咨询与建议

限定检索结果

文献类型

  • 428 篇 专利

馆藏范围

  • 428 篇 电子文献
  • 0 种 纸本馆藏

日期分布

机构

  • 11 篇 华南理工大学
  • 9 篇 国家电网有限公司
  • 8 篇 深圳市景程信息科...
  • 8 篇 清华大学
  • 7 篇 电子科技大学
  • 6 篇 西安交通大学
  • 6 篇 南方电网科学研究...
  • 5 篇 东南大学
  • 5 篇 上海华虹宏力半导...
  • 5 篇 中国电子科技集团...
  • 5 篇 京东方科技集团股...
  • 5 篇 中国电子科技集团...
  • 4 篇 华中科技大学
  • 4 篇 中国人民解放军国...
  • 4 篇 复旦大学
  • 4 篇 国家电网公司
  • 4 篇 北京有感科技有限...
  • 4 篇 中国南方电网有限...
  • 4 篇 南京邮电大学
  • 4 篇 中国科学技术大学

作者

  • 8 篇 张红治
  • 8 篇 邓力
  • 8 篇 李书芳
  • 8 篇 彭彪
  • 8 篇 张贯京
  • 8 篇 葛新科
  • 6 篇 李斌
  • 6 篇 章秀银
  • 5 篇 李越
  • 5 篇 高伟明
  • 5 篇 安苏生
  • 5 篇 董元旦
  • 4 篇 虎宁
  • 4 篇 陈星星
  • 4 篇 马俊超
  • 4 篇 冯志红
  • 4 篇 郭光灿
  • 4 篇 杜思行
  • 4 篇 张兵
  • 4 篇 孔伟成

语言

  • 428 篇 中文
检索条件"主题词=总电容"
428 条 记 录,以下是11-20 订阅
排序:
一种电容式套管局放定位方法
一种电容式套管局放定位方法
收藏 引用
作者: 张晋寅 潘志城 韦晓星 谢志成 邓军 510663 广东省广州市萝岗区科学城科学大道223号2号楼检修试验中心
本发明公开了一种电容式套管局部放电定位方法,涉及换流站/变电站高压一次设备检修试验领域,利用电路中不同电气节点的端子接受到的局放信号差异,根据电容式套管总电容、屏间电容分布值,采用算法推算出套管内部局放起始的电气位置... 详细信息
来源: 评论
一种薄膜电容的防故障电路、方法及空调器
一种薄膜电容的防故障电路、方法及空调器
收藏 引用
作者: 向井胜久 315191 浙江省宁波市鄞州区姜山镇明光北路1166号
本发明提供一种薄膜电容的防故障电路、方法及空调器,所述防故障电路包括交流电源、整流电路及母线电路,所述母线电路包括第一支路、第二支路,在第一支路和第二支路之间设置有第五支路,在所述第五支路上串联设置有薄膜电容和保护电... 详细信息
来源: 评论
一种无外挂电容的驱动Buffer的动态miller补偿电路及其方法
一种无外挂电容的驱动Buffer的动态miller补偿电路及其方法
收藏 引用
作者: 许建超 孙添平 戴贵荣 戴庆田 518000 广东省深圳市新安街道留芳路6号庭威工业园3号楼7楼D、E区
本发明公开了一种无外挂电容的驱动Buffer的动态miller补偿电路及其方法,包括开关电容电路、驱动Buffer电路和多路选择逻辑单元,所述开关电容电路还包括开关电容外围电路、总电容C1和开关S1;所述驱动Buffer电路还包括驱动Buffer外... 详细信息
来源: 评论
一种用于模拟确定高压套管电容层击穿故障的方法及系统
一种用于模拟确定高压套管电容层击穿故障的方法及系统
收藏 引用
作者: 肖遥 许佐明 周海滨 李瑶琴 胡伟 万保权 510000 广东省广州市萝岗区广州科学城科学大道181号A4第7层
本发明公开了一种用于模拟确定高压套管电容层击穿故障的方法及系统,属于高电压试验检测技术领域。本发明方法:将模拟电容层击穿的单个电容串联接入高压套管,并在高压套管高压侧施加交流电压,确定高压套管总电容;在套管末屏引出端... 详细信息
来源: 评论
一种大电容的测试结构及其测试方法、晶圆测试结构
一种大电容的测试结构及其测试方法、晶圆测试结构
收藏 引用
作者: 曾繁中 刘倩倩 宋永梁 201306 上海市浦东新区中国上海浦东新区自由贸易试验区临港新片区云水路600号
本发明提供一种大电容的测试结构及其测试方法、晶圆测试结构,该测试结构包括待测电容及至少一个电容单元,待测电容的第一极板电连接至第一焊盘,第二极板电连接至各个电容单元的第一极板,各个电容单元的第二极板分别电连接有第二焊... 详细信息
来源: 评论
电容器及其制备方法
电容器及其制备方法
收藏 引用
作者: 王少伟 王春阳 吴双双 230601 安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号
本公开提供一种电容器及其制备方法。所述电容器包括:衬底;沟槽电容,至少位于所述衬底内部,所述沟槽电容包括依次层叠的第一下电极、第一介电层、第一上电极;至少一平板电容,位于所述衬底表面,所述平板电容包括依次层叠的第二下... 详细信息
来源: 评论
亥姆霍兹线圈分布电容的计算方法及装置
亥姆霍兹线圈分布电容的计算方法及装置
收藏 引用
作者: 林德焱 肖权 赵雪亭 张子豪 430070 湖北省武汉市洪山区珞狮路122号
本发明提供了一种亥姆霍兹线圈分布电容的计算方法及装置,该方法包括:采用预设仿真处理工具建立亥姆霍兹线圈的仿真模型;基于静电储能原理计算获得仿真模型下所述亥姆霍兹线圈的单边集总电容;采用有限元法计算仿真模型下所述亥姆霍... 详细信息
来源: 评论
一种用于模拟确定高压套管电容层击穿故障的方法及系统
一种用于模拟确定高压套管电容层击穿故障的方法及系统
收藏 引用
作者: 肖遥 许佐明 周海滨 李瑶琴 胡伟 万保权 510000 广东省广州市萝岗区广州科学城科学大道181号A4第7层
本发明公开了一种用于模拟确定高压套管电容层击穿故障的方法及系统,属于高电压试验检测技术领域。本发明方法:将模拟电容层击穿的单个电容串联接入高压套管,并在高压套管高压侧施加交流电压,确定高压套管总电容;在套管末屏引出端... 详细信息
来源: 评论
寄生电容的检测方法、存储器和可读存储介质
寄生电容的检测方法、存储器和可读存储介质
收藏 引用
作者: 钱仕兵 230601 安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号
本公开提供了一种寄生电容的检测方法、存储器和可读存储介质,涉及半导体技术领域。其中,检测方法包括:提供多个用于测试的半导体器件,各所述半导体器件中源极、漏极、有源层、栅极、导线的数量以及导线的截面积相同,各所述半导体... 详细信息
来源: 评论
Y电容模拟系统、方法、充电测试系统、设备及存储介质
Y电容模拟系统、方法、充电测试系统、设备及存储介质
收藏 引用
作者: 许阳 王伯军 李威 于长虹 马云天 刘嘉奇 盛毅 宋希龙 130011 吉林省长春市汽车经济技术开发区新红旗大街1号
本发明公开了一种Y电容模拟系统,应用于充电测试系统,充电测试系统与车辆的整车高压系统连接,包括MCU、Y电容投切子系统、Y电容检测子系统,MCU向Y电容投切子系统发送Y电容测试值,Y电容投切子系统根据Y电容测试值设置充电测试系统... 详细信息
来源: 评论