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AND代表“并且”；OR代表“或者”；NOT代表“不包含”；(注意必须大写,运算符两边需空一格)

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范例一：(K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 AND Y=1982-2016
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31 篇 专利

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机构

5 篇 瑞昱半导体股份有...
4 篇 北京兆易创新科技...
4 篇 三星电子株式会社
4 篇 深圳市中兴微电子...
2 篇 精工爱普生株式会...
2 篇 西安爱芯元智科技...
2 篇 北京大学
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1 篇 中国人民解放军国...
1 篇 上海壁仞科技股份...
1 篇 中国人民解放军国...
1 篇 三洋半导体株式会...
1 篇 三星半导体研究开...
1 篇 国际商业机器公司
1 篇 上海交通大学
1 篇 三洋电机株式会社

作者

4 篇 潘荣华
4 篇 薛子恒
2 篇 罗宇诚
2 篇 詹姆斯·r·隆柏格
2 篇 佐藤英树
2 篇 孟祥刚
2 篇 李峄
2 篇 沈威志
2 篇 潘友仁
2 篇 王秋实
2 篇 石健玮
2 篇 蒋曦
2 篇 李日农
2 篇 张柯
2 篇 孙军凯
2 篇 冯建华
2 篇 陈莹晏
2 篇 黄超
2 篇 林振东
2 篇 李奉炫

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31 篇 中文

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集成电路测试模式下的时钟诊断修复方法、装置和设备

集成电路测试模式下的时钟诊断修复方法、装置和设备

引用

作者：胡春媚王法振唐茜茜梁斌柴思佳张震吴振宇陈小文罗登陈建军 410073 湖南省长沙市开福区德雅路109号

本申请涉及集成电路测试模式下的时钟诊断修复方法、装置和设备，通过对集成电路芯片在扫描设计后的网表进行测试时钟树的提取分析，找到两个输入端来源于测试时钟的所有最后一级时钟选择器后，从中找出来源于组合逻辑的功能选择使能信... 详细信息

标准号: CN118364781A

本申请涉及集成电路测试模式下的时钟诊断修复方法、装置和设备，通过对集成电路芯片在扫描设计后的网表进行测试时钟树的提取分析，找到两个输入端来源于测试时钟的所有最后一级时钟选择器后，从中找出来源于组合逻辑的功能选择使能信号的修复选择端，最后分别为各待修复选择端添加一个或门，以避免集成电路芯片在测试模式下时钟切换后时钟输出不确定的问题。与传统技术相比，通过在时钟多级多路选择器的级联部分增加少量硬件电路，有效消除了集成电路芯片在测试模式下时钟切换后时钟输出的两种不确定性，保证芯片在扫描测试模式下的正常运行，提高了集成电路芯片的仿真验证通过率。

关键词：集成电路芯片测试模式测试时钟时钟切换时钟输出选择端修复集成电路测试扫描测试模式时钟选择器不确定性多级多路仿真验证功能选择扫描设计使能信号硬件电路组合逻辑输入端通过率选择器或门级联网表芯片诊断申请分析保证

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芯片测试方法、装置、芯片测试机及存储介质

芯片测试方法、装置、芯片测试机及存储介质

引用

作者：孙军凯张柯孟祥刚蒋曦 710000 陕西省西安市高新区唐延路51号西安人寿壹中心人寿1栋8层XAGSZHLR810

本申请提供一种芯片测试方法、装置、芯片测试机及存储介质，涉及芯片测试技术领域，该方法包括：确定芯片中时钟门控单元的目标使能端的目标寄存器；基于多个目标寄存器组合得到目标扫描链；通过目标扫描链上多个目标寄存器的设定值，... 详细信息

标准号: CN114280454B

本申请提供一种芯片测试方法、装置、芯片测试机及存储介质，涉及芯片测试技术领域，该方法包括：确定芯片中时钟门控单元的目标使能端的目标寄存器；基于多个目标寄存器组合得到目标扫描链；通过目标扫描链上多个目标寄存器的设定值，生成目标使能信号；通过目标使能信号，控制时钟门控单元中目标使能端对应的目标时钟门控单元开启或关闭。本申请能够在生成目标扫描链的基础上，通过控制寄存器的值以控制芯片扫描测试模式下时钟门控单元的开启和关闭，降低了时钟门控单元的控制难度，有效地控制了时钟门控单元的开启比例，减少测试向量数量，提高测试覆盖率，从而减小芯片扫描测试时的测试功耗，减小测试成本。

关键词：时钟门控单元目标扫描多个目标门控单元使能信号芯片测试寄存器减小使能扫描测试模式测试覆盖率控制寄存器目标寄存器芯片测试机有效地控制测试成本测试功耗测试向量存储介质控制时钟控制芯片目标时钟芯片扫描申请芯片测试

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集成电路、非暂时性计算机可读介质以及计算系统

集成电路、非暂时性计算机可读介质以及计算系统

引用

作者：李奉炫韩国京畿道水原市

提供了一种集成电路(IC)、非暂时性计算机可读介质以及计算系统，该集成电路包括被配置为同步于时钟信号而操作的第一同步电路。该第一同步电路包括选择器和锁存器单元，其中，选择器包括被配置为接收第一输入信号的第一输入端子、被配... 详细信息

标准号: CN109408846B

提供了一种集成电路(IC)、非暂时性计算机可读介质以及计算系统，该集成电路包括被配置为同步于时钟信号而操作的第一同步电路。该第一同步电路包括选择器和锁存器单元，其中，选择器包括被配置为接收第一输入信号的第一输入端子、被配置为接收第二输入信号的第二输入端子和被配置为接收扫描使能信号的第三输入端子，扫描使能信号指示扫描测试模式和功能操作模式中的一个，锁存器单元被配置为在扫描测试模式中作为输出与第一输入信号对应的第一输出信号的触发器操作，并且在功能操作模式中作为输出与第二输入信号对应的第二输出信号的锁存器操作。

关键词：输入端子配置功能操作模式扫描测试模式锁存器单元输出信号同步电路信号对应选择器集成电路非暂时性计算机扫描使能信号锁存器操作计算系统接收扫描可读介质时钟信号使能信号输出触发器

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重复运算模块的测试电路

重复运算模块的测试电路

引用

作者：请求不公布姓名请求不公布姓名请求不公布姓名请求不公布姓名 201114 上海市闵行区陈行公路2388号16幢13层1302室

本发明提供一种重复运算模块的测试电路，涉及电路设计技术领域，电路包括：比较逻辑模块和诊断模块；比较逻辑模块的输入端作为测试电路的输入端，测试电路的输入端用于连接至少两个重复运算模块的输出端，比较逻辑模块的输出端连接于... 详细信息

标准号: CN117849599A

本发明提供一种重复运算模块的测试电路，涉及电路设计技术领域，电路包括：比较逻辑模块和诊断模块；比较逻辑模块的输入端作为测试电路的输入端，测试电路的输入端用于连接至少两个重复运算模块的输出端，比较逻辑模块的输出端连接于诊断模块的第一输入端，诊断模块的输出端作为测试电路的输出端；比较逻辑模块用于：对至少两个重复运算模块中的任意两个重复运算模块的输出结果进行比较，输出比较结果；其中，比较结果用于表征任意两个重复运算模块的输出结果是否一致；诊断模块用于：基于比较结果对至少两个重复运算模块进行诊断，输出诊断结果。本发明可以显著减少DFT扫描测试模式下对芯片管脚资源的使用，极大提升了测试效率。

关键词：运算模块比较逻辑模块测试电路诊断模块输入端重复输出端输出结果电路设计技术扫描测试模式芯片管脚资源输出端连接测试效率输出比较诊断结果电路诊断输出

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时脉闸控单元

时脉闸控单元

引用

作者：罗宇诚潘友仁沈威志石健玮缪俊伟中国台湾新竹科学工业园区创新二路2号

本发明公开一种时脉闸控单元，包括两闩锁器可配置为正反器，以利用第一时脉信号的正/负缘来储存输入端的值，而且还包括选择器可选择使正反器储存不同输入端的值。另外，在非扫描测试模式下，所述时脉闸控单元可透过一独立信号来强制... 详细信息

标准号: CN113497606B

本发明公开一种时脉闸控单元，包括两闩锁器可配置为正反器，以利用第一时脉信号的正/负缘来储存输入端的值，而且还包括选择器可选择使正反器储存不同输入端的值。另外，在非扫描测试模式下，所述时脉闸控单元可透过一独立信号来强制关掉没有用到的闩锁器，以达到省电的效果，并在扫描测试模式的扫描移位期间和扫描撷取期间，所述时脉闸控单元更分别透过两独立信号来强制输出第一时脉信号作为闸控时脉信号。

关键词：闸控单元时脉扫描测试模式独立信号时脉信号正反器闩锁器扫描储存可配置可透过选择器移位负缘控时省电撷取输出

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一种芯片设计处理的方法及装置

一种芯片设计处理的方法及装置

引用

作者：李峄 518055 广东省深圳市南山区西丽街道留仙大道中兴工业园

一种芯片设计处理的方法，包括：在芯片物理设计阶段生成好时钟树后，获取每一条扫描链的信息；根据预置的扫描模式测试向量对所述每一条扫描链进行状态配置；根据配置后的所述每一条扫描链的状态模拟所述芯片在扫描测试模式的工作状态... 详细信息

标准号: CN109145334B

一种芯片设计处理的方法，包括：在芯片物理设计阶段生成好时钟树后，获取每一条扫描链的信息；根据预置的扫描模式测试向量对所述每一条扫描链进行状态配置；根据配置后的所述每一条扫描链的状态模拟所述芯片在扫描测试模式的工作状态，进行电源完整性分析。一种芯片设计处理的装置。本方案可以加速芯片设计的迭代过程，极大地提高了芯片设计的进度。

关键词：芯片设计扫描链扫描测试模式电源完整性测试向量迭代过程加速芯片扫描模式设计阶段芯片物理状态模拟状态配置时钟树预置芯片进度配置分析

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芯片测试方法、装置、芯片测试机及存储介质

芯片测试方法、装置、芯片测试机及存储介质

引用

作者：孙军凯张柯孟祥刚蒋曦 710000 陕西省西安市高新区唐延路51号西安人寿壹中心人寿1栋8层XAGSZHLR810

标准号: CN114280454A

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测试电路

测试电路

引用

作者：许烱发黄振国陆美娟卓暐中中国台湾新竹

一种测试电路，包括多个常态正反器以及一改良式正反器。该多个常态正反器各自包括一第一输入脚位、一第二输入脚位以及一第一输出脚位，并用以根据一扫描致能信号选择性地暂存该第一输入脚位的输入值或该第二输入脚位的输入值。该改良... 详细信息

标准号: CN115078956A

一种测试电路，包括多个常态正反器以及一改良式正反器。该多个常态正反器各自包括一第一输入脚位、一第二输入脚位以及一第一输出脚位，并用以根据一扫描致能信号选择性地暂存该第一输入脚位的输入值或该第二输入脚位的输入值。该改良式正反器包括分别耦接于一黑盒子电路、该多个常态正反器与多个组合逻辑电路的一第三输入脚位、一第四输入脚位以及一第二输出脚位，并用以根据一扫描测试模式信号选择性地暂存该第三输入脚位的输入值或者该第四输入脚位的输入值。

关键词：输入脚位正反器常态输出脚位改良式暂存扫描测试模式扫描致能信号组合逻辑电路并用测试电路信号选择黑盒子耦接电路

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时脉闸控单元

时脉闸控单元

引用

作者：罗宇诚潘友仁沈威志石健玮缪俊伟中国台湾新竹科学工业园区创新二路2号

标准号: CN113497606A

关键词：闸控单元时脉扫描测试模式独立信号时脉信号正反器闩锁器扫描储存可配置可透过选择器移位负缘控时省电撷取输出

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用于可测试芯片的测试方法、装置及可测试芯片内置电路

用于可测试芯片的测试方法、装置及可测试芯片内置电路

引用

作者：黄超 518055 广东省深圳市南山区西丽街道留仙大道中兴工业园

本文公布了一种测试方法、测试装置及可测试芯片内置电路。测试方法包括：在芯片的异步数据路径上插入时序隔离单元，使得相应数据路径的接收端在扫描测试模式下为固定值；配置低速测试时钟，读入插入时序隔离单元后所述芯片的布局布线P... 详细信息

标准号: CN108957301B

本文公布了一种测试方法、测试装置及可测试芯片内置电路。测试方法包括：在芯片的异步数据路径上插入时序隔离单元，使得相应数据路径的接收端在扫描测试模式下为固定值；配置低速测试时钟，读入插入时序隔离单元后所述芯片的布局布线PR网表，在自动测试向量发生器ATPG环境中产生测试向量；其中，在所述扫描测试模式下所述时序隔离单元输出信号恒为所述固定值。本申请有效平衡了低速stuck‑at的测试向量数目与PR对低速测试模式TIMING的收敛时间，不仅可减少测试成本，而且可加快测试进展，为芯片实现后续环节节省大量时间。

关键词：时序隔离单元扫描测试模式测试向量芯片测试自动测试向量发生器异步数据路径测试成本测试模式测试时钟测试装置内置电路输出信号数据路径芯片实现有效平衡接收端可测试布线读入网表收敛配置申请环节

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