检索结果-内蒙古大学图书馆

作者：朱启建湖南大学

学位级别：硕士

该文通过SPICE实验研究数字电路动态电流的特性,分析了数字电路的动态电流与电路逻辑状态转变之间的关系.根据实验结果,该文提出一种根据CMOS电路中加权逻辑跳变数来估计整个电路平均动态电流大小的方法.该方法在电路逻辑跳变与电路动... 详细信息

该文通过SPICE实验研究数字电路动态电流的特性,分析了数字电路的动态电流与电路逻辑状态转变之间的关系.根据实验结果,该文提出一种根据CMOS电路中加权逻辑跳变数来估计整个电路平均动态电流大小的方法.该方法在电路逻辑跳变与电路动态电流之间建立了一种简单直观的关系,使得动态电流测试产生能够在逻辑级上得以实现.在此基础上,该文对一种基于布尔过程的动态电流测试方法进行改进,用波形模拟器程序实现了该方法.并且针对一个实际电路中的部分故障用该方法产生了测试向量对.对于这些测试向量对,通过SPICE软件模拟了故障电路和无故障电路在测试向量对作用下的动态电流.模拟结果表明,故障电路和无故障电路的动态电流产生了一定的差别,通过比较两者的平均动态电流,这些测试向量对能有效的检测某些故障.实验结果验证了该文中动态电流测试产生方法的可行性和有效性.

关键词：电流测试动态电流波形模拟 SPICE模拟数字电路测试

来源：评论

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数字电路冗余故障检测方法研究及实验分析

数字电路冗余故障检测方法研究及实验分析

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作者：崔昌明湖南大学

学位级别：硕士

随着集成电路设计与加工技术的飞速发展,超大规模集成电路的测试成为一个越来越困难的问题,测试和可测试性设计的理论与技术已经成为VLSI领域中的一个重要研究方向,在理论和实践方面都有十分突出的价值。目前工业界普遍采用电压测试和... 详细信息

随着集成电路设计与加工技术的飞速发展,超大规模集成电路的测试成为一个越来越困难的问题,测试和可测试性设计的理论与技术已经成为VLSI领域中的一个重要研究方向,在理论和实践方面都有十分突出的价值。目前工业界普遍采用电压测试和稳态电流测试方法对数字电路进行测试,瞬态电流测试方法作为传统测试方法的补充手段,被证明能够检测传统测试方法无法检测的固定型故障——即冗余故障,这对于数字电路品质的提高具有积极的意义。本文首先提出一种基于瞬态电流测试方法的冗余故障测试产生算法,该算法利用扇出重汇聚结构当中从扇出点到重汇聚点的不同路径的延时差,在重汇聚点形成冒险,以激活故障并将故障效应进行传播。将该算法应用于ISCAS’85 benchmark电路,模拟结果表明,在理想条件下该算法能够检测所有冗余故障。接着,针对C432电路中的若干冗余故障,用该方法所产生的测试向量进行了Spice仿真。仿真结果表明,用该方法所产生的测试向量对能够使无故障电路和故障电路之间瞬态电流产生足够大的差异,从而达到检测故障的目的。最后,为了更加深入地研究瞬态电流测试方法,制成了供测试用的芯片,试图通过对其进行实际的故障测试,以检验本文提出的故障测试方法的可行性,并且指导后续研究工作的进行。由于一些客观原因,工作进展受到一定程度的影响,使得未能达到预期的目标。但是,这些工作能够指导下一步工作的顺利进行,为接下来的研究打下了良好的基础。

关键词：数字电路测试瞬态电流测试冗余故障扇出重汇聚

来源：评论

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基于ATE提高带载条件下输出电压测试精度的分析

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集成电路应用 2022年第1期39卷 134-135页

作者：刘开刘思嘉于望熊耀斌赵彦飞温景超石帅中国运载火箭技术研究院物资中心北京100076

阐述在使用自动测试系统(ATE)对部分数字电路进行输出带载能力测试时,因外部阻抗变化引起输出测量结果存在偏差的问题,介绍了一种通过使用ATE内部资源降低测试偏差的解决方案。

关键词：复验筛选数字电路测试 ATE 输出电压

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一种数字电路单粒子翻转试验系统设计

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微处理机 2022年第5期43卷 6-9页

作者：邢泽全中国电子科技集团公司第四十七研究所沈阳110000

随着航空航天事业高速发展,抗辐射元器件的使用需求日益旺盛,作为抗辐射性能评估方法之一的单粒子翻转试验愈发体现出重要性。针对单粒子翻转试验条件的设定与优化,设计一种单粒子翻转试验系统。系统可适应绝大部分数字电路的试验需求,... 详细信息

随着航空航天事业高速发展,抗辐射元器件的使用需求日益旺盛,作为抗辐射性能评估方法之一的单粒子翻转试验愈发体现出重要性。针对单粒子翻转试验条件的设定与优化,设计一种单粒子翻转试验系统。系统可适应绝大部分数字电路的试验需求,采用ARM与FPGA相结合的方式,使用独立设计的DB50分线装置,具备多路输入、多路输出、多路比较的功能。该试验系统驱动能力强、稳定性高,可更有效地进行各类数字电路单粒子翻转效应测试,有助于提高研究效率并缩短开发周期。

关键词：单粒子翻转抗辐射性能评价数字电路测试

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一种RTL传输故障模型

一种RTL传输故障模型

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第九届全国容错计算学术大会

作者：尹志刚闵应骅李晓维中国科学院计算技术研究所(北京)

本文提出了一种基于电路RTL行为描述的传输故障模型,以便于在电路的RTL描述级别上直接对其进行测试产生或可测试性分析.这种传输故障不仅可以反映一种门级通路段,而且它非常方便提取与组织.我们用一个RTL测试产生试验的数据表明,这种传... 详细信息

本文提出了一种基于电路RTL行为描述的传输故障模型,以便于在电路的RTL描述级别上直接对其进行测试产生或可测试性分析.这种传输故障不仅可以反映一种门级通路段,而且它非常方便提取与组织.我们用一个RTL测试产生试验的数据表明,这种传输故障模型是非常有效的.

关键词：故障模型硬件描述语言传输故障数字电路测试

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一种用于动态电流测试的故障模拟算法

一种用于动态电流测试的故障模拟算法

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第九届全国容错计算学术大会

作者：邝继顺朱启建张大方闵应骅湖南大学计算机系(长沙)

本文针对动态电流测试,提出了动态电流通路和动态电流通路故障的概念及基本逻辑门的故障模型.在波形模拟器的基础上给出了一个用于动态电流测试的故障模拟算法.实验表明,逻辑门输出端的上跳变与下跳变对动态电流的贡献不一样,用正常电... 详细信息

本文针对动态电流测试,提出了动态电流通路和动态电流通路故障的概念及基本逻辑门的故障模型.在波形模拟器的基础上给出了一个用于动态电流测试的故障模拟算法.实验表明,逻辑门输出端的上跳变与下跳变对动态电流的贡献不一样,用正常电路与故障电路在测试向量对作用下所产生的动态电流通路数的差异来度量故障的可测试性比以前的方法更加合理.

关键词：动态电流测试波形模拟器故障模拟通路故障数字电路测试

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降低CMOS电路测试功耗的方法比较

降低CMOS电路测试功耗的方法比较

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第九届全国容错计算学术大会

作者：骆祖莹闵应骅杨士元清华大学自动化系(北京) 中国科学院计算技术研究所(北京)

在注重VLSI芯片低功耗设计的今天,如何有效地降低CMOS电路测试功耗是一个有意义的耗三种依据来优化测试向量集内的排列顺序,达到降低测试功耗的目的.实验结果显示三种方法各有优缺点,但以前只有海明距离来降低测试功耗的作法,在降低功... 详细信息

在注重VLSI芯片低功耗设计的今天,如何有效地降低CMOS电路测试功耗是一个有意义的耗三种依据来优化测试向量集内的排列顺序,达到降低测试功耗的目的.实验结果显示三种方法各有优缺点,但以前只有海明距离来降低测试功耗的作法,在降低功耗有效性方面存在着比较大的局限性.

关键词：测试功耗海明距离数字电路测试

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LINK方式下测试方法研究

LINK方式下测试方法研究

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为了提高ＤＩＣ－８０３２测试系统的测试速率，该所对ＬＩＮＫ方式下的测试方法进行了研究。通过对其工作原理、硬件连接的分析和对调制时钟、选通时间以及测试图形生成中一些独特规律的了解，提出了一种扩大图形量而减少管脚损失的新... 详细信息

标准号: 93219217

为了提高ＤＩＣ－８０３２测试系统的测试速率，该所对ＬＩＮＫ方式下的测试方法进行了研究。通过对其工作原理、硬件连接的分析和对调制时钟、选通时间以及测试图形生成中一些独特规律的了解，提出了一种扩大图形量而减少管脚损失的新方法，并用于对高速ＣＭＯＳ数字电路Ｌ５４ＨＣＴ０８进行测试。这种测试方法的实际应用，使ＤＩＣ－８０３８测试的测试速率由原来的１０ＭＨｚ提高到２０ＭＨｚ，具有很好的实用价值。

关键词：测试方法 LinK方式下测试方法数字电路测试

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一种Flash芯片的在板测试系统及测试方法

一种Flash芯片的在板测试系统及测试方法

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作者：舒鹏飞郑昊天苏敏王晓明侯冠宇雷霆王璐璐张云刚 610036 四川省成都市金牛区营康西路496号

本发明公开了一种Flash芯片的在板测试系统及测试方法，涉及数字电路测试，其中测试系统包括：主机、待测产品、母板、USB‑JTAG转接器、电源；所述待测产品至少含有一片待测Flash芯片，且待测Flash芯片挂载在处理器上；所述母板上设置... 详细信息

标准号: CN118131026A

本发明公开了一种Flash芯片的在板测试系统及测试方法，涉及数字电路测试，其中测试系统包括：主机、待测产品、母板、USB‑JTAG转接器、电源；所述待测产品至少含有一片待测Flash芯片，且待测Flash芯片挂载在处理器上；所述母板上设置有电源连接器、待测产品接口；所述电源通过电源供电线与母板上的电源连接器连接；所述待测产品与母板上的待测产品接口连接；所述主机的USB接口通过USB‑JTAG转换器与待测产品的JTAG接口连接，主机上运行上位机软件；并以此提出了一种测试方法；本发明，可对已经装配到PCBA板卡上且存储了重要数据的Flash芯片开展自动测试，不会破坏Flash中已有的数据。

关键词：待测产品母板主机电源连接器电源转换器数字电路测试电源供电线上位机软件测试测试系统接口连接在板测试重要数据自动测试转接器处理器挂载装配存储

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一种结合PMS技术约简集成电路测试模式集的方法

一种结合PMS技术约简集成电路测试模式集的方法

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作者：周慧思张立明欧阳丹彤 130012 吉林省长春市前进大街2699号

本发明涉及一种用Partial MaxSAT求解器约简集成电路测试模式集的方法，属于数字电路测试技术领域。本方法首先利用Tetra MAX自动测试模式生成工具生成测试模式集合；然后对测试模式集合中的每个测试模式得到其可以检测到的故障集，通... 详细信息

标准号: CN110687433B

本发明涉及一种用Partial MaxSAT求解器约简集成电路测试模式集的方法，属于数字电路测试技术领域。本方法首先利用Tetra MAX自动测试模式生成工具生成测试模式集合；然后对测试模式集合中的每个测试模式得到其可以检测到的故障集，通过测试模式与可检测故障的对应关系矩阵生成PMS子句集合，将该集合作为输入，利用Partial Max SAT求解器得到一个极小测试模式集，从而缩减测试集规模。本发明降低了芯片在开发中的测试花销，实现了测试模式集的规模的静态压缩，提高了测试效率，能加快电子产品上市时间。

关键词：测试模式集合求解器集成电路测试数字电路测试自动测试模式测试效率工具生成关系矩阵静态压缩测试集故障集可检测约简电子产品芯片测试检测开发

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