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主题

  • 1 篇 存储器内建自测试
  • 1 篇 march算法
  • 1 篇 故障模型
  • 1 篇 可测性设计
  • 1 篇 宏模块测试

机构

  • 1 篇 中国科学院研究生...
  • 1 篇 中国科学院计算技...

作者

  • 1 篇 李华伟
  • 1 篇 徐勇军
  • 1 篇 檀彦卓
  • 1 篇 李晓维

语言

  • 1 篇 中文
检索条件"主题词=宏模块测试"
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存储器内建自测试技术及应用
存储器内建自测试技术及应用
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中国科学院计算技术研究所第八届计算机科学与技术研究生学术讨论会
作者： 檀彦卓 徐勇军 李华伟 李晓维 中国科学院计算技术研究所信息网络室 北京100080 中国科学院研究生院 北京100039
存储器内建自测试(memory built-in self-test, MBIST)是当前针对嵌入式随机存储器(E-RAM)测试的一种经济有效的途径.它实质是BIST测试算法在芯片内部的硬件实现,形成"片上BIST测试结构",作为E-RAM核与芯片系统其他逻辑电路... 详细信息
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