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作者

  • 2 篇 吴滔
  • 2 篇 刘越
  • 2 篇 钟旭
  • 2 篇 赖峥嵘
  • 2 篇 万少巍
  • 2 篇 刘海波
  • 2 篇 刘冰
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  • 2 篇 施敏捷
  • 2 篇 王佳
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  • 1 篇 寄钟日

语言

  • 19 篇 中文
检索条件"主题词=存储测试信息"
19 条 记 录,以下是1-10 订阅
排序:
测试信息存储方法、装置、服务器和存储介质
测试信息存储方法、装置、服务器和存储介质
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作者: 赖峥嵘 王佳 518057 广东省深圳市南山区高新区科技中一路腾讯大厦35层
本发明实施例公开了一种测试信息存储方法、装置和服务器;本发明实施例可以获取测试信息测试信息包括测试信息的目标地址信息、至少一个测试数据以及测试数据对应的历史传输信息;根据历史传输信息生成测试信息的历史传输轨迹;当存... 详细信息
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测试信息存储方法、装置和服务器
测试信息存储方法、装置和服务器
收藏 引用
作者: 赖峥嵘 王佳 518057 广东省深圳市南山区高新区科技中一路腾讯大厦35层
本发明实施例公开了一种测试信息存储方法、装置和服务器;本发明实施例可以获取测试信息测试信息包括测试信息的目标地址信息、至少一个测试数据以及测试数据对应的历史传输信息;根据历史传输信息生成测试信息的历史传输轨迹;当存... 详细信息
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一种基于以太网的分布式惯性平台测试系统
一种基于以太网的分布式惯性平台测试系统
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作者: 李志刚 张金云 万少巍 刘冰 刘越 100854 北京市海淀区北京142信箱403分箱
一种基于以太网的分布式惯性平台测试系统,包括测试系统前端、以太网总线和测试系统后端。测试系统前端为服务器端,用于接收并处理用户操作指令、与测试系统后端进行消息交互、显示存储测试信息、完成实时诊断及决策处理、实现测试任... 详细信息
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一种基于以太网的分布式惯性平台测试系统
一种基于以太网的分布式惯性平台测试系统
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作者: 李志刚 张金云 万少巍 刘冰 刘越 100854 北京市海淀区北京142信箱403分箱
一种基于以太网的分布式惯性平台测试系统,包括测试系统前端、以太网总线和测试系统后端。测试系统前端为服务器端,用于接收并处理用户操作指令、与测试系统后端进行消息交互、显示存储测试信息、完成实时诊断及决策处理、实现测试任... 详细信息
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一种应用测试开发板、测试系统和车载显示屏
一种应用测试开发板、测试系统和车载显示屏
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作者: 吴大峰 吴汉成 516000 广东省惠州市惠城区丰山路28号弘毅云谷产业园404-409室
本实用新型公开了一种应用测试开发板、测试系统和车载显示屏,包括SOC系统模块,用于将测试信息发送至项目转接模块;项目转接模块,用于对测试信息进行编码,并将编码后的测试信息发送至被测设备进行测试;显示模块,用于呈现被测设... 详细信息
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一种无线采集盒
一种无线采集盒
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作者: 王国山 程永全 215123 江苏省苏州市工业园区星湖街218号生物纳米园A4楼517、518单元
本实用新型涉及医疗设备技术领域,特别涉及一种无线采集盒,包括:盒体、MCU微处理电路、模拟电路、无线模块、存储单元、电源电路及显示单元。MCU微处理电路、模拟电路、存储单元、电源电路及显示单元设置在盒体内;存储单元及显示单... 详细信息
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一种RFID读写器老化测试辅助装置
一种RFID读写器老化测试辅助装置
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作者: 刘海波 钟旭 610041 四川省成都市高新区肖家河中街46号
本实用新型公开了一种RFID读写器老化测试辅助装置,包括MCU、继电器、串口接口一、温湿度传感器接口、液晶显示器、存储器、扩展存储器、按键、报警器、电平转换电路和串口接口二,继电器控制电源的开关,MCU通过串口接口一与老化箱内... 详细信息
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内燃机车电喷控制器运行环境电子仿真系统
内燃机车电喷控制器运行环境电子仿真系统
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作者: 魏春光 万珍 王昌冬 100844 北京市海淀区复兴路10号
本发明的内燃机车电喷控制器运行环境电子仿真系统,上位机模拟机车人机接口,控制测试平台,接收、处理、显示并存储测试信息,下位机执行上位机给出的目标工况要求指令,向电喷控制器输出模拟的机车各部分参数信号,检测、监控系统的... 详细信息
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存储器装置及其操作方法以及存储控制器的操作方法
存储器装置及其操作方法以及存储控制器的操作方法
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作者: 金成煜 韩国京畿道
本申请公开了存储器装置及其操作方法以及存储控制器的操作方法。一种存储器装置包括用于存储测试信息的系统块,并且包括数据块,该数据块包括连接到多条低存储体列线和多条高存储体列线的存储器单元。该存储器装置还包括列修复控制器... 详细信息
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具有用于检测存储装置所存储信息产生变化的检测装置的数据载体
具有用于检测存储装置所存储信息产生变化的检测装置的数据载体
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作者: M·波施 H·哈尔 荷兰艾恩德霍芬
在包括用于可修改的存储信息(I)的第一存储装置(5)的电路(2)中,电路(2)的环境参数可修改该信息(I),环境参数作用于该第一存储装置(5),首先,在第一存储装置(5)中提供了用于存储测试信息(TI)的测试存储区域(7),其次提供了用于不可修... 详细信息
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