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  • 1 篇 上海宏力半导体制...
  • 1 篇 上海华虹宏力半导...
  • 1 篇 株式会社鼎新
  • 1 篇 重庆邮电大学

作者

  • 1 篇 冀涵颖
  • 1 篇 邓洁
  • 1 篇 矢元裕明
  • 1 篇 罗基特·拉尤斯曼
  • 1 篇 高璐
  • 1 篇 袁军
  • 1 篇 杨光军
  • 1 篇 菅森茂
  • 1 篇 王志鹏

语言

  • 4 篇 中文
检索条件"主题词=存储器测试模式"
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存储器测试模式信号产生电路及方法
存储器测试模式信号产生电路及方法
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作者： 杨光军 201203 上海市浦东新区张江高科技园区郭守敬路818号
本发明提供了一种存储器测试模式信号产生电路及方法。根据本发明的存储器测试模式信号产生电路包括：多个存储模块，用于存储数据；主电路，用于产生时钟信号、模式代码信号、以及输出判断信号；以及与所述多个存储模块相对应的多个从... 详细信息
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一种基于ST2500测试机的MCU存储器测试方法
一种基于ST2500测试机的MCU存储器测试方法
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作者： 冀涵颖 邓洁 王志鹏 袁军 400065 重庆市南岸区南山街道崇文路2号
本发明请求保护一种基于ST2500测试机的MCU存储器测试方法，包括以下步骤：①通过被测MCU的IIC接口设计协议解析模块。②设计测试模式，利用MCU芯片IIC接口进行测试指令以及数据的传输，将MCU作为IIC从机，并采用中断触发机制，测试机... 详细信息
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时序测试电路及其测试方法
时序测试电路及其测试方法
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作者： 高璐 201203 上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区祖冲之路1399号
本发明提供一种静态存储器时序测试电路，包括逻辑控制模块、模式控制模块、延时计算模块、延时测试电路和SRAM存储单元；SRAM存储单元包括待测试SRAM，待测试SRAM包括输入数据寄存器时钟clk_i输入端、SRAM时钟clk_m输入端和输出寄存器... 详细信息
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在基于事件的测试系统上用于存储器测试的模块化结构
在基于事件的测试系统上用于存储器测试的模块化结构
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作者： 罗基特·拉尤斯曼 菅森茂 矢元裕明 日本东京
一种具有模块化结构的基于事件的测试系统，用于同时测试多个半导体器件，包括存储器和逻辑器件。该基于事件的测试系统检测被测存储器中的功能故障及物理故障。该基于事件的测试系统包括两个或多个测试器模块，每一模块具有多个引脚单... 详细信息
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