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T=题名（书名、题名），A=作者（责任者），K=主题词，P=出版物名称，PU=出版社名称，O=机构（作者单位、学位授予单位、专利申请人），L=中图分类号，C=学科分类号，U=全部字段，Y=年（出版发行年、学位年度、标准发布年）

检索规则说明：

AND代表“并且”；OR代表“或者”；NOT代表“不包含”；(注意必须大写,运算符两边需空一格)

检索范例：

范例一：(K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 AND Y=1982-2016
范例二：P=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT K=Visual AND Y=2011-2016

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文献类型

88 篇 专利

馆藏范围

88 篇 电子文献
0 种 纸本馆藏

日期分布

机构

9 篇 电子科技大学
5 篇 华南理工大学
4 篇 西安电子科技大学
4 篇 苏州镁伽科技有限...
4 篇 中山市华南理工大...
3 篇 华南师范大学
3 篇 常州雅谱新材料有...
3 篇 中国电子科技集团...
3 篇 深圳市国华光电科...
3 篇 无锡紫光微电子有...
3 篇 深圳市国华光电研...
3 篇 北京工业大学
3 篇 深圳市伟鸿科科技...
2 篇 吉林华微电子股份...
2 篇 青岛展诚科技有限...
2 篇 苏州北鹏光电科技...
2 篇 淄博绿能芯创电子...
2 篇 江苏华功第三代半...
2 篇 中国电子科技集团...
2 篇 四川蓝彩电子科技...

作者

5 篇 徐香琴
5 篇 耿魁伟
4 篇 张波
4 篇 赵建明
4 篇 王洪
3 篇 姜鹏
3 篇 周国富
3 篇 郭霞
3 篇 许超
3 篇 郑建明
3 篇 李发宏
3 篇 汪玲
3 篇 丰亚洁
3 篇 罗伯特·安德鲁·海...
3 篇 柏松
3 篇 李冲
3 篇 王华强
3 篇 周蕤
3 篇 黎奔
3 篇 吕本顺

语言

88 篇 中文

检索条件"主题词=器件边缘"

共 88 条记录，以下是1-10 订阅

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详细简洁

排序：

器件边缘的检测方法、装置、存储介质及电子设备

器件边缘的检测方法、装置、存储介质及电子设备

引用

作者：张鑫殷亚男田松许超王翠娟 215127 江苏省苏州市苏州工业园区兴浦路200号1#101、201单元

本申请实施例提供一种器件边缘的检测方法、装置、处理器及电子设备。方法包括：获取包含待检测器件的待测图像；在待测图像中生成检测区域，并使检测区域覆盖待测图像中待检测器件的边缘区域；通过预设阈值对待测图像位于检测区域内的... 详细信息

标准号: CN114494116B

本申请实施例提供一种器件边缘的检测方法、装置、处理器及电子设备。方法包括：获取包含待检测器件的待测图像；在待测图像中生成检测区域，并使检测区域覆盖待测图像中待检测器件的边缘区域；通过预设阈值对待测图像位于检测区域内的图像区域进行阈值分割，以得到第一阈值分割图像；对第一阈值分割图像进行填充运算，得到第二阈值分割图像；确定第二阈值分割图像与第一阈值分割图像的残差区域；根据残差区域的参数和预设检测标准得到待检测器件的边缘检测结果。通过上述技术方案，能够有效地检测出器件边缘的破损情况，检测过程简便快捷，检测效率和检测结果的准确性高，能够适应于高通量的器件检测场景。

关键词：阈值分割图像待检测器件待测图像检测区域检测器件边缘残差预设边缘检测结果边缘区域电子设备检测结果器件检测图像区域高通量有效地处理器填充破损运算场景覆盖申请

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器件边缘点位置检测方法、器件缺陷检测方法及装置

器件边缘点位置检测方法、器件缺陷检测方法及装置

引用

作者：董飞董其波 215000 江苏省苏州市中国(江苏)自由贸易试验区苏州片区苏州工业园区东平街277号

本发明的实施例提供了器件边缘点位置检测方法、缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质。方法包括：获取目标图像；基于目标图像中器件的中心位置，沿第一方向在目标图像上构建基准点组并确定基准点组中每个基准点在第一方向的位置；... 详细信息

标准号: CN117808877A

本发明的实施例提供了器件边缘点位置检测方法、缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质。方法包括：获取目标图像；基于目标图像中器件的中心位置，沿第一方向在目标图像上构建基准点组并确定基准点组中每个基准点在第一方向的位置；确定目标伸出部上的特征点的位置。基于基准点组中每个基准点在第一方向的位置和对应特征点在第二方向的位置，确定每个伸出部对应的边缘点搜索区域的中心位置；基于边缘点搜索区域的中心位置，确定边缘点搜索区域，以确定每个伸出部的边缘点位置。本发明，先确定边缘点搜索区域的中心位置，然后基于边缘点搜索区域确定边缘点的位置，无复杂的计算过程，能准确、快速地确定边缘点的位置。

关键词：边缘点搜索区域基准点伸出部目标图像特征点边缘点位置存储介质电子设备获取目标计算过程器件边缘缺陷检测点位置构建图像检测

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器件边缘的检测方法、装置、存储介质及电子设备

器件边缘的检测方法、装置、存储介质及电子设备

引用

作者：张鑫殷亚男田松许超王翠娟 215127 江苏省苏州市苏州工业园区兴浦路200号1#101、201单元

标准号: CN114494116A

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一种COB微小间距封装LED显示器件边缘处理吸附夹具

一种COB微小间距封装LED显示器件边缘处理吸附夹具

引用

作者：张冬冬周召强张美兰 050000 河北省石家庄市高新区兴安大街222号方亿科技园B区2号楼503

本实用新型涉及一种COB微小间距封装LED显示器件边缘处理吸附夹具，属于LED显示器件技术领域。一种COB微小间距封装LED显示器件边缘处理吸附夹具，包括吸附板和吸附气罩；所述吸附气罩为锥形结构；吸附气罩的大口端固定安装吸附板，小... 详细信息

标准号: CN218939634U

本实用新型涉及一种COB微小间距封装LED显示器件边缘处理吸附夹具，属于LED显示器件技术领域。一种COB微小间距封装LED显示器件边缘处理吸附夹具，包括吸附板和吸附气罩；所述吸附气罩为锥形结构；吸附气罩的大口端固定安装吸附板，小口端通过气管同负压气源连通；吸附板表面设置吸附气孔；吸附板的表面还设置用于对显示器件拍照的视频设备，所述视频设备将视频信息传递给加工设备的控制系统。本实用新型可以配合精密设备完成高精度产品的加工，加工精度≤0.01毫米，操作简单，生产效率高，更加适合批量性生产。

关键词：吸附吸附板气罩夹具本实用新型器件边缘视频设备封装器件技术领域高精度产品表面设置负压气源加工设备精密设备控制系统生产效率视频信息显示器件锥形结构大口端批量性小口端加工连通气管拍照传递配合生产

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小零器件表面缺陷边缘快速检测方法

小零器件表面缺陷边缘快速检测方法

引用

作者：刘春芳李晓理王康黄静 100124 北京市朝阳区平乐园100号

本发明公开了小零器件表面缺陷边缘快速检测方法，具体包括两个步骤：零器件边缘最小包络框的获取与复杂形状零器件缺陷边缘的快速检测方法；所述零器件边缘最小包络框的获取用Canny边缘检测算子迅速锁定整个图片中零器件的边缘位置信... 详细信息

标准号: CN114187269B

本发明公开了小零器件表面缺陷边缘快速检测方法，具体包括两个步骤：零器件边缘最小包络框的获取与复杂形状零器件缺陷边缘的快速检测方法；所述零器件边缘最小包络框的获取用Canny边缘检测算子迅速锁定整个图片中零器件的边缘位置信息并获取零器件的最小包络框，确定缺陷的检测区域；复杂形状零器件缺陷边缘的快速检测方法将最小包络框旋转至与边缘模板图像一致的方向，并通过匹配边缘点位置特征，快速找到器件上的缺陷边缘。本方法只需首先拍摄一幅无缺陷器件图片作为匹配模板，匹配模型更新维护简便，整个算法计算量小，实时性好，不需要大量样本。该方法由于仅对待检测图像的边缘部分进行了识别，大大降低了缺陷检测的计算量。

关键词：小包快速检测复杂形状器件边缘器件缺陷缺陷边缘边缘位置信息边缘模板检测区域检测图像匹配边缘匹配模板匹配模型器件表面缺陷检测缺陷器件实时性好算法计算点位置计算量样本锁定图像拍摄更新图片维护

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小零器件表面缺陷边缘快速检测方法

小零器件表面缺陷边缘快速检测方法

引用

作者：刘春芳李晓理王康黄静 100124 北京市朝阳区平乐园100号

标准号: CN114187269A

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基于台面和浮空金属环复合终端的氧化镓肖特基二极管

基于台面和浮空金属环复合终端的氧化镓肖特基二极管

引用

作者：周弘李智睿张进成党魁张雅超刘志宏郝跃 710071 陕西省西安市太白南路2号

本发明提供的一种基于台面和浮空金属环复合终端的氧化镓肖特基二极管，包括：从下至上依次设置的阴极金属、衬底层、外延层以及阳极金属；外延层的两侧设置有凹槽，凹槽内填充有绝缘介质材料，凹槽的深度小于外延层的高度；阳极金属的... 详细信息

标准号: CN118156318A

本发明提供的一种基于台面和浮空金属环复合终端的氧化镓肖特基二极管，包括：从下至上依次设置的阴极金属、衬底层、外延层以及阳极金属；外延层的两侧设置有凹槽，凹槽内填充有绝缘介质材料，凹槽的深度小于外延层的高度；阳极金属的外侧预设间隔处设置有若干浮空金属环，浮空金属环与外延层材料接触形成肖特基接触；外延层的靠近绝缘介质材料的区域，设置有Mg²⁺离子注入区。在本发明中，通过在外延层的两侧设置凹槽以形成台面结构，可以将最高电压转移至器件内部，减缓了器件边缘和拐角处的电场集中效应；此外，通过设置Mg²⁺离子注入区，缓解了器件阳极金属边缘的电场峰值，进而提高了器件的反向耐压性能。

关键词：外延层浮空金属环绝缘介质材料离子注入区两侧设置阳极金属电场集中效应反向耐压性能肖特基二极管外延层材料肖特基接触电场电压转移复合终端金属边缘器件边缘器件阳极台面结构依次设置阴极金属预设间隔台面衬底层拐角处氧化镓填充缓解

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微型发光二极管器件、制作方法和显示装置

微型发光二极管器件、制作方法和显示装置

引用

作者：周世新 510700 广东省广州市黄埔区(中新广州知识城)亿创街1号406房之417

本申请实施例提供一种微型发光二极管器件、制作方法和显示装置。其中，微型发光二极管器件包括背板；多个微型发光二极管，所述多个微型发光二极管阵列设置在所述背板上，每个所述微型发光二极管包括靠近所述背板的底壁、远离所述背板... 详细信息

标准号: CN115692395A

本申请实施例提供一种微型发光二极管器件、制作方法和显示装置。其中，微型发光二极管器件包括背板；多个微型发光二极管，所述多个微型发光二极管阵列设置在所述背板上，每个所述微型发光二极管包括靠近所述背板的底壁、远离所述背板的顶壁以及连接所述底壁和所述顶壁的侧壁；保护层，所述保护层设置在每个所述微型发光二极管的部分侧壁上以减小所述侧壁漏电流，所述保护层由可原位交联的硫辛酸凝胶层原位聚合形成。本申请实施例通过可原位交联的硫辛酸凝胶层的第二层空间作用力，在配位键的作用下，使得该保护层与GaN之间存在更低的界面陷阱密度，进而可以解决微型发光二极管器件边缘存在漏电流的问题。

关键词：微型发光二极管保护层背板侧壁原位交联硫辛酸漏电流凝胶层底壁顶壁空间作用力界面陷阱器件边缘显示装置原位聚合阵列设置配位键减小申请制作

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一种电润湿器件及其制备方法

一种电润湿器件及其制备方法

引用

作者：周国富吴昊李发宏周蕤罗伯特·安德鲁·海耶斯 518110 广东省深圳市龙华新区观澜大布巷社区观光路1301-1号7楼703-1

本发明公开了一种电润湿器件及其制备方法，所述的器件包括上基板、下基板和封装胶框，上基板和下基板通过封装胶框密封闭合，形成的空腔内填充有封装液体；所述下基板包括基板，基板上设有疏水层，疏水层表面设置有像素墙，所述疏水层... 详细信息

标准号: CN105425386A

本发明公开了一种电润湿器件及其制备方法，所述的器件包括上基板、下基板和封装胶框，上基板和下基板通过封装胶框密封闭合，形成的空腔内填充有封装液体；所述下基板包括基板，基板上设有疏水层，疏水层表面设置有像素墙，所述疏水层表面还设有疏水贴合层，下基板通过疏水贴合层与封装胶框粘合；所述疏水贴合层覆盖并填充于像素区域边缘的光刻胶框及像素格内，覆盖住疏水层形变区域，高于像素墙。本发明的电润湿器件通过在显示区域边缘部分的热处理后的疏水层之上设置疏水贴合层，覆盖住在高温热处理过程中发生形变而薄化或撕裂的疏水层区域，避免了器件边缘击穿的问题。本发明的制备方法简单，便于操作。

关键词：疏水层贴合层下基板疏水封装胶框像素电润湿器件制备方法上基板填充覆盖显示区域边缘像素区域边缘高温热处理热处理表面设置封装液体密封闭合器件边缘形变区域设有光刻胶基板上空腔内形变粘合薄化击穿基板撕裂一种设置公开

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一种集成电路版图图形切割方法

一种集成电路版图图形切割方法

引用

作者：孙延辉李世密陈瑞韦欣马胜军袁鹏飞 266000 山东省青岛市市南区延安三路109号华通中联创意产业园B2栋3层

本发明提供了一种集成电路版图图形切割方法，属于集成电路技术领域，包括：获取待切割的集成电路版图图形并进行器件边缘监测，得到集成电路版图中每个目标器件的器件位置，确定待切割的集成电路板图图形中存在连接关系的相邻目标器件... 详细信息

标准号: CN117077611A

本发明提供了一种集成电路版图图形切割方法，属于集成电路技术领域，包括：获取待切割的集成电路版图图形并进行器件边缘监测，得到集成电路版图中每个目标器件的器件位置，确定待切割的集成电路板图图形中存在连接关系的相邻目标器件的单独线路，并分别测量及获取每个单独线路基于输入电源的电流、电压及阻抗信息；基于所述电流及阻抗信息对待切割的集成电路版图进行区域规划，并进行模拟切割；对模拟切割后的集成电路子区域进行验证，并基于验证结果对所述区域规划结果进行优化，进而基于优化结果对集成电路版图进行实际切割。通过电流及阻抗信息对集成电路板进行区域规划并实现图形切割，保证后续对集成电路版图的合理分析。

关键词：集成电路版图切割区域规划阻抗信息集成电路板单独线路目标器件图形切割集成电路技术连接关系器件边缘器件位置输入电源验证结果优化结果子区域集成电路测量验证监测优化保证分析

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