咨询与建议

限定检索结果

文献类型

  • 1 篇 期刊文献
  • 1 篇 会议

馆藏范围

  • 2 篇 电子文献
  • 0 种 纸本馆藏

日期分布

学科分类号

  • 2 篇 工学
    • 2 篇 电子科学与技术(可...

主题

  • 2 篇 在片瞬态测试
  • 2 篇 微波探针
  • 1 篇 gaas集成电路
  • 1 篇 集成电路
  • 1 篇 高速集成电路

机构

  • 1 篇 大学光电子国家重...
  • 1 篇 吉林大学
  • 1 篇 电子十三所gaasic...
  • 1 篇 集成电路国家级重...

作者

  • 2 篇 马振昌
  • 2 篇 王国全
  • 1 篇 田小建
  • 1 篇 衣茂斌
  • 1 篇 王竞

语言

  • 2 篇 中文
检索条件"主题词=在片瞬态测试"
2 条 记 录,以下是1-10 订阅
排序:
GaAs高速电路在片瞬态测试技术研究
收藏 引用
半导体情报 1999年 第5期36卷 50-52页
作者: 王国全 马振昌 王竞 衣茂斌 田小建 电子十三所GaAsIC国家重点实验室 石家庄050051 吉林大学集成光电子国家重点实验室 长春130023
介绍了GaAs高速集成电路瞬态参数测试的技术原理和系统组成。利用该系统对部分GaAs高速电路进行的测试结果表明,
来源: 评论
GaAs高速电路在片瞬态测试技术研究
GaAs高速电路在片瞬态测试技术研究
收藏 引用
全国化合物半导体、微波器件和光电器件学术会议
作者: 王国全 马振昌 集成电路国家级重点实验室 大学光电子国家重点实验室(长春)
该文介绍了GaAs高速集成电路瞬态参数测试的技术原理、系统组成。利用该系统对部分GaAs高速电路进行了测试,结果表明,该系统行之有效。
来源: 评论