检索结果-内蒙古大学图书馆

华中科技大学学报（自然科学版） 2007年第6期35卷 85-88页

作者：吴丰顺张伟刚张金松吴懿平华中科技大学塑性成形模拟及模具技术国家重点实验室

针对无铅互连电迁移失效这一高密度封装时面临的重要课题进行了研究.采用四探针法分别监测了电流密度为1.5×104A/cm2和2.2×104A/cm2时Sn3.5Ag0.5Cu互连凸点上电压的变化,发现电流密度为2.2×104A/cm2时凸点的平均电阻变... 详细信息

针对无铅互连电迁移失效这一高密度封装时面临的重要课题进行了研究.采用四探针法分别监测了电流密度为1.5×104A/cm2和2.2×104A/cm2时Sn3.5Ag0.5Cu互连凸点上电压的变化,发现电流密度为2.2×104A/cm2时凸点的平均电阻变化率超过电迁移失效的临界值10%,分析了其微观结构的扫描电镜照片,所提出的发生电迁移失效的电流密度值为凸点设计提供十分有用的数据.对无铅互连凸点的电迁移失效过程和四探针测量法的测量误差进行了分析,提出了采用四凸点结构提高测量精度的改进措施.

关键词：四探针测量法电迁移凸点下金属化层倒装芯片

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PVDF-PMMA聚合物薄膜电解质的制备和性能研究

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功能材料 2007年第A4期38卷 1461-1462页

作者：马莉陶杰杨艳南京航空航天大学材料科学与技术学院江苏南京211100

将聚偏氟乙烯（PVDF）和聚甲基丙烯酸甲酯（PMMA）溶于N-N-二甲基甲酰胺（DMF）中，加入丙三醇作造孔剂，使用两种不同方法制得聚合物薄膜，再将薄膜浸泡于I2／KI的液态电解质中吸液，制得聚合物薄膜电解质。用四探针法测量其电导率，... 详细信息

将聚偏氟乙烯（PVDF）和聚甲基丙烯酸甲酯（PMMA）溶于N-N-二甲基甲酰胺（DMF）中，加入丙三醇作造孔剂，使用两种不同方法制得聚合物薄膜，再将薄膜浸泡于I2／KI的液态电解质中吸液，制得聚合物薄膜电解质。用四探针法测量其电导率，对比两种方法制得的聚合物薄膜的扫描电镜图片，从微观结构分析其电导率的差异。由分析可知制膜方法不同导致薄膜微观结构不同，也导致薄膜性能的差异。

关键词：聚合物薄膜电解质聚偏氟乙烯聚甲基丙烯酸甲酯四探针测量法薄膜电导率

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高校物理教学实验中“四探针测量金属薄膜电阻率”的引入

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陕西教育（高教版） 2014年第6期 59-59,61页

作者：穆夏梅陕西国防工业职业技术学院

在微电子技术领域中常用的测量电阻率的方法就是四探针测量金属薄膜电阻率的方法,而目前国内高校正面临教学体制改革。鉴于此,本文分析研究在高校物理教学实验中引入"四探针测量金属薄膜电阻率",分别介绍了实验原理以及引入... 详细信息

在微电子技术领域中常用的测量电阻率的方法就是四探针测量金属薄膜电阻率的方法,而目前国内高校正面临教学体制改革。鉴于此,本文分析研究在高校物理教学实验中引入"四探针测量金属薄膜电阻率",分别介绍了实验原理以及引入该实验的优点,并深入探讨了高校物理教学实验的安排等,最后本研究认为将"四探针测量金属薄膜电阻率"引入到高校物理教学实验中具有实用价值,值得在国内高校中推广。

关键词：物理教学实验四探针测量法电阻率

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四探针法测试半导体掺杂浓度的实验研究

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吉林大学学报（信息科学版） 2019年第5期37卷 507-511页

作者：王蕊牛立刚贺媛李昕纪永成郭文滨吉林大学电子科学与工程学院

为了解决半导体掺杂浓度的测试问题,需要采用简单易行的方法对半导体进行测试。在微电子技术领域,四探针技术一直是测量电阻率的常用方法。结合吉林大学在半导体器件物理与实验精品课程的建设,以训练学生对半导体物理学专业知识的理解... 详细信息

为了解决半导体掺杂浓度的测试问题,需要采用简单易行的方法对半导体进行测试。在微电子技术领域,四探针技术一直是测量电阻率的常用方法。结合吉林大学在半导体器件物理与实验精品课程的建设,以训练学生对半导体物理学专业知识的理解和掌握,笔者对四探针法测试半导体掺杂浓度进行了实验研究。通过建立半无限大和无限薄层两个理论模型,对不同厚度半导体材料的电阻率测试方法进行了实验研究,并对原理进行了讨论。为了解决商用测试设备昂贵且无法满足实验教学需求的问题,笔者提出自制实验测试装置,采用钨合金的简易手动探针台,并根据实验需要自行设计了四探针测试架。实践应用表明:四探针测试系统的建立可以完成测量半导体掺杂浓度的任务,满足了半导体物理实验的教学需求,取得了较好的教学效果。

关键词：四探针测量法电阻率掺杂浓度

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PVDF-PMMA聚合物薄膜电解质的制备和性能研究

PVDF-PMMA聚合物薄膜电解质的制备和性能研究

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第六届中国功能材料及其应用学术会议

作者：马莉陶杰杨艳南京航空航天大学材料科学与技术学院

将聚偏氟乙烯(PVDF)和聚甲基丙烯酸甲酯 (PMMA)溶于 N-N-二甲基甲酰胺(DMF)中,加入丙三醇作造孔剂,使用两种不同方法制得聚合物薄膜, 再将薄膜浸泡于 I/KI 的液态电解质中吸液,制得聚合物薄膜电解质．用四探针法测量其电导率,对比两种... 详细信息

将聚偏氟乙烯(PVDF)和聚甲基丙烯酸甲酯 (PMMA)溶于 N-N-二甲基甲酰胺(DMF)中,加入丙三醇作造孔剂,使用两种不同方法制得聚合物薄膜, 再将薄膜浸泡于 I/KI 的液态电解质中吸液,制得聚合物薄膜电解质．用四探针法测量其电导率,对比两种方法制得的聚合物薄膜的扫描电镜图片,从微观结构分析其电导率的差异．由分析可知制膜方法不同导致薄膜微现结构不同,也导致薄膜性能的差异．

关键词：聚合物薄膜电解质聚偏氟乙烯聚甲基丙烯酸甲酯四探针测量法薄膜电导率

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监测外延层电阻率的方法

监测外延层电阻率的方法

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作者：付志强苏小鹏杨洪军杨鹏 510700 广东省广州市黄埔区凤凰五路28号

本发明提供一种监测外延层电阻率的方法，包括步骤：S1：提供第一导电类型的衬底；S2：对衬底进行第二导电类型的离子注入，以于衬底表面形成反型层；S3：于反型层表面生长外延层；S4：采用四探针测量法量测外延层的电阻率。本发明经改... 详细信息

标准号: CN116313874A

本发明提供一种监测外延层电阻率的方法，包括步骤：S1：提供第一导电类型的衬底；S2：对衬底进行第二导电类型的离子注入，以于衬底表面形成反型层；S3：于反型层表面生长外延层；S4：采用四探针测量法量测外延层的电阻率。本发明经改善的流程设计，在确保监测准确性的同时有助于简化监测步骤，提高生产效率，降低生产成本。

关键词：反型层外延层衬底第一导电类型四探针测量法外延层电阻率监测准确性表面生长衬底表面导电类型监测步骤流程设计生产效率电阻率量测离子监测

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监测外延层电阻率的方法

监测外延层电阻率的方法

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作者：付志强苏小鹏杨洪军杨鹏 510700 广东省广州市黄埔区凤凰五路28号

标准号: CN116313874B

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一种导电玻璃方阻的自动测量仪

一种导电玻璃方阻的自动测量仪

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作者：朱峰波 402160 重庆市永川区星光大道999号1幢(重庆永川工业园区凤凰湖工业园内)

一种导电玻璃方阻的自动测量仪，属于方阻测量技术领域，该导电玻璃方阻的自动测量仪，包括控制区和测量区，测量区包括样品定位台和样品定位台下方设置的升降测量台，样品定位台上设置多个定位孔，升降测量台上连接有探头，探头内安装... 详细信息

标准号: CN208705400U

一种导电玻璃方阻的自动测量仪，属于方阻测量技术领域，该导电玻璃方阻的自动测量仪，包括控制区和测量区，测量区包括样品定位台和样品定位台下方设置的升降测量台，样品定位台上设置多个定位孔，升降测量台上连接有探头，探头内安装有与定位孔定位配合的四个探针，探头的端部连接有电阻测量仪，本实用新型的有益效果是，该导电玻璃方阻的自动测量仪结构设计合理、通用性强、自动化程度高，用四探针测量法实现了方阻的自动测量，提高了导电玻璃的生产效率、减轻了工作人员的劳动强度，而且同时降低了劳动成本、提高了测量精度，满足了量产化的需求。

关键词：方阻导电玻璃自动测量仪探头测量区定位孔升降测量测量技术领域四探针测量法本实用新型电阻测量仪样品定位台定位配合端部连接劳动成本生产效率通用性强自动测量测量台控制区量产探针自动化

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