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文献类型

  • 9 篇 专利

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  • 9 篇 电子文献
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机构

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  • 1 篇 北京精密机电控制...
  • 1 篇 北京洛塔信息技术...
  • 1 篇 江苏点石乐投科技...

作者

  • 6 篇 庞新洁
  • 1 篇 邓辉超
  • 1 篇 陈军
  • 1 篇 刘波
  • 1 篇 仇立波
  • 1 篇 乔玉京
  • 1 篇 郑天笑
  • 1 篇 李伟山
  • 1 篇 杨瑶

语言

  • 9 篇 中文
检索条件"主题词=差错处理模块"
9 条 记 录,以下是1-10 订阅
排序:
一种基于分布式数据节点的对账系统
一种基于分布式数据节点的对账系统
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作者: 李伟山 210000 江苏省南京市建邺区奥体大街69号3栋106-212
本发明提出一种基于分布式数据节点的对账系统包括:用于对接各交易方支付系统的分布式节点,分布式节点上设有:文件获取模块,用于下载或读取各渠道的对账文件;文件解析模块,用于创建不同的解析模板,根据渠道和文件类型获取对应的... 详细信息
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伺服阀研制全流程防差错系统
伺服阀研制全流程防差错系统
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作者: 乔玉京 陈军 杨瑶 仇立波 郑天笑 刘波 100076 北京市丰台区南大红门路1号
伺服阀研制全流程防差错系统,前端预防差错处理模块将航天伺服阀的设计环节和工艺环节进行融合,确定满足任务书设计要求的伺服阀的设计图纸和测试规范,编制机加和装配调试工艺,确定伺服阀研制全流程薄弱环节对应的设计关键特性、工... 详细信息
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一种能够对多个Σ-△ADC芯片测试和温度控制的系统及方法
一种能够对多个Σ-△ADC芯片测试和温度控制的系统及方法
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作者: 庞新洁 518067 广东省深圳市南山区南海大道1079号花园城数码大厦A座9层
本发明公开了一种能够对多个Σ‑△ADC芯片测试和温度控制的系统及方法,该系统包括有USB通信模块、寄存器读写模块、输入信号测量模块、动态信号输入模块、信号控制模块差错处理模块,上述的模块均集成于ARM处理器中。该系统及方法能... 详细信息
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分布式业务数据校验系统、方法及装置
分布式业务数据校验系统、方法及装置
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作者: 邓辉超 100000 北京市朝阳区利泽西街6号院3号楼3层301内1
本申请实施例公开了一种分布式业务数据校验系统、方法及装置。本申请实施例提供的技术方案通过提供依次连接的数据准备模块、数据校验模块差错处理模块,数据准备模块用于提供待校验的数据源,数据校验模块用于当满足校验周期后触发... 详细信息
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一种能够对多个Σ‑△ADC芯片测试和温度控制的系统及方法
一种能够对多个Σ‑△ADC芯片测试和温度控制的系统及方法
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作者: 庞新洁 518067 广东省深圳市南山区南海大道1079号花园城数码大厦A座9层
本发明公开了一种能够对多个Σ‑△ADC芯片测试和温度控制的系统及方法,该系统包括有USB通信模块、寄存器读写模块、输入信号测量模块、动态信号输入模块、信号控制模块差错处理模块,上述的模块均集成于ARM处理器中。该系统及方法能... 详细信息
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一种数模混合信号芯片测试系统及方法
一种数模混合信号芯片测试系统及方法
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作者: 庞新洁 518067 广东省深圳市南山区南海大道1079号花园城数码大厦A座9层
本发明公开了一种数模混合信号芯片测试系统及方法,该系统包括有USB通信模块、在线检测模块、DAC测量模块、显示报警模块、线性扫描模块差错处理模块,上述的模块均集成于ARM处理器中;该系统及方法具备多芯片在线检测、自动和手动... 详细信息
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一种电容式触控按键芯片检测标定系统及方法
一种电容式触控按键芯片检测标定系统及方法
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作者: 庞新洁 518067 广东省深圳市南山区南海大道1079号花园城数码大厦A座9层
本发明公开了一种电容式触控按键芯片检测标定系统及方法,该系统包括有插入检测及标定模块、通信控制及寄存器配置模块、数据存储模块、按键处理模块、对比分析模块差错处理模块、电源控制模块和终端控制模块;该检测系统及方法能够... 详细信息
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一种电容式触控按键芯片检测标定系统及方法
一种电容式触控按键芯片检测标定系统及方法
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作者: 庞新洁 518067 广东省深圳市南山区南海大道1079号花园城数码大厦A座9层
本发明公开了一种电容式触控按键芯片检测标定系统及方法,该系统包括有插入检测及标定模块、通信控制及寄存器配置模块、数据存储模块、按键处理模块、对比分析模块差错处理模块、电源控制模块和终端控制模块;该检测系统及方法能够... 详细信息
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一种数模混合信号芯片测试系统及方法
一种数模混合信号芯片测试系统及方法
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作者: 庞新洁 518067 广东省深圳市南山区南海大道1079号花园城数码大厦A座9层
本发明公开了一种数模混合信号芯片测试系统及方法,该系统包括有USB通信模块、在线检测模块、DAC测量模块、显示报警模块、线性扫描模块差错处理模块,上述的模块均集成于ARM处理器中;该系统及方法具备多芯片在线检测、自动和手动... 详细信息
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