弹簧探针，所述上固定座上设有与若干所述第一安装孔相对应的若干第二安装孔，所述上固定座上设有半导体集成电路，所述下固定座下方与测试基板连通，所述金属测试基座上涂覆有耐磨绝缘涂层，能够承受大电流、耐高温、散热良好。

关键词：上固定座下固定座弹簧探针金属测试安装孔半导体集成电路测试半导体集成电路本实用新型全金属结构测试基板绝缘涂层大电流耐高温散热插座耐磨涂覆连通

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作者：周脉强 221000 江苏省徐州市沛县湖西农场东风路1号

本实用新型公开了一种半导体集成电路测试装置，包括：检测柜，所述检测柜的内部安装有隔板，所述隔板的上表面中部固定连接有架体，所述检测柜的内部安装有探针组件，所述架体位于所述探针组件的正下方，所述检测柜的内部底部安装有真... 详细信息

标准号: CN220691055U

本实用新型公开了一种半导体集成电路测试装置，包括：检测柜，所述检测柜的内部安装有隔板，所述隔板的上表面中部固定连接有架体，所述检测柜的内部安装有探针组件，所述架体位于所述探针组件的正下方，所述检测柜的内部底部安装有真空泵，所述真空泵的进气端连通有进气管，所述真空泵的出气端连通有出气管，所述出气管的外部贯穿所述隔板，所述出气管的顶部连通有波纹管；本实用新型通过真空泵、出气管和波纹管的组合使用，可以实现对半导体集成电路的精确吸附，并且确保半导体集成电路在取放过程中的稳固性，并且无需进行编程，从而节省编程的时间和工作量，提高操作的效率和便利性。

关键词：出气管检测柜真空泵隔板连通半导体集成电路本实用新型内部安装探针组件波纹管架体编程半导体集成电路测试便利性出气端进气端进气管上表面稳固性取放吸附工作量贯穿外部

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一种半导体集成电路测试设备

一种半导体集成电路测试设备

作者：阮勇军 102401 北京市房山区良乡凯旋大街建设路18号—D4528

本发明涉及集成电路生产加工技术领域，且公开了一种半导体集成电路测试设备，包括工作台，工作台顶部中心位置处固定安装有测试台，测试台顶部设置有探针板,工作台顶部设置有升降机构,升降机构包括升降台。该半导体集成电路测试设备，... 详细信息

标准号: CN112964978A

本发明涉及集成电路生产加工技术领域，且公开了一种半导体集成电路测试设备，包括工作台，工作台顶部中心位置处固定安装有测试台，测试台顶部设置有探针板,工作台顶部设置有升降机构,升降机构包括升降台。该半导体集成电路测试设备，本发明通过在升降台的外壁对转动环进行往一个方向上的转动，实现通过四组运动杆和四组联动杆带动定位框在升降台中部的镂空处进行不停的上下往复运动，则实现定位框带动其腔内限位的电路板上下往复运动，当定位框运动到到升降台的最下方时，此时电路板则与探针板顶部的探针进行了挤压接触，则实现了电路板与探针板上的探针进行了精准的上下对接，本发明提高了对半导体集成电路板的定位测试效率。

关键词：升降台电路板定位框探针板工作台半导体集成电路测试上下往复运动顶部设置升降机构测试台探针半导体集成电路板顶部中心位置集成电路生产加工技术领域定位测试挤压接触上下对接联动杆运动杆转动环镂空处腔内外壁限位转动