咨询与建议

限定检索结果

文献类型

  • 25 篇 期刊文献
  • 17 篇 专利
  • 2 篇 成果
  • 1 篇 报纸

馆藏范围

  • 45 篇 电子文献
  • 0 种 纸本馆藏

日期分布

学科分类号

  • 20 篇 工学
    • 18 篇 电子科学与技术(可...
    • 3 篇 材料科学与工程(可...
    • 1 篇 计算机科学与技术...
  • 3 篇 经济学
    • 3 篇 应用经济学
  • 1 篇 历史学
    • 1 篇 中国史
  • 1 篇 理学

主题

  • 28 篇 微电子测试
  • 13 篇 电路参数测量
  • 3 篇 微电子学
  • 2 篇 测试图形
  • 2 篇 测试方法
  • 2 篇 目次
  • 2 篇 计算机辅助测试
  • 2 篇 工艺参数
  • 2 篇 边界扫描
  • 2 篇 会议录
  • 2 篇 集成电路测试
  • 2 篇 薄层电阻
  • 2 篇 集成电路
  • 2 篇 领域
  • 2 篇 容错计算
  • 2 篇 计算机辅助技术
  • 1 篇 测试生成算法
  • 1 篇 解决方案
  • 1 篇 编辑测试方法
  • 1 篇 介绍

机构

  • 4 篇 无锡物联网创新中...
  • 2 篇 苏州能讯高能半导...
  • 2 篇 成都汉芯国科集成...
  • 2 篇 西北电讯工程学院
  • 2 篇 中国船舶集团有限...
  • 1 篇 上海华力微电子有...
  • 1 篇 中国科学院计算技...
  • 1 篇 珠海市维钜兴电子...
  • 1 篇 骊山微电子公司
  • 1 篇 深圳市科耐特精密...
  • 1 篇 常州信息职业技术...
  • 1 篇 华东师范大学
  • 1 篇 哈尔滨工业大学
  • 1 篇 科力芯半导体设备...

作者

  • 4 篇 陈大鹏
  • 4 篇 傅剑宇
  • 2 篇 韩鹏宇
  • 2 篇 侯影
  • 2 篇 周琼
  • 2 篇 刘超
  • 2 篇 徐广泽
  • 2 篇 梁川川
  • 2 篇 贾新章
  • 2 篇 刘倩
  • 2 篇 蒋次为
  • 1 篇 田霞
  • 1 篇 范焕章
  • 1 篇 叶明
  • 1 篇 熊瑊
  • 1 篇 李文蔚
  • 1 篇 边江
  • 1 篇 蒋岳敏
  • 1 篇 张安康
  • 1 篇 姚立真

语言

  • 45 篇 中文
检索条件"主题词=微电子测试"
45 条 记 录,以下是31-40 订阅
排序:
产品之窗
收藏 引用
电子测试 1997年 第4期 46-66页
PCS移动电台与基站测试设备 1900CSA是测试400/800MHz蜂窝电话以及1900MHz IS-136 PCS移动电台与基站的独立平台。1900型设备的频率覆盖范围为2GHz,可进行PCS设备参数与协议的综合测试测试内容有:AMPS/NAMPS,
来源: 评论
电气测量技术及仪器
收藏 引用
中国无线电电子学文摘 1997年 第5期13卷 124-125页
来源: 评论
走向更广阔的测试领域——杂志改版序言
收藏 引用
电子测试 1997年 第4期 1-1页
作者: 马天方
这一期的《微电子测试》以崭新的面貌呈现在广大读者面前。新版《微电子测试》冲破原来划定的范围比较狭窄的微电子测试小天地,阔步迈向可以大显身手的广阔电子测试领域。《微电子测试》将兼顾微电子电子电子与非电子测试与数据... 详细信息
来源: 评论
1995年《微电子测试》总目次
收藏 引用
电子测试 1995年 第4期 48-48页
来源: 评论
微电子测试》1994年总目次
收藏 引用
电子测试 1994年 第4期 48-48页
来源: 评论
微电子学、集成电路
收藏 引用
中国无线电电子学文摘 1995年 第2期11卷 56-59页
来源: 评论
微电子学、集成电路
收藏 引用
中国无线电电子学文摘 1994年 第4期10卷 53-56页
来源: 评论
微电子测试结构研究超薄栅介质的可靠性
收藏 引用
电子器件 1991年 第4期14卷 8-17页
作者: 张安康
本文介绍了几种新颖的微电子测试结构及其应用,诸如栅氧化物可靠性评估、薄介质层击穿以及预示MOS绝缘层的边缘效应.同时讨论了超薄栅介质层的可靠性.
来源: 评论
微电子测试》创刊
收藏 引用
电子测量技术 1987年 第3期 15-15页
微电子测试》是我国第一个微电子信息系统计算机辅助测试(CAT)技术方面的专业期刊,于今年九月创刊。刊物内容为:国内外CAT技术发展状况和动态;微电子信息系统的测试理论、方法和技术;CAT设备的研究、设计、制造、操作、维护经验;微电子
来源: 评论
微电子测试图技术及其计算机辅助测试
收藏 引用
半导体技术 1986年 第5期 12-15页
作者: 贾新章 姚立真 叶明 西北电讯工程学院
本文介绍了有关微电子测试图技术的几个基本概念,结合我们在调试工艺设备、摸索工艺条件时使用的一套微电子测试图说明采用计算机辅助测试技术的必要性.最后介绍我校研制的WT-2型微电子测试图计算机辅助测试仪,并给出测试结果.
来源: 评论