检索结果-内蒙古大学图书馆

作者：文科中国科学院计算技术研究所

学位级别：硕士

随着半导体工艺技术的不断发展，集成电路的测试成本呈快速上升的趋势，其主要原因包括：1)电路规模不断增大和故障类型的增多使得测试数据量迅速膨胀，导致需要更大存储容量的自动测试仪(Automatic Test Equipment，ATE)来保存测试数... 详细信息

随着半导体工艺技术的不断发展，集成电路的测试成本呈快速上升的趋势，其主要原因包括：1)电路规模不断增大和故障类型的增多使得测试数据量迅速膨胀，导致需要更大存储容量的自动测试仪(Automatic Test Equipment，ATE)来保存测试数据，以及需要更长的测试时间完成测试项目；2)电路运行频率不断升高，有必要采用更高频率的ATE对电路进行实速测试以有效地检测时延故障。\n 数字电路测试压缩技术是指在待测芯片中添加测试激励解压缩电路和测试响应压缩电路，分别用以解压缩测试激励和压缩测试响应，同时在ATE中保存压缩后的测试激励和测试响应，降低测试成本。\n 内建自测试(Built-In Self Test，BIST)也是一种能够很好降低测试成本的可测试性技术(Design for Testability，DFT)。BIST技术将测试向量生成器和响应分析器内嵌到芯片内部，测试时ATE仅需提供必要的控制信号，从而降低了对外部ATE的性能要求，节约了测试成本。\n 本文首先分析了常见的数字电路测试压缩方法，然后结合一款通用微处理器介绍了测试压缩方法在这款微处理器上的具体应用以及在实际应用中存在的问题及其解决方法；在BIST研究方面，本文综合介绍并分析了BIST领域的相关研究成果，然后针对循环自测试路径(Circular Self Test Path，CSTP)故障覆盖率低和面积开销大的问题，提出了确定型循环自测试路径方法。本文的主要贡献包括：\n 1.对数字集成电路测试压缩技术进行了综述和分析，然后结合一款微处理器应用了测试激励解压缩和测试响应压缩技术。该微处理器的测试激励解压缩采用每个移位周期可重构的广播式压缩方法，测试响应压缩采用具有未知位容忍能力的异或门网络。压缩后的测试向量体积仅为压缩前的9.78％。为了提高故障覆盖率，本文还提出采用存储器的时序旁路模型阻止该微处理器中未知位的传播，从而降低测试响应的混叠率，提高故障覆盖率。\n 2.提出了一种基于状态跳变的确定型循环自测试路径方法。循环自测试路径是一种硬件开销比较小和易于实现的BIST技术，但存在故障覆盖率低的缺点。本文首先全面分析了各种BIST技术，然后针对循环自测试路径故障覆盖率低的原因进行了详细分析，提出了采用计数器和解码逻辑改变原有循环自测试路径状态的方法，使循环自测试路径在无法检测到新故障时能够跳变到一个能检测到故障的新状态，该方法易于实现且硬件开销低。ISCAS89基准电路上的实验结果表明，确定型循环自测试路径能达到100％的故障覆盖率，而且在大电路中的硬件开销小于10％。

关键词：微处理器测试测试压缩内建自测试循环自测试路径

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一种基于FPGA的面向微处理器测试的仿真方法及装置

一种基于FPGA的面向微处理器测试的仿真方法及装置

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作者：赵淳张乡夫刘越肖川 100192 北京市海淀区清河小营东路12号

本发明公开了一种基于FPGA的面向微处理器测试的仿真方法，涉及建模仿真技术领域，包括以下步骤：待测芯片上电并加载测试程序；根据所述待测芯片的待测功能确定所述虚拟芯片，并定义所述虚拟芯片和所述待测芯片的引脚规则；检测所述待... 详细信息

标准号: CN113111616B

本发明公开了一种基于FPGA的面向微处理器测试的仿真方法，涉及建模仿真技术领域，包括以下步骤：待测芯片上电并加载测试程序；根据所述待测芯片的待测功能确定所述虚拟芯片，并定义所述虚拟芯片和所述待测芯片的引脚规则；检测所述待测芯片是否与已经通过自检的虚拟芯片联通；执行所述测试程序的代码，测试所述待测芯片的功能。通过本发明中的方法，可以有效地发挥FPGA的可重构性、动态配置、灵活组合等特点，达到软件定义电路的目标，能够充分模拟外围电路的功能。较之传统的板级仿真方法，不用针对每一类外围电路设计电路板，只需要一个通用的功能电路板即可实现，并且可根据需要随时调整，监控点也可以任意设置，仿真评估效果更加明显。

关键词：待测芯片虚拟芯片外围电路设计微处理器测试电路板功能电路板测试程序定义电路动态配置仿真评估功能确定加载测试建模仿真可重构性外围电路传统的监控点通用的有效地板级联通上电引脚自检测试检测灵活

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一种全覆盖的微处理器测试用例包自动生成方法

一种全覆盖的微处理器测试用例包自动生成方法

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作者：王锋杨灿群易会战陈娟黄春赵克佳杜云飞 410073 湖南省长沙市砚瓦池正街47号

本发明公开了一种全覆盖的微处理器测试用例包自动生成方法，目的是解决微处理器形式化方法和随机测试方法无法覆盖全部指令组合的问题。技术方案是将每条指令的标识、指令的汇编名称、源操作数类型和目的操作数类型构成指令模板，M条... 详细信息

标准号: CN101673236B

本发明公开了一种全覆盖的微处理器测试用例包自动生成方法，目的是解决微处理器形式化方法和随机测试方法无法覆盖全部指令组合的问题。技术方案是将每条指令的标识、指令的汇编名称、源操作数类型和目的操作数类型构成指令模板，M条指令模板构成大小为M的指令模版库；根据用户需测试的指令数N，从指令模板库中选择N条指令模板，按序排列成指令模板组合，形成M^N个指令模板组合；采用实例化方法将每个指令模板组合实例化成指令组合；将初始化函数Init、指令组合以及状态输出函数Output顺序连接成一条测试用例，将所有测试用例打包构成测试用例包。采用本发明可以确保覆盖全部的测试用例，满足某些特定领域专用芯片不能避免遗漏任何功能验证的要求。

关键词：指令模板测试用例指令组合指令微处理器测试自动生成方法操作数类型目的操作数实例化方法形式化方法根据用户功能验证随机测试特定领域微处理器专用芯片状态输出组合实例初始化模版库化成打包遗漏汇编排列连接

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基于自动矢量生成技术的复杂微处理器测试方法

基于自动矢量生成技术的复杂微处理器测试方法

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作者：蒋常斌刘春来黎云浩李力军高剑李杰于明 100088 北京市海淀区北三环中路31号

本发明公开了一种基于自动矢量生成技术的复杂微处理器测试方法。该方法采用微处理器集成开发工具为测试模型产生可执行模块，并通过自动矢量生成技术产生完备的测试矢量集。测试矢量集包含IEEE1149.1协议，实现在线下载测试代码到被测... 详细信息

标准号: CN103678075B

本发明公开了一种基于自动矢量生成技术的复杂微处理器测试方法。该方法采用微处理器集成开发工具为测试模型产生可执行模块，并通过自动矢量生成技术产生完备的测试矢量集。测试矢量集包含IEEE1149.1协议，实现在线下载测试代码到被测微处理器并实现仿真控制的功能。依赖于微处理器的不同特点，测试矢量能建立自动测试设备和被测微处理器之间的通信链路，同步调用子程序与测试矢量，实现微处理器的功能测试。微处理器集成开发工具根据被测参数和测试模型生成参数测试步长表，实现微处理器的参数测试。本发明有效减少了微处理器测试的操作环节，降低微处理器的批量生产测试的测试成本。

关键词：微处理器测试矢量微处理器测试微处理器集成测试模型开发工具矢量生成自动测试设备可执行模块参数测试测试成本测试代码仿真控制功能测试生产测试生成参数通信链路有效减少在线下载调用测试环节

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一种基于FPGA的面向微处理器测试的仿真方法及装置

一种基于FPGA的面向微处理器测试的仿真方法及装置

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作者：赵淳张乡夫刘越肖川 100192 北京市海淀区清河小营东路12号

标准号: CN113111616A

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基于自动矢量生成技术的复杂微处理器测试方法

基于自动矢量生成技术的复杂微处理器测试方法

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作者：蒋常斌刘春来黎云浩李力军高剑李杰于明 100088 北京市海淀区北三环中路31号

标准号: CN103678075A

关键词：微处理器测试矢量微处理器测试微处理器集成参数测试测试模型矢量自动测试设备测试成本测试代码仿真控制功能测试通信链路同步调用下载开发依赖环节协议

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用全速电流测试检测AT89C51微处理器的实验研究

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计算机研究与发展 2007年第3期44卷 479-486页

作者：荀庆来邝继顺闵应骅湖南大学计算机与通信学院长沙410082 中国科学院计算技术研究所北京100080

全速电流测试是一种新的电路测试方法,现以AT89C51微处理器为例,说明用全速电流测试进行微处理器测试的可能性.在实验中,让微处理器重复执行选定的指令序列,以普通的万用数字电流表测量微处理器消耗的平均电流,并给出了指令序列的产生方... 详细信息

全速电流测试是一种新的电路测试方法,现以AT89C51微处理器为例,说明用全速电流测试进行微处理器测试的可能性.在实验中,让微处理器重复执行选定的指令序列,以普通的万用数字电流表测量微处理器消耗的平均电流,并给出了指令序列的产生方法.实验结果表明,用全速电流测试在指令级对AT89C51微处理器进行测试是可行的.通过测试所有的数据通路,不但可以检测数据通路的故障,而且可以检测由于控制错误而引起的数据传送错误.

关键词：全速电流测试瞬态电流测试微处理器测试指令序列

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RISC微处理器流水线的测试

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小型微型计算机系统 2005年第6期26卷 1110-1112页

作者：李瑛高德远张盛兵西北工业大学航空微电子中心陕西西安710072

现代微处理器的指令都是流水执行,流水线测试也应成为功能测试的一部分.讨论了指令在流水线中的执行以及指令间的依赖关系,给出了NRS4000微处理器的流水线的依赖图及精细依赖图.然后,依据指令在流水线的状态,将指令分成六类,分析了流水... 详细信息

现代微处理器的指令都是流水执行,流水线测试也应成为功能测试的一部分.讨论了指令在流水线中的执行以及指令间的依赖关系,给出了NRS4000微处理器的流水线的依赖图及精细依赖图.然后,依据指令在流水线的状态,将指令分成六类,分析了流水线中所有可能出现的“写后读”冲突.最后,给出了NRS4000微处理器的流水线测试序列和测试程序.

关键词：微处理器测试流水线流水线冲突

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基于赋值判决图的AT89C51微处理器全速电流测试实验研究

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科学技术与工程 2006年第13期6卷 1808-1815页

作者：荀庆来邝继顺湖南大学计算机与通信学院长沙410082

全速电流测试是一种新的电路测试方法,以AT89C51微处理器为例,说明用全速电流测试进行微处理器测试的可能性。实验中将80C51内核的HDL描述转换为赋值判决图(ADD),然后由ADD产生测试所需的指令序列,最后令微处理器重复执行产生的指令序列... 详细信息

全速电流测试是一种新的电路测试方法,以AT89C51微处理器为例,说明用全速电流测试进行微处理器测试的可能性。实验中将80C51内核的HDL描述转换为赋值判决图(ADD),然后由ADD产生测试所需的指令序列,最后令微处理器重复执行产生的指令序列,并用普通的万用数字电流表测量微处理器消耗的平均电流。实验结果表明,用全速电流测试在指令级对AT89C51微处理器进行测试是可行的。通过测试所有的数据通路,不仅可以检测数据通路的故障,而且可以检测由于控制错误而引起的数据传送错误。

关键词：全速电流测试微处理器测试赋值判决图指令序列

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微處理器軟體自我測試的可測試性分析

微處理器軟體自我測試的可測試性分析

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作者：張欽俞臺灣大學

学位级别：碩士

以软体为测试基础的微处理器自我测试是一极具低成本的测试方法，它不需要任何为测试加入所额外设计的电路，且其不需外部昂贵的测试仪器亦可完成高速测试。然而此种测试方法仍有许多瓶颈，例如，首先如何产生一有效之测试程式达到较高... 详细信息

以软体为测试基础的微处理器自我测试是一极具低成本的测试方法，它不需要任何为测试加入所额外设计的电路，且其不需外部昂贵的测试仪器亦可完成高速测试。然而此种测试方法仍有许多瓶颈，例如，首先如何产生一有效之测试程式达到较高的缺陷覆盖率，此外，如何快速合成出一有效的测试程式亦是一大挑战。在这篇论文里我们提出一个以模拟统计的分析方法，首先它依据微处理器使用的指令集产生一连串随机排列的测试程式，而後让微处理器执行X-Based Simulation之模拟程式，X-Based Simulation模拟程式之目的是要找出微处理器的指令集与微处理器之各模组之间的关系。根据模拟的结果，会将此结果应用统计的方式，可指引出一串具有较高的可测试性程式，用以侦测微处理器内部之缺陷。此方法在测试微处理机时是在功能模式下进行的，所以它能够自然地做到速度上(at-speed)的测试，而且不会让硬体面积增加。在这篇论文里以一8051之微处理器为应用对象。

关键词：軟體自我測試微處理器測試可測性分析

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