检索结果-内蒙古大学图书馆

扫描设计中扫描链的优化

引用

计算机辅助设计与图形学学报 1996年第4期8卷 282-287页

作者：叶波郑增钰复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室

提出了扫描法可测性设计中扫描链的优化方法。采用交迭测试体制和区间法能快速求出最优解。对于确定的测试向量集，用该方法构造的扫描链能使电路总的测试时间最少。

关键词：扫描设计扫描链可测性集成电路

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

基于电路状态信息和冲突分析的部分扫描设计

引用

电子与信息学报 2004年第1期26卷 124-130页

作者：向东刘鑫徐奕清华大学微电子学研究所北京100084

该文提出了一种割断关键回路的方法来选择扫描触发器。该方法在选择一定数量的扫描触发器后,采用逻辑模拟更新电路的状态信息,这样可以得到更为精确的可测试性信息。当电路中的关键回路割断后,转向消除冲突的处理,而不是降低时序深度。... 详细信息

该文提出了一种割断关键回路的方法来选择扫描触发器。该方法在选择一定数量的扫描触发器后,采用逻辑模拟更新电路的状态信息,这样可以得到更为精确的可测试性信息。当电路中的关键回路割断后,转向消除冲突的处理,而不是降低时序深度。该方法致力于消除冲突,并使用了一种基于冲突分析的测度conflict.足够的实验结果表明该方法是非常有效的。

关键词：电路状态信息冲突分析扫描设计大规模集成电路高度时序化有效状态

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

开关级扫描设计方法研究

引用

计算机工程与科学 2001年第5期23卷 77-79页

作者：李少青国防科技大学计算机学院湖南长沙410073

本文针对门级扫描设计存在的面积、速度和测试时间问题 ,给出了一种开关级扫描插入方法 ,较好地解决了门级扫描设计面临的面积和速度问题 ,改进了测试时间问题。

关键词：可测试性扫描设计 CMOS电路开关级电路数字电路计算机

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

扫描设计中测试逻辑的研究

引用

微电子技术 1998年第3期26卷 1-5页

作者：肖忠辉邵寅亮王磊商松北京科技大学计算机系北京100083 北京中庆微数字设备有限公司

本文首先分析了时序元件的不可测因素，介绍了扫描设计前增加测试逻辑的设计方法。实践证明，该方法简便易行，故障覆盖率高达99％。

关键词：扫描设计可测性测试生成

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

扫描设计中测试逻辑的研究

引用

电子测量技术 1998年第3期21卷 1-4页

作者：肖忠辉邵寅亮王磊商松北京科技大学北京中庆微数字设备有限公司

文中首先分析了时序元件的不可测因素,提出了扫描设计前增加测试逻辑的设计方法。实践证明,该方法简便易行,故障覆盖率高达99％。

关键词：扫描设计可测性测试生成 VLSI

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

内窥镜结合CT扫描设计的外科模板行无瓣上颌窦底提升：6例报导

引用

中国口腔医学继续教育杂志 2006年第3期9卷 42-47页

作者： Wilfried Engelke Meercedes Capobianco 陈琰（译）林野（校）不详北京大学口腔医学院北京海淀区中关村南大街22号100081

目的上颌窦底提升是可以产生预期结果的常规操作．在有足够骨量的条件下推荐无瓣法种植．萎缩上颌骨的无瓣外科技术是内窥镜辅助上颌窦下侧基底入路窦底提升（SALSA）技术的改进。材料和方法依靠计算机CT扫描，用商家提供的设计程序... 详细信息

目的上颌窦底提升是可以产生预期结果的常规操作．在有足够骨量的条件下推荐无瓣法种植．萎缩上颌骨的无瓣外科技术是内窥镜辅助上颌窦下侧基底入路窦底提升（SALSA）技术的改进。材料和方法依靠计算机CT扫描，用商家提供的设计程序设计上颌窦环钻开窗和种植位点，根据治疗计划的数据制作外科模板。采取不翻瓣的SALSA技术进行窦底空间的扩增．将种植体在不翻瓣的情况下穿龈植入．并用内窥镜监控覆盖螺栓的放置。结果连续6例患者采用此法植入21枚种植体并同期完成上颌窦提升，平均提升高度为10．7mm（5．7～16．6mm），平均剩余骨高度5．1mm（1．9～12．1mm）。结论无瓣法上颌窦提升（FSA）可以显著减少外科创伤和术后不适，很容易被患者接受。FSA扩大了微创外科的范围．可有利于血管形成并减少牙槽骨吸收。

关键词：上颌窦底提升外科模板扫描设计 CT扫描内窥镜上颌窦提升报导 SALSA 牙槽骨吸收种植体

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

螺旋CT扫描设计与质量控制的临床研究

引用

医用放射技术杂志 2004年第3期 38-39页

作者：吴荣壮黄魏浙江省义乌市中医医院322000

CT诊断质量高低的最首要条件取决于前期CT扫描计划工作质量的高低，而CT扫描设计与质量控制会直接影响到CT诊断的准确性，但对多数轴位CT解剖细节的显示，．应在明确临床检查目的前提条件下，尽可能地通过我们的先期精确的CT扫描，最大... 详细信息

CT诊断质量高低的最首要条件取决于前期CT扫描计划工作质量的高低，而CT扫描设计与质量控制会直接影响到CT诊断的准确性，但对多数轴位CT解剖细节的显示，．应在明确临床检查目的前提条件下，尽可能地通过我们的先期精确的CT扫描，最大限度尽可能地将人体病理状态下的CT特征充分显示出来，为提高我们的诊断水平和工作质量打下良好的基础，因此，必须十分重视CT的扫描设计与质量控制工作。

关键词：螺旋CT 质量控制临床研究扫描设计

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

部分扫描设计技术与基于部分扫描设计的ATPG系统研究

部分扫描设计技术与基于部分扫描设计的ATPG系统研究

引用

第二届中国测试学术会议

作者：曾芷德曾洁玫国防科学技术大学计算机学院北京航天指挥控制中心

本文研究基于时序DRFM测度值引导的部分扫描设计比基于静态测度值引导的部分扫描方案可获得更高的性能价格比,可帮助用户基于ATPG系统选择性价比较优的扫描设计方案.

关键词：时序电路扫描设计 ATPG 故障诊断

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

开关级扫描设计方法研究

开关级扫描设计方法研究

引用

第九届全国容错计算学术大会

作者：李少青国防科技大学计算机学院(湖南长沙)

本文针对门级扫描设计存在的面积、速度和测试时间问题,给出了一种开关级扫描插入方法,较好地解决了门级扫描设计面临的面积和速度问题,改进了测试时间问题.该方法对门级扫描设计有指导意义.

关键词：可测试性扫描设计 CMOS电路

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

VLSI可测试性的三值扫描设计

引用

计算机工程 1986年第5期 34-38页

作者：胡谋上海铁道学院

本文提出一种在VLSI LSSD可测试性设计中采用特殊的三值时钟信号取代二值时钟信号的新方案。一方面电路保持了LSSD方法提高电路可测试性的优点。另一方面由于采用了三位逻辑技术,原来LSSD方法中所需要的一根模式选择信号线可以省去。鉴... 详细信息

本文提出一种在VLSI LSSD可测试性设计中采用特殊的三值时钟信号取代二值时钟信号的新方案。一方面电路保持了LSSD方法提高电路可测试性的优点。另一方面由于采用了三位逻辑技术,原来LSSD方法中所需要的一根模式选择信号线可以省去。鉴于在原LSSD方法中这根信号线需要连接至电路中的每一个触发器,因此它的省去对降低VLSI电路的连接复杂性及节省基片面积是极有意义的。文中详述了新方案的工作原理并给出了用CMOS电路实现该方案的电路设计,并将三值方案与传统的二值方案及带译码器的二值方案进行了比较。

关键词：可测试性 CMOS 扫描设计 SCK 多路转接器二值时钟信号 VLSI

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

建议与咨询留下您的常用邮箱和电话号码，以便我们向您反馈解决方案和替代方法

时间限定

文献类型

馆藏选择

核心期刊

语言

文献类型

帮助

文字说明：

检索规则说明：

检索范例：

分类表

所选分类

限定检索结果

文献类型

馆藏范围

日期分布

学科分类号

主题

机构

作者

语言

请选择保存的检索档案：

请选择收藏分类：

通借通还

建议与咨询 留下您的常用邮箱和电话号码，以便我们向您反馈解决方案和替代方法

时间限定

文献类型

馆藏选择

核心期刊

语言

文献类型

帮助

文字说明：

检索规则说明：

检索范例：

分类表

所选分类

限定检索结果

文献类型

馆藏范围

日期分布

学科分类号

主题

机构

作者

语言

请选择保存的检索档案： 新增检索档案 确定 取消

请选择收藏分类： 新增自定义分类 确定 取消

通借通还

建议与咨询留下您的常用邮箱和电话号码，以便我们向您反馈解决方案和替代方法

请选择保存的检索档案：

请选择收藏分类：