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文献类型

  • 4 篇 期刊文献
  • 1 篇 学位论文

馆藏范围

  • 5 篇 电子文献
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日期分布

学科分类号

  • 5 篇 工学
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    • 2 篇 电子科学与技术(可...

主题

  • 5 篇 四探针电阻率测试...
  • 3 篇 电阻率
  • 1 篇 晶向偏离
  • 1 篇 标准电阻
  • 1 篇 转换电路
  • 1 篇 半导体材料
  • 1 篇 不确定度
  • 1 篇 平均相对误差
  • 1 篇 标准样片
  • 1 篇 应用
  • 1 篇 等效四端电阻
  • 1 篇 高精度
  • 1 篇 测试范围
  • 1 篇 恒流源
  • 1 篇 技术
  • 1 篇 表面剥落
  • 1 篇 刀片
  • 1 篇 四探针法
  • 1 篇 计量学
  • 1 篇 方阻仪

机构

  • 1 篇 上海市计量测试技...
  • 1 篇 上海电子器材厂
  • 1 篇 厦门市计量检定测...
  • 1 篇 华南理工大学
  • 1 篇 深圳市计量质量检...
  • 1 篇 上海仪器仪表研究...
  • 1 篇 厦门市平板显示器...

作者

  • 1 篇 梁雪仪
  • 1 篇 lu chun-feng
  • 1 篇 dong ya-feng
  • 1 篇 蔡卫平
  • 1 篇 张顶
  • 1 篇 董亚峰
  • 1 篇 古建平
  • 1 篇 许志刚
  • 1 篇 卢春凤

语言

  • 5 篇 中文
检索条件"主题词=四探针电阻率测试仪"
5 条 记 录,以下是1-10 订阅
排序:
四探针电阻率测试仪测量结果的不确定度评定
收藏 引用
中国计量 2025年 第3期 146-149页
作者: 张顶 厦门市计量检定测试院 厦门市平板显示器件计量测试重点实验室
半导体材料的电阻率是半导体器件生产制造过程中的重要测量参数,四探针电阻率测试仪是测量半导体材料电阻率和方块电阻的主要测量器具,其测量不确定度的评定至关重要,而JJG 508-2004《四探针电阻率测试仪》并未对不确定度评定进行详细... 详细信息
来源: 评论
四探针电阻率测试仪电阻率参数的不确定度评定
收藏 引用
表技术 2011年 第7期 38-39页
作者: 卢春凤 董亚峰 上海市计量测试技术研究院 上海201203 上海仪器仪表研究所 上海200082
随着半导体材料技术的发展,对硅片的规格和质量提出了更高的要求,四探针电阻率测试仪作为测量电阻率参数的测量器被广大半导体元件生产企业广泛使用。文章分析了在校准过程中存在的不确定度来源并量化不确定度的分量,求出其合成不确定... 详细信息
来源: 评论
四探针电阻率测试仪示值基本误差的变通计量方法
收藏 引用
计量与测试技术 2009年 第6期36卷 39-40页
作者: 蔡卫平 古建平 深圳市计量质量检测研究院 广东深圳518055
本文简要地介绍了在缺乏检定规程规定的设备情况下,利用方阻与等效电阻的比值关系,使用标准电阻四探针电阻率测试仪示值基本误差进行校准的变通计量方法,绕开了对电阻率标准样片的依赖,利用标准电阻实现对四探针电阻率测试仪方阻... 详细信息
来源: 评论
智能型双电测探针测试仪研究
智能型双电测四探针测试仪研究
收藏 引用
作者: 梁雪 华南理工大学
学位级别:硕士
半导体材料的电阻率反映了补偿后的杂质浓度,与半导体中的载流子浓度有直接关系,它表征了半导体材料的导电性能、杂质分布,并可由此推算材料的迁移,而这些特性决定了器件的工作速度和适用范围,这使得半导体材料可以制成各种分立... 详细信息
来源: 评论
减少切片加工应力工艺的探讨
收藏 引用
上海金属.有色分册 1982年 第1期 55-61页
作者: 许志刚 上海电子器材厂
减小硅片切割的加工应力,是半导体器件生产中的一重要环节。本文在定向切片,硅单晶压紧力影响,切割刀片选择和安装,以及晶棒的粘结方法,切割时冷却液的选择,冷却液位置的调节,探针电阻率测试等方面进行了分析、讨论和工艺改进,在生产... 详细信息
来源: 评论