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  • 16 篇 专利

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  • 16 篇 电子文献
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作者

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语言

  • 16 篇 中文
检索条件"主题词=历程信息"
16 条 记 录,以下是1-10 订阅
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任职历程信息挖掘方法和装置、以及存储介质和电子设备
任职历程信息挖掘方法和装置、以及存储介质和电子设备
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作者: 张鹏飞 224000 江苏省盐城市盐南高新区科城街道大数据产业园B-17-1幢404-405、504室
本发明公开了一种任职历程信息挖掘方法和装置、以及存储介质和电子设备,所述方法包括:获取预设对象信息对应的第一任职历程信息;对所述第一任职历程信息进行分簇,以确定任职历程信息子簇;基于所述任职历程信息子簇,确定与所述预... 详细信息
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编码历程信息的存取方法和计算机可读取存储介质和装置
编码历程信息的存取方法和计算机可读取存储介质和装置
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作者: 邱慎廷 中国台湾新竹县竹北市台元街36号8楼之1
本发明涉及一种编码历程信息的存取方法、计算机可读取存储介质和装置。该方法包含:写入编码历程信息至闪存模块中的指定超页线的指定第一页面的元数据区段,其中,编码历程信息包含历程轮廓和历程记录,历程轮廓包含超块中所涵盖的区... 详细信息
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任职历程信息挖掘方法和装置、以及存储介质和电子设备
任职历程信息挖掘方法和装置、以及存储介质和电子设备
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作者: 张鹏飞 224000 江苏省盐城市盐南高新区科城街道学海路大数据产业园B-17-1幢501-503室
本发明公开了一种任职历程信息挖掘方法和装置、以及存储介质和电子设备,所述方法包括:获取预设对象信息对应的第一任职历程信息;对所述第一任职历程信息进行分簇,以确定任职历程信息子簇;基于所述任职历程信息子簇,确定与所述预... 详细信息
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一种连铸坯过程数据历程信息跟踪方法
一种连铸坯过程数据历程信息跟踪方法
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作者: 韩占光 钱亮 刘伟涛 白居冰 430073 湖北省武汉市东湖新技术开发区关南工业园光谷大道51号
本发明公开了一种连铸坯过程数据历程信息跟踪方法,在液态钢水连续浇铸成一定规格形状的固态钢坯过程中,沿连铸坯运行方向,把连铸坯按一定长度虚拟划分成若干个单元块,每个单元块作为独立的信息单元,包括自身属性、工况数据属性、... 详细信息
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一种连铸坯过程数据历程信息跟踪方法
一种连铸坯过程数据历程信息跟踪方法
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作者: 韩占光 钱亮 刘伟涛 白居冰 430073 湖北省武汉市东湖新技术开发区关南工业园光谷大道51号
本发明公开了一种连铸坯过程数据历程信息跟踪方法,在液态钢水连续浇铸成一定规格形状的固态钢坯过程中,沿连铸坯运行方向,把连铸坯按一定长度虚拟划分成若干个单元块,每个单元块作为独立的信息单元,包括自身属性、工况数据属性、... 详细信息
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一种基于贝叶斯推理的多径辨识方法
一种基于贝叶斯推理的多径辨识方法
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作者: 李枫 鲜昕尧 周瑶 魏平 高林 611731 四川省成都市高新西区西源大道2006号
本发明属于多径辨识技术领域,涉及一种基于贝叶斯推理的多径辨识方法。侦察机飞行的过程中,对静止辐射源进行被动接收侦察任务,在VHF信道中具有较强的多径反射波干扰,在时频域难以区分,通过测向技术得到直达波信号与多径反射信号... 详细信息
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生产管理装置、生产管理方法以及生产管理程序
生产管理装置、生产管理方法以及生产管理程序
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作者: 荒井航 日本京都府京都市下京区盐小路通堀川东入南不动堂町801番地(邮递区号:600-8530)
本发明进行更准确的生产性的预测。生产管理装置(1)包括:能生产数计算部(101),基于规定的制品的生产历程信息,计算由规定的时段及规定的星期中的至少任一个所规定的单位期间的预测能生产数;以及生产完成数计算部(102),基于所述预... 详细信息
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一种准分布式光纤光栅传感器用于监测海管结构大变形的方法
一种准分布式光纤光栅传感器用于监测海管结构大变形的方法
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作者: 王花平 弓翔舒 冯思远 景鑫 李齐明 730099 甘肃省兰州市城关区天水南路222号
一种准分布式光纤光栅传感器用于监测海管结构大变形的方法,属于结构智能健康监测和检测领域。根据应变传递理论设计超弹性材料封装准分布式光纤光栅串形成圆柱体,初次实现光纤光栅传感元件的保护和减敏处理,从而适应海管结构大变形... 详细信息
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一种精准扶贫的方法及系统
一种精准扶贫的方法及系统
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作者: 周卫 曹新 何贯西 610041 四川省成都市中国(四川)自由贸易试验区成都高新区天府大道北段1700号4栋1单元8层820号
本发明涉及大数据统计技术领域,尤其涉及一种精准扶贫的方法及系统,该方法包括:采集各行政区域的贫困户的基础数据,基于基础数据,采集对应的贫困户的相关文字、图片和视频的富媒体数据信息;基于各行政区域的贫困户的基础数据和富... 详细信息
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半导体工艺设备的控制方法和半导体工艺设备
半导体工艺设备的控制方法和半导体工艺设备
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作者: 张威 100176 北京市大兴区经济技术开发区文昌大道8号
本申请公开一种半导体工艺设备的控制方法和半导体工艺设备,属于半导体设备技术领域。该控制方法包括:步骤S1、记录每片晶圆的工艺历程信息;步骤S2、当所述晶圆的加工工艺中断时,根据所述工艺历程信息判断每片所述晶圆是否需要冷却... 详细信息
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