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检索条件"主题词=反射率测量"
246 条 记 录,以下是1-10 订阅
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13.9和19.6nm正入射Mo/Si多层膜反射镜的反射率测量
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光学精密工程 2008年 第9期16卷 1666-1672页
作者: 李敏 董宁宁 刘震 刘世界 李旭 范鲜红 王丽辉 马月英 陈波 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室
为了进一步研究13.9 nm类镍银和19.6 nm类氖锗X射线激光,制备了工作在上述两个波长的Mo/Si多层膜反射镜。设计了结构简单、操作方便的小型反射率计,将其安装在Mcpherson247单色仪出射狭缝附近,以铜靶激光等离子体辐射源为极紫外光源,组... 详细信息
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用于材料反射率测量的共轭反射计设计与分析
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光学精密工程 2010年 第12期18卷 2521-2529页
作者: 吴丽雄 王立君 林新伟 刘峰 西北核技术研究所激光与物质相互作用国家重点实验室 陕西西安710024 国防科学技术大学光电科学与工程学院 湖南长沙410073
为了研究激光辐照过程中材料的耦合特性及耦合特性随温度的变化规律,设计了一套主体为半椭球壳体,可用于激光辐照过程中材料反射率在线测量的共轭反射计实验装置,研制完成的初样其主体内壁在可见-长波红外光谱范围内镜面反射率优于70%... 详细信息
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中心波长为28.5nm多层膜镜反射率测量
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物理学报 2003年 第4期52卷 809-812页
作者: 黄文忠 李英骏 谷渝秋 张杰 尤永禄 淳于书泰 何颍玲 雷安乐 陈正林 马月英 金春水 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 绵阳621900 中国科学院物理研究所 中国科学院长春光学精密机械和物理研究所 长春130022
在“星光 Ⅱ”装置上以类Ne铬x射线激光作为标定源 ,以平场光栅谱仪为分光元件进行了 2 8 5nm的Mo Si多层膜反射镜效测量 .介绍了实验方法 ,给出了实验结果 ,本次研制的两块多层膜镜反射率分别为 3 1%和 9.6 % .
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反射率测量中的测量精度与误差分析
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激光技术 1989年 第4期13卷 26-32页
作者: 庄大奎 黄永楷 杨天立 中国科学院上海光机所
本文介绍了在研制红外高反射率测量仪过程中分析测量精度和误差的方法,使其总体性能达到并超过了预期的研制要求。
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基于腔衰荡光谱技术的光纤Bragg光栅反射率测量
基于腔衰荡光谱技术的光纤Bragg光栅反射率测量
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作者: 雷玮 长江大学
学位级别:硕士
光纤Bragg光栅(缩写FBG)是在1978年由加拿大的***等人首次发明的,它是一种全光纤器件,经常用于过滤器和激光反射器,在光纤通信技术、光纤温度传感器、红外线遥感技术、光纤激光器的应用、微波通信技术、生物光学技术及光信息及其处理... 详细信息
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基于频锁定腔衰荡光谱技术及其在镜面反射率测量中的应用
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大气与环境光学学报 2015年 第5期10卷 425-431页
作者: 赵刚 李志新 谭巍 邱晓东 马维光 董磊 张雷 尹王保 贾锁堂 山西大学激光光谱研究所量子光学与光量子器件国家重点实验室 山西太原030006
腔衰荡光谱技术(CRDS)由于其具有高灵敏度、高精度、装置简单等特点,被广泛应用于痕量气体检测、镜面反射率测量等领域。建立了一套基于连续波频的腔衰荡光谱(CW-CRDS)装置,基于Pound-Drever-Hall(PDH)频锁定技术将激光器的频锁... 详细信息
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光学膜层的低反射率测量
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光学仪器 1984年 第2期 18-23页
作者: 黄木贞 上海交通大学
本文介绍和讨论了在激光器中一些低反射率的激光光学膜以及用来测定这类光学膜低反射率的一种自行设计低反仪。这类低反射率测量数字是评价它们质量的重要参数和指标。
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用于月基极紫外(EUV)多层膜样片反射率测量的小型真空试验台
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电子测试 2013年 第5S期24卷 255-257页
作者: 刘世界 尼启良 陈波 何玲平 王海峰 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 长春130033
用于探月二期工程的极紫外相机采用多层膜反射镜作为光学元件,多层膜反射镜整镜镀膜之前需进行样片镀膜并检测从而完善并确定镀膜工艺。本文介绍了搭建的一台样片反射率测量的小型真空试验台。该试验台由激光等离子体(LPP)光源系统、Mcp... 详细信息
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影响晶硅电池绒面反射率测量仪校准的因素探讨
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中国计量 2018年 第7期 96-98页
作者: 郭刚 王化鹏 魏志明 刘妍 河北省计量监督检测研究院 英利能源(中国)有限公司
一、引言晶硅电池绒面反射率测量仪又称D8积分式反射仪,是用来测量光伏晶硅电池绒面反射率的专用仪器,在光伏企业中广泛使用。主要应用在制绒、清洗、PECVD等工序中的反射率测量。目前此类绒面反射率测定仪没有国家标准,通常参照国际标... 详细信息
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基于光腔衰荡的反射率测量技术的研究
基于光腔衰荡的反射率测量技术的研究
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中国光学学会2004年学术大会
作者: 孙宏波 熊胜明 高丽峰 中国科学院光电技术研究所 610209
本文根据光腔衰荡原理开展了高反射率镜片反射率测量技术的研究。理论上给出了直型腔和折叠腔的反射率计算方法,构建了测量高反镜反射率的实验系统。实验结果表明:本技术结构简单,易调节,可以测量任意角度的反射率测量结果精确,... 详细信息
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