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T=题名（书名、题名），A=作者（责任者），K=主题词，P=出版物名称，PU=出版社名称，O=机构（作者单位、学位授予单位、专利申请人），L=中图分类号，C=学科分类号，U=全部字段，Y=年（出版发行年、学位年度、标准发布年）

检索规则说明：

AND代表“并且”；OR代表“或者”；NOT代表“不包含”；(注意必须大写,运算符两边需空一格)

检索范例：

范例一：(K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 AND Y=1982-2016
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主题

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作者

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2 篇 金圣九
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56 篇 中文

检索条件"主题词=存储器测试系统"

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详细简洁

排序：

存储器测试系统的DDR控制器设计与实现

存储器测试系统的DDR控制器设计与实现

引用

作者：谢正雨电子科技大学

学位级别：硕士

随着集成电路测试行业的飞速发展,存储器芯片的需求日益上升。在这样的背景下,国内大部分芯片和存储器测试设备仍旧依赖进口,推进国产化进程迫在眉睫。存储器测试设备可以针对存储器芯片进行全方位的测试,而存储器芯片的功能测试主要依... 详细信息

随着集成电路测试行业的飞速发展,存储器芯片的需求日益上升。在这样的背景下,国内大部分芯片和存储器测试设备仍旧依赖进口,推进国产化进程迫在眉睫。存储器测试设备可以针对存储器芯片进行全方位的测试,而存储器芯片的功能测试主要依赖于控制器,因此,对于存储器测试系统的控制器的研究十分重要。本文设计了一款基于存储器测试系统的DDR控制器,用户可以根据测试需求在上位机界面上按照指令系统的规则自定义测试算法,控制器根据接收到的信息产生相应的控制命令和地址数据信息。最终可以输出满足DDR时序的不同数据速率的测试码型,实现了测试码型可编程,也为国内DDR测试提供了一种解决思路,本文的主要研究内容包括:1、总体方案设计:本文分析了存储器测试系统的需求以及DDR的时序,将DDR控制器分为序列控制器、测试图形发生器、可编程数据选择器、数据扩展模块和时序生成器。实现了从上位机下发指令和配置信息到最终数据从相应通道输出的理论论证。2、DDR控制器的设计:DDR控制器是基于Xilinx的FPGA(Field Programmable Gate Array),根据指令和配置信息实现了原始地址和数据的生成,再通过可编程数据选择器选出相应的信号,从对应通道输出。3、自定义测试码型生成:为了产生自定义的DDR高速信号,利用时序边沿信息对FPGA内部产生的低速并行数据进行数据展宽,最终通过GTY高速收发器并串转换成高速串行数据。4、多模块数据同步:由于单个FPGA只能产生16个通道的测试数据,满足不了DDR颗粒测试的需求,这就对多模块数据的同步性提出了更高的要求。从多模块同步触发的角度实现了多模块数据的同步。最终,根据指令系统的规则,编写了几种不同类型的指令和相应的配置信息,分别产生了不同类型的控制命令和地址数据信息,上板验证了各个模块的功能。将产生的测试数据输出到了Micron的DDR颗粒模型上验证了产生的测试码型满足预期功能。

关键词：存储器测试系统 DDR控制器自定义测试码型多模块数据同步

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存储器测试系统和多个被测设备存储器的同时测试方法

存储器测试系统和多个被测设备存储器的同时测试方法

引用

作者：迈克·侯赛因·阿米迪中国香港葵涌青山道552-566号美达中心11楼1-6A室

本发明提供了一种存储器测试系统和多个被测设备存储器的同时测试方法，该存储器测试系统包括主控制器单元MCU，所述主控制器单元MCU被配置为向至少第一从控制器单元SCU和第二从控制器单元SCU中的每一个提供测试模式；其中，所述第一SC... 详细信息

标准号: CN118016141A

本发明提供了一种存储器测试系统和多个被测设备存储器的同时测试方法，该存储器测试系统包括主控制器单元MCU，所述主控制器单元MCU被配置为向至少第一从控制器单元SCU和第二从控制器单元SCU中的每一个提供测试模式；其中，所述第一SCU被配置为使用所述测试模式来测试至少第一存储器和第二存储器，同时所述第二SCU使用所述测试模式测试至少第三存储器和第四存储器；以及其中，所述第一SCU和所述第二SCU中的每一个被配置为在独立配置中操作。

关键词：存储器测试模式存储器测试系统主控制器单元控制器单元测试配置第二存储器被测设备独立配置

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存储器测试系统、方法、装置、芯片及计算机存储介质

存储器测试系统、方法、装置、芯片及计算机存储介质

引用

作者：于福振张飞飞白文可李慧馨杨延光 710000 陕西省西安市高新区天谷八路156号软件新城研发基地二期A9幢202室

本公开提供了一种存储器测试系统、方法、装置、芯片及计算机存储介质，属于存储器技术领域。该系统包括：控制器，测试访问端口和存储器；该测试访问端口，被配置为接收外部测试设备发送的算法选择指令，并传输至控制器，算法选择指令... 详细信息

标准号: CN118335163A

本公开提供了一种存储器测试系统、方法、装置、芯片及计算机存储介质，属于存储器技术领域。该系统包括：控制器，测试访问端口和存储器；该测试访问端口，被配置为接收外部测试设备发送的算法选择指令，并传输至控制器，算法选择指令中包括目标算法标识；该控制器，被配置为根据目标算法标识，确定目标算法标识对应的至少一个待测指令，其中，控制器中预先存储了多个目标算法标识和待测指令集的对应关系，以及，执行至少一个待测指令，以对存储器进行测试。能够在不修改硬件电路的情况下，实现多种算法灵活切换的存储器测试系统。

关键词：算法标识控制器存储器测试系统测试访问端口算法选择指令存储器存储器技术领域计算机存储介质指令外部测试设备多个目标硬件电路预先存储指令集算法配置发送芯片测试传输灵活

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存储器测试系统及测试方法

存储器测试系统及测试方法

引用

作者：任开元林晓敏魏文蔡恩静高金德 201314 上海市浦东新区良腾路6号

本发明提供一种存储器测试系统及测试方法，存储器测试系统包括向量发生器、测试板和存储器测试仪，向量发生器用于生成至少一个测试向量，并将测试向量发送至测试板，测试板用于接收测试向量，并将测试向量发送至存储器测试仪；存储器... 详细信息

标准号: CN116665760A

本发明提供一种存储器测试系统及测试方法，存储器测试系统包括向量发生器、测试板和存储器测试仪，向量发生器用于生成至少一个测试向量，并将测试向量发送至测试板，测试板用于接收测试向量，并将测试向量发送至存储器测试仪；存储器测试仪用于执行测试向量以对待测存储器进行相应的测试。即，向量发生器与存储器测试仪通过测试板来实现联动，由此可以增加所生成的测试向量的深度和行数，从而生成待测存储器所需的测试向量，进而满足待测存储器的测试需求。

关键词：存储器测试仪测试向量测试板向量发生器存储器测试系统测试向量发送待测存储器测试测试需求接收测试存储器联动向量行数

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存储器测试系统及存储器测试方法

存储器测试系统及存储器测试方法

引用

作者：陈建宇中国台湾新北市泰山区南林路98号

本揭示内容提供一种存储器测试系统及存储器测试方法。存储器测试系统包括至少一存储器装置、电源供应器以及处理器。电源供应器用以根据控制信号提供第一参考电压至至少一存储器装置。处理器用以提供控制信号以控制电源供应器在多个电... 详细信息

标准号: CN118053490A

本揭示内容提供一种存储器测试系统及存储器测试方法。存储器测试系统包括至少一存储器装置、电源供应器以及处理器。电源供应器用以根据控制信号提供第一参考电压至至少一存储器装置。处理器用以提供控制信号以控制电源供应器在多个电压位准之间改变第一参考电压，并在电压位准之下测试至少一存储器装置以产生多个第一测试结果，第一测试结果对应电压位准。通过本揭示内容提供的存储器测试系统，能够自动地调整待测存储器装置所接收的参考电压，提升测试存储器装置的效率。

关键词：存储器测试系统存储器装置参考电压电压位准电源供应器内容提供处理器控制信号提供测试存储器存储器测试待测存储器控制电源控制信号供应器自动地测试

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存储器测试系统及其操作方法

存储器测试系统及其操作方法

引用

作者：崔仁镐刘澔龙韩国京畿道

本发明涉及一种存储器测试系统，可包括：数据存储装置，包括非易失性存储器装置和控制器，控制器被配置成控制非易失性存储器装置的操作；以及测试装置，被配置成：向数据存储装置请求测试；在数据存储装置中执行测试时，向数据存储装... 详细信息

标准号: CN108694988B

本发明涉及一种存储器测试系统，可包括：数据存储装置，包括非易失性存储器装置和控制器，控制器被配置成控制非易失性存储器装置的操作；以及测试装置，被配置成：向数据存储装置请求测试；在数据存储装置中执行测试时，向数据存储装置请求输出通过用于执行测试而驱动固件所生成的变量；并且基于从数据存储装置输出的变量来确定固件是否被正常驱动。

关键词：数据存储装置非易失性存储器装置控制器存储器测试系统测试驱动输出测试装置请求测试配置

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存储器测试系统及方法

存储器测试系统及方法

引用

作者：肖光 430205 湖北省武汉市东湖开发区高新四路18号

本发明公开了一种存储器测试系统及方法。所述存储器测试系统包括外部配置接口、外部环境模块和测试环境模块；所述外部配置接口用于输入测试参数；所述外部环境模块用于根据所述测试参数，确定相应的测试流程，在执行所述测试流程时，... 详细信息

标准号: CN112382335A

本发明公开了一种存储器测试系统及方法。所述存储器测试系统包括外部配置接口、外部环境模块和测试环境模块；所述外部配置接口用于输入测试参数；所述外部环境模块用于根据所述测试参数，确定相应的测试流程，在执行所述测试流程时，从预设的功能函数库中调取相应的功能函数，并产生所述功能函数对应的模式程序至所述测试环境模块；所述测试环境模块用于根据所述模式程序，对存储器进行测试。本发明实施例能够提高程序的复用性和可维护性，提高量产测试效率，且降低测试成本。

关键词：测试环境模块存储器测试系统测试流程功能函数模式程序配置接口外部环境输入测试参数功能函数库存储器测试参数测试成本测试效率可维护性复用性外部调取量产预设测试

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存储器测试系统及其操作方法

存储器测试系统及其操作方法

引用

作者：崔仁镐刘澔龙韩国京畿道

标准号: CN108694988A

关键词：数据存储装置非易失性存储器装置控制器存储器测试系统测试驱动输出测试装置请求测试配置

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存储器测试系统及方法

存储器测试系统及方法

引用

作者：肖光 430205 湖北省武汉市东湖开发区高新四路18号

标准号: CN112382335B

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FLASH存储器测试系统设计与实现

FLASH存储器测试系统设计与实现

引用

作者：惠嘉成电子科技大学

学位级别：硕士

随着集成电路产业的蓬勃发展和智能终端的普及,存储器芯片的市场不断扩大,而在此背景之下则是芯片与相关测试设备严重依赖国外进口的现状。存储器测试系统可对存储器进行全方位的功能与参数测试,广泛应用于设计验证、生产制造、成品检... 详细信息

随着集成电路产业的蓬勃发展和智能终端的普及,存储器芯片的市场不断扩大,而在此背景之下则是芯片与相关测试设备严重依赖国外进口的现状。存储器测试系统可对存储器进行全方位的功能与参数测试,广泛应用于设计验证、生产制造、成品检测等流程中,因而对存储器测试方法与测试设备的研究显得十分必要。本课题的主要研究内容包括:1、FLASH故障机理及测试图形算法研究。FLASH内部的存储单元块可在断电情况下保存数据,并支持擦除与再编程操作。对FLASH进行功能测试,目的是检测出在设计、制造与使用过程中可能存在的功能性故障。根据故障原因不同可抽象出多种故障模型,并通过不同的测试图形算法来检测。2、FLASH存储器测试系统硬件方案设计。本课题根据测试需要,将整体测试系统分为主控CPU、背板、电源板、功能测试模块等四个部分。功能测试模块作为最核心的部分,承担了测试向量产生、处理、发送,以及结果比较的功能。运行测试时,将测试信号通过线缆传输至测试接口板,最终连接至芯片引脚。3、数字测试码型的生成与输出。测试码型要求将向量按照预设的时序边沿信息重组后再发送,并产生对期望结果的精确比较时刻。本课题比较了多种码型生成与输出方案的优劣,讨论了不同方案对于生成速度、资源开销以及成本的影响,选择适基于延时的码型生成方式。4、测试图形生成与协议转换。测试系统支持硬件产生指定测试图形,或使用测试人员设计的自定义测试图形对FLASH进行功能测试。图形生成模块用以产生当前选定的测试流程与测试图形,协议转换模块则将无法直接使用的测试图形转换为遵循该存储器控制协议的测试向量。由于使用硬件生成测试图形,无需人工编写测试向量,执行流程更快,效率更高。本课题研制了一款基于分布式设计的FLASH存储器测试系统,具备每引脚精准测量单元(Pin Parametric Measurement Unit,PPMU),具备针对FLASH存储器的多种测试图形的生成与测试能力,可进行级联扩展,组成超大规模存储器测试系统实现“多片同测”,大幅提升测试效率。本系统亦可作为数字测试设备对普通数字芯片进行测试。最终,使用本测试系统对待测芯片MT28FW02GBBA进行了包括功能性测试、直流参数测试、交流参数测试的完整测试,并对测试结果进行分析。

关键词：码型实时生成测试图形产生存储器测试系统数字码型合成

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