针对电子装备的测试性验证试验中,因电路集成度较高,故障模式可能由一个或多个失效机理引起,利用热失效分析等传统手段已无法有效对电子装备进行深层故障模式分析而导致试验样本可信度降低的问题,提出了基于失效物理(physics of failure...
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针对电子装备的测试性验证试验中,因电路集成度较高,故障模式可能由一个或多个失效机理引起,利用热失效分析等传统手段已无法有效对电子装备进行深层故障模式分析而导致试验样本可信度降低的问题,提出了基于失效物理(physics of failure,PoF)模型和故障树(fault tree analysis,FTA)相结合的改进故障模式分析方法。以某型电子装备电源模块中过压保护电路为实例,运用失效物理模型从器件级故障模式分析入手,计算出故障率和危害度,得到过压保护电路的FMECA结果,并以故障树分析方法为引导,根据底事件概率重要度与电子元器件危害度定义的相通性,分别将二者优先排序相互比较后验证FMECA结果的正确性,而后按照此类方法层层向上解析,最终得到电子装备正确性高的故障模式分析结果,有效提高了测试性验证试验样本的可信度。
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