研究了结构为(FM SiO2)3Ag(SiO2FM)3多层膜的巨磁阻抗(GMI)效应(这里的FM≡FeCuCrVSiB).多层膜采用射频溅射法沉积在单晶Si衬底上,沉积过程中,沿膜面长方向施加约72kA m的磁场,然后在不同的温度下对样品进行了退火处理.结果表明,该多层膜样品即使在沉积态便具有相当好的软磁性能和GMI效应,在7MHz的频率下,最大纵向和横向巨磁阻抗比分别为45%和44%.在230℃下经90min退火处理后的样品具有最佳的GMI效应,在8.5MHz的频率下,最大纵向和横向巨磁阻抗比分别达到251%和277%.与磁性层总厚度相同的FeCuCrVSiB Ag FeCuCrVSiB三层膜相比较,在这种多层结构中出现的GMI效应更强.
暂无评论