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主题

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  • 2 篇 闭环仿真
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  • 1 篇 电压无功自动控制
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作者

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语言

  • 65 篇 中文
检索条件"主题词=开环测试"
65 条 记 录,以下是1-10 订阅
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硅谐振压力微传感器开环测试中的信号处理技术
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航空学报 1999年 第4期20卷 374-376页
作者: 周浩敏 邢维巍 刘广玉 北京航空航天大学302教研室
介绍了自行设计的专用开环测试系统。该系统为一个自动测试系统,可测出谐振梁的幅频和相频特性,而且能成功地测出从拾振电阻获得的若干微伏的微弱信号。开环测试中最重要的问题是所谓的同频干扰。发现通过激励电阻与拾振电阻间的分布... 详细信息
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热激励硅谐振梁压力传感器开环测试系统设计
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微电子学 2006年 第6期36卷 729-731,762页
作者: 许弟建 王定军 徐世六 重庆大学光电工程学院 重庆400044 中国电子科技集团公司第二十四研究所 重庆400060 模拟集成电路国家重点实验室
设计了一个开环测试系统,利用锁相放大器能够对微弱信号进行有效检测的特点,采用交流激励、二倍频拾振的方法,实现了对热激励硅谐振梁压力传感器谐振输出的微弱信号的检测。该测试系统能够快速测得传感器的幅频特性曲线;通过处理,得到... 详细信息
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电压比较器V_(IO)的开环测试
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今日电子 2003年 第6期 16-17页
作者: 王卫民 谢力 国电公司自动化研究院
传统测试设备对电压比较器输入失调电压(VIO)的测试,采用“被测器件-辅助运放”的模式,稳定的闭环网络可以方便地将DUT的输出电压钳位在规定值。而在开环测试电路中,无法实现DUT的输出钳位,本文提出了利用ASL-1000的开环测试特性,采用... 详细信息
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三相三电平PFC电路的整机开环测试电路
三相三电平PFC电路的整机开环测试电路
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作者: 秦惠 518000 广东省深圳市南山区高新技术工业村W1号厂房3层B1、2层B1区
本申请提供了一种三相三电平PFC电路的整机开环测试电路,运用于地面航空系统领域,针对三相三电平PFC电路的特点,测试电路、主电路和辅助电源电路SPS;所述测试电路的输出端与所述主电路连接,所述主电路的输出端与辅助电源电路SPS连... 详细信息
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驾驶控制器硬件开环测试方法、装置、设备及存储介质
驾驶控制器硬件开环测试方法、装置、设备及存储介质
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作者: 罗丰山 张宇探 李悦 聂琦 张家智 430056 湖北省武汉市武汉经济技术开发区东风大道特1号
本发明公开了一种驾驶控制器硬件开环测试方法、装置、设备及存储介质,所述方法通过获取汽车道路测试中CAN总线采集数据,对所述CAN总线采集数据进行过滤,获得待转换CAN总线采集数据;将所述CAN总线采集数据输入至驾驶控制器,并对所... 详细信息
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一种智能设备音频开环测试方法
一种智能设备音频开环测试方法
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作者: 曹祖杨 罗洋 包君康 周航 311121 浙江省杭州市余杭区闲林工业园区闲兴路31-1号
本发明提供了一种智能设备音频开环测试方法,包括:提供先后包含低频信号和高频信号的双频触发信号,并与扫频信号整合成测试音频信号,其中,双频触发信号与扫频信号之间设置有一段静音时间;被测设备的麦克风录取测试音频信号,并将... 详细信息
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一种开环测试配网低压无功补偿控制器的方法
一种开环测试配网低压无功补偿控制器的方法
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作者: 杜威 朱义东 张新宇 田野 史可鉴 李海峰 王智博 顾泰宇 刘松 段方维 刘芮彤 迟丹一 丁爱华 孙翔 杨滢璇 王海强 110006 辽宁省沈阳市和平区四平街39-7号
本发明属于配电网无功补偿设备检测技术领域,尤其涉及一种开环测试配网低压无功补偿控制器的方法。本发明包括:步骤1.搭建测试环境,将三相标准源与控制器连接,施加标准的电气量;步骤2.通过分析计算,构建不同工况下的无功功率及功... 详细信息
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一种适用于直流保护测试的实时仿真开环测试方法
一种适用于直流保护测试的实时仿真开环测试方法
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作者: 刘志江 郭琦 林雪华 李捷 苏明章 510663 广东省广州市萝岗区科学城科翔路11号J1栋3、4、5楼及J3栋3楼
本发明公开了一种适用于直流保护测试的实时仿真开环测试方法,该方法包括根据要测试的被测试设备的保护功能类型,通过仿真开环测试系统确定保护所需要的模拟量输出值或数字量输出值,并传输至所述被测试设备,以进行仿真测试;其中,... 详细信息
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一种智能设备音频开环测试方法
一种智能设备音频开环测试方法
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作者: 曹祖杨 罗洋 包君康 周航 311121 浙江省杭州市余杭区闲林工业园区闲兴路31-1号
本发明提供了一种智能设备音频开环测试方法,包括:提供先后包含低频信号和高频信号的双频触发信号,并与扫频信号整合成测试音频信号,其中,双频触发信号与扫频信号之间设置有一段静音时间;被测设备的麦克风录取测试音频信号,并将... 详细信息
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硅谐振压力微传感器开环自动测试技术
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测控技术 1999年 第3期18卷 12-14页
作者: 周浩敏 邢维巍 北京航空航天大学自动控制系302教研室 100083
鉴于微传感器敏感元件的尺寸已经是“微米”级,并且所要处理的信号最大仅为微伏量级,信噪比极低,因此在微传感器的开环测试中需要采取新的技术和测试方法。本文主要讨论了硅谐振压力微传感器开环测试中的自动测试以及同频干扰问题。
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