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通过互连桥对可配置集成电路管芯的时钟进行同步的设备
通过互连桥对可配置集成电路管芯的时钟进行同步的设备
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作者： L·G·唐 A·那拉马尔普 D·苏巴雷迪 美国加利福尼亚
本发明公开了一种通过互连桥对可配置集成电路管芯的时钟进行同步的设备。能够在第一时钟相位进行操作的IC包括第一和第二IO以及PLL。所述PLL包括控制电路、接收第一时钟信号的输入、输出第二时钟信号的输出、以及从第一和第二时钟信号... 详细信息
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一种可配置集成电路架构
一种可配置集成电路架构
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作者： 李君 215000 江苏省苏州市苏州高新区培源路2号微系统园2号楼202室
本发明涉及集成电路，具体涉及一种可配置集成电路架构，包括配置管理模块、可配置互联矩阵和可配置功能模块；配置管理模块，对可配置功能模块进行功能配置；可配置互联矩阵，以可配置功能模块的输出作为输入，并将输出发送至任意可配... 详细信息
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具有实质栅极封闭内电极MOSFET开关的电路的可配置模拟前端
具有实质栅极封闭内电极MOSFET开关的电路的可配置模拟前端
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作者： 比约恩·奥利弗·埃弗斯曼 拉尔夫·布雷德洛 德国弗莱辛
本申请案涉及具有实质栅极封闭内电极MOSFET开关的电路的可配置模拟前端。一种可配置集成电路IC(200)包含具有半导体表面(103)的衬底，所述IC形成所述半导体表面内部和上面。所述IC(200)包含：可配置模拟前端cAFE，其包含至少一个电路模... 详细信息
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用于全速、并行DUT测试的解决方案
用于全速、并行DUT测试的解决方案
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作者： W·斯科特·维拉瑞尔·费勒尔 艾哈迈德·S·坦塔维 埃里克·H·沃克里克 日本东京都
一种用于自动测试设备的系统。在一种实施例中，该系统包括被编程为提供测试图形以及通往至少一个被测器件(DUT)的接口的可配置集成电路(IC)。该系统还包括通往所述至少一个DUT的连接，其中所述连接被直接耦合在所述可配置IC与所述至少... 详细信息
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